[發(fā)明專利]一種新型的半導(dǎo)體器件的終端結(jié)構(gòu)及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910999623.7 | 申請(qǐng)日: | 2019-10-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110676309A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-01-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳譯;陳利;陳彬;陳劍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門芯一代集成電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/06 | 分類號(hào): | H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 361011 福建省廈門市中國(guó)(福建*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 寬溝道 表面擴(kuò)散 柵極氧化層 漏極電極 柵極電極 終端結(jié)構(gòu) 半導(dǎo)體器件 表面導(dǎo)電層 襯底上表面 有效地減少 襯底表面 二氧化硅 源極電極 上表面 襯底 多列 耐壓 制備 填充 橫跨 芯片 終端 | ||
本發(fā)明提供一種新型的半導(dǎo)體器件的終端結(jié)構(gòu)及其制備方法,包括n?襯底、P型擴(kuò)散層、p+型表面擴(kuò)散層、n+型表面擴(kuò)散層、p+層、柵極氧化層、源極電極、柵極電極、漏極電極和窄寬溝道;所述柵極氧化層橫跨在P型擴(kuò)散層和窄寬溝道之間,上表面引出柵極電極;所述窄寬溝道用二氧化硅進(jìn)行填充,并設(shè)置多列,相鄰的窄寬溝道間由n?襯底表面上形成的p+層進(jìn)行連接;所述位于n?襯底上表面另一側(cè)的n+型表面擴(kuò)散層表面引出漏極電極。本發(fā)明通過(guò)設(shè)置p+層(表面導(dǎo)電層),用窄寬溝道型的終端結(jié)構(gòu)來(lái)有效地減少芯片的終端面積,使最大電場(chǎng)強(qiáng)度降低,提高耐壓。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種新型的半導(dǎo)體器件的終端結(jié)構(gòu)及其制備方法。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)的功率器件的終端都是通過(guò)厚場(chǎng)板(field-plate)來(lái)實(shí)現(xiàn)。為了達(dá)到器件設(shè)計(jì)電壓的要求,特別是對(duì)于高壓器件,這種結(jié)構(gòu)往往會(huì)使終端結(jié)構(gòu)的面積占據(jù)芯片總面積的較大部分的比例。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述問(wèn)題,本發(fā)明的目的是提供一種能使最大電場(chǎng)強(qiáng)度降低,提高耐壓,縮減芯片終端面積的半導(dǎo)體器件的終端結(jié)構(gòu)及其制備方法。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:一種新型的半導(dǎo)體器件的終端結(jié)構(gòu),包括n-襯底(11)、P型擴(kuò)散層(12)、p+型表面擴(kuò)散層(13)、n+型表面擴(kuò)散層(14、15)、p+層(16)、柵極氧化層(20)、源極電極(21)、柵極電極(22)、漏極電極(23)和窄寬溝道(25);所述P型擴(kuò)散層(12)位于n-襯底(11)上表面一側(cè)的凹槽內(nèi),P型擴(kuò)散層(12)上表面左右分別為p+型表面擴(kuò)散層(13)和n+型表面擴(kuò)散層(14),二者上表面引出源極電極(21);所述柵極氧化層(20)橫跨在P型擴(kuò)散層(12)和窄寬溝道(25)之間,上表面引出柵極電極(22);所述窄寬溝道(25)用二氧化硅進(jìn)行填充,并設(shè)置多列,相鄰的窄寬溝道(25)間由n-襯底(11)表面上形成的p+層(16)進(jìn)行連接;所述位于n-襯底(11)上表面另一側(cè)的n+型表面擴(kuò)散層(15)表面引出漏極電極(23)。
進(jìn)一步,所述多列窄寬溝道(25)的制備方法步驟如下:
(a)提供一n-襯底(11),在所述n-襯底(11)表面中部形成導(dǎo)電p+層(16);
(b)在所述p+層(16)區(qū)域經(jīng)光刻、刻蝕形成多列溝道;
(c)經(jīng)光刻、刻蝕,在所述n-襯底(11)表面覆蓋一層熱氧絕緣層(31);
(d)淀積CVD堆積的絕緣層(32),覆蓋在所述熱氧絕緣層(31)表面,且填滿溝道;
(e)對(duì)所述CVD堆積的絕緣層(32)和熱氧絕緣層(31)采用化學(xué)機(jī)械拋光技術(shù),使其表面和所述p+層(16)上表面相平。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明通過(guò)設(shè)置p+層(表面導(dǎo)電層),用窄寬溝道型的終端結(jié)構(gòu)來(lái)有效地減少芯片的終端面積,使最大電場(chǎng)強(qiáng)度降低,提高耐壓。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明終端結(jié)構(gòu)圖;圖2為傳統(tǒng)的場(chǎng)板結(jié)構(gòu)的終端以及終端的電場(chǎng)分布示意圖;圖3為本發(fā)明場(chǎng)板結(jié)構(gòu)的終端以及終端的電場(chǎng)分布示意圖;圖4為本發(fā)明多列窄寬溝道的工藝流程圖。
圖中:n-襯底(11),P型擴(kuò)散層(12),p+型表面擴(kuò)散層(13),n+型表面擴(kuò)散層(14、15),p+層(16),柵極氧化層(20),源極電極(21),柵極電極(22),漏極電極(23)和窄寬溝道(25),熱氧絕緣層(31),CVD堆積的絕緣層(32),厚場(chǎng)板結(jié)構(gòu)絕緣層(94)。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的具體實(shí)施方式。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廈門芯一代集成電路有限公司,未經(jīng)廈門芯一代集成電路有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910999623.7/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:肖特基二極管的制備方法
- 下一篇:高壓垂直功率部件
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





