[發明專利]一種微控制器測試系統及其測試方法

有效

• 申請號: 201910972358.3
• 申請日: 2019-10-14
• 公開（公告）號: CN110703729B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 王軍;王翔;劉吉平
• 申請（專利權）人: 深圳市航順芯片技術研發有限公司
• 主分類號: G05B23/02
• 分類號: G05B23/02
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙) 44268
• 代理人: 王永文

1.一種微控制器測試系統，其特征在于，其與微控制器連接，包括開關模塊、儲能模塊和顯示模塊；所述微控制器交替輸出第一控制信號和第二控制信號至所述開關模塊，并持續輸出指示信號至所述顯示模塊；所述開關模塊根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷；當所述開關模塊導通時，所述儲能模塊存儲電能，當所述開關模塊關斷時，所述儲能模塊為所述微控制器提供電能；所述顯示模塊顯示所述指示信號；所述開關模塊包括啟動單元和開關單元；所述開關模塊還包括保護單元，所述保護單元連接所述開關單元、所述啟動單元和所述微控制器；所述保護單元用于保護所述開關單元；所述啟動單元連接所述開關單元、外接電源和所述微控制器，所述開關單元還連接所述微控制器；所述啟動單元為所述開關單元提供啟動電壓；所述開關單元根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷；所述開關單元包括三極管、MOS管和第二電阻；所述三極管的基極連接所述保護單元，所述三極管的發射極接地，所述三極管的集電極連接所述第二電阻的一端和所述MOS管的柵極；所述第二電阻的另一端連接所述外接電源和所述MOS管的源極，所述MOS管的漏極連接所述儲能模塊；所述啟動單元包括第一電阻，所述第一電阻的一端連接外接電源，所述第一電阻的另一端連接所述微控制器和所述保護單元。

2.根據權利要求1所述的微控制器測試系統，其特征在于，所述保護單元包括第三電阻，所述第三電阻的一端連接所述第一電阻的另一端和所述微控制器，所述第三電阻的另一端連接所述三極管的基極。

3.根據權利要求1所述的微控制器測試系統，其特征在于，所述儲能模塊包括第一電容和第二電容；所述第一電容和所述第二電容的一端均接地，所述第一電容的另一端和所述第二電容的另一端均連接所述MOS管的漏極和所述微控制器。

4.根據權利要求1所述的微控制器測試系統，其特征在于，所述MOS管為P溝道MOS管。

5.一種基于如權利要求1-4任意一項所述的微控制器測試系統的測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

所述微控制器交替輸出第一控制信號和第二控制信號至所述開關模塊，并持續輸出指示信號至所述顯示模塊；

所述開關模塊根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷；其中，所述開關模塊包括啟動單元和開關單元；

當所述開關模塊導通時，所述儲能模塊存儲電能，當所述開關模塊關斷時，所述儲能模塊為所述微控制器提供電能；

所述顯示模塊顯示所述指示信號。

6.根據權利要求5所述的微控制器測試系統的測試方法，其特征在于，所述的開關模塊根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷的步驟包括：

所述啟動單元為所述開關單元提供啟動電壓；

所述開關單元根據所述第一控制信號導通，并根據所述第二控制信號關斷。