[發明專利]一種微控制器測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 201910972358.3
• 申請日: 2019-10-14
• 公開（公告）號: CN110703729B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 王軍;王翔;劉吉平
• 申請（專利權）人: 深圳市航順芯片技術研發有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 王永文

本發明公開了一種微控制器測試系統及其測試方法,所述微控制器測試系統與微控制器連接,包括開關模塊、儲能模塊和顯示模塊；所述微控制器交替輸出第一控制信號和第二控制信號至所述開關模塊，并持續輸出指示信號至所述顯示模塊；所述開關模塊根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷；當所述開關模塊導通時，所述儲能模塊存儲電能，當所述開關模塊關斷時，所述儲能模塊為所述微控制器提供電能；所述顯示模塊顯示所述指示信號,通過簡單的電路結構為所述微控制器提供反復跌落的電壓以完成測試，且能夠直觀的測量出微控制器對應的復位門限電壓，降低測試成本，提高產品的生產效率。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，特別涉及一種微控制器測試系統及其測試方法。

背景技術

對于微控制器芯片產品需要通過兩項基本測試，一是在多次反復上電過程中，微控制器芯片必須能夠正常上電運行；二是在產品運行過程中，會有不同負載打開或者關閉，引起電源的紋波和跌落，在這種情況下，微控制器芯片也必須能夠維持正常的運行；測試的目的就是要在發現產品是否在長時間、電壓反復跌落測試中，微控制器的程序是否有跑飛的情況。

而單片機、微控制器、處理器芯片等，都是超大規模數模混合集成電路，其內部結構復雜，由眾多的電路單元組成，工藝不同，復位電路設計不合理，復位門限設置不合理，都可能導致不能通過以上兩項基本測試。

現有的測試方法中，通過可編程電源設備為所述待測芯片提供不同電壓跌落程度的電壓信號，測試芯片是否可以滿足前面以上兩項要求，但是該種設備可編程電源設備成本高且測試過程繁瑣。

因而現有技術還有待改進和提高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種微控制器測試系統及其測試方法，通過簡單的電路結構為所述微控制器提供反復跌落的電壓以完成測試，且能夠直觀的測量出微控制器對應的復位門限電壓，降低測試成本，提高產品的生產效率。

為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案：

一種微控制器測試系統，其與微控制器連接，包括開關模塊、儲能模塊和顯示模塊；所述微控制器交替輸出第一控制信號和第二控制信號至所述開關模塊，并持續輸出指示信號至所述顯示模塊；所述開關模塊根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷；當所述開關模塊導通時，所述儲能模塊存儲電能，當所述開關模塊關斷時，所述儲能模塊為所述微控制器提供電能；所述顯示模塊顯示所述指示信號。

所述的微控制器測試系統中，所述開關模塊包括啟動單元和開關單元；所述啟動單元連接所述開關單元、外接電源和所述微控制器，所述開關單元還連接所述微控制器；所述啟動單元為所述開關單元提供啟動電壓；所述開關單元根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷。

所述的微控制器測試系統中，所述開關模塊還包括保護單元，所述保護單元連接所述開關單元、所述啟動單元和所述微控制器；所述保護單元用于保護所述開關單元。

所述的微控制器測試系統中，所述啟動單元包括第一電阻，所述第一電阻的一端連接外接電源，所述第一電阻的另一端連接所述微控制器和所述保護單元。

所述的微控制器測試系統中，所述開關單元包括三極管、MOS管和第二電阻；所述三極管的基極連接所述保護單元，所述三極管的發射極接地，所述三極管的集電極連接所述第二電阻的一端和所述MOS管的柵極；所述第二電阻的另一端連接所述外接電源和所述MOS管的源極，所述MOS管的漏極連接所述儲能模塊。

所述的微控制器測試系統中，所述保護單元包括第三電阻，所述第三電阻的一端連接所述第一電阻的另一端和所述微控制器，所述第三電阻的另一端連接所述三極管的基極。

所述的微控制器測試系統中，所述儲能模塊包括第一電容和第二電容；所述第一電容和所述第二電容的一端均接地，所述第一電容的另一端和所述第二電容的另一端均連接所述MOS管的漏極和所述微控制器。