[發明專利]一次性可編程(OTP)存儲器設備和測試OTP存儲器設備的方法

在審

• 申請號: 201910966830.2
• 申請日: 2019-10-11
• 公開（公告）號: CN111402946A
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發明（設計）人: 河旻烈
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11C29/18
• 分類號: G11C29/18;G11C29/44
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 李敬文

提供了一次性可編程(OTP)存儲器設備及測試OTP存儲器設備的方法，OTP存儲器設備包括：包括OTP單元陣列和虛設單元塊的單元陣列電路，OTP單元陣列包括耦合到位線、讀取字線和電壓字線的OTP存儲單元，并且所述虛設單元塊耦合到讀取字線和電壓字線；行解碼器，通過讀取字線和電壓字線耦合到虛設單元塊和OTP單元陣列；通過位線耦合到OTP單元陣列的列解碼器；耦合到列解碼器的寫入感測電路；以及基于命令和地址控制單元陣列電路、行解碼器和寫入感測電路的控制電路，單元陣列電路還包括隔離電路，隔離電路響應于測試模式下的控制代碼，切斷從行解碼器傳輸到OTP單元陣列的第一和第二電壓。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2019年1月3日在韓國知識產權局提交的韓國專利申請No.10-2019-0000608的優先權，并在此通過引用完整地并入其公開內容。

技術領域

本發明構思的示例性實施例涉及一次性可編程(OTP)存儲器設備和測試OTP存儲器設備的方法。

背景技術

在一次性可編程(OTP)存儲器設備中，可以使用多個OTP單元來存儲數據。例如，每一個OTP單元可以具有未編程狀態和編程狀態。OTP單元中編程的數據可以在沒有電力的情況下保留。在這種情況下，OTP單元可以像非易失性存儲器那樣工作。已經第一次編程的OTP單元不能被第二次編程。換言之，已編程的OTP單元在狀態上是不可逆的。在一些示例中，OTP單元可以包括熔絲或反熔絲，并且可以被電編程。OTP存儲器用于電子領域，在各種應用中永久存儲信息。

與可以多次再編程的存儲器的測試相比，測試OTP存儲器的效率低。這是因為OTP存儲器的單元不能被重新編程。

發明內容

根據本發明構思的示例性實施例，一種一次性可編程(OTP)存儲器設備包括：單元陣列電路，包括OTP單元陣列和虛設單元塊，其中OTP單元陣列包括耦合到多條位線、多條讀取字線和多條電壓字線的多個OTP存儲單元，并且虛設單元塊耦合到多條讀取字線和多條電壓字線；行解碼器，通過多條讀取字線和多條電壓字線耦合到虛設單元塊和OTP單元陣列；列解碼器，通過多條位線耦合到OTP單元陣列；寫入感測電路，耦合到列解碼器；以及控制電路，被配置為基于命令和地址來控制單元陣列電路、行解碼器和寫入感測電路，其中所述單元陣列電路還包括隔離電路，所述隔離電路響應于第一測試模式下的控制代碼，切斷從行解碼器傳輸到OTP單元陣列的第一電壓和第二電壓。

根據本發明構思的示例性實施例，提供了一種測試OTP存儲器設備的方法，OTP存儲器設備包括OTP單元陣列、虛設單元塊和隔離電路，所述OTP單元陣列包括耦合到多條位線、多條讀取字線和多條電壓字線的多個OTP存儲單元，所述虛設單元塊耦合到多條讀取字線和多條電壓字線，以及所述隔離電路耦合到OTP單元陣列和虛設單元塊。在該方法中，在第一測試模式下由隔離電路切斷虛設單元塊和OTP單元陣列的連接，從讀取字線和電壓字線中選擇讀取字線和電壓字線對，響應于第一測試啟用信號由耦合到虛設單元塊的測試位線信號發生器生成第一測試位線信號和第二測試位線信號，并且基于通過位線輸出的測試結果圖案與預期圖案的比較，確定行解碼器和列解碼器是否有缺陷。行解碼器耦合到多條讀取字線和多條電壓字線，并且列解碼器耦合到多條位線。

根據本發明構思的示例性實施例，提供了一種測試OTP存儲器設備的方法，OTP存儲器設備包括：OTP單元陣列，所述OTP單元陣列包括耦合到多條位線、多條讀取字線和多條電壓字線的多個OTP存儲單元；耦合到多條讀取字線和多條電壓字線的虛設單元塊；以及耦合到OTP單元陣列和虛設單元塊的隔離電路。在該方法中，在第一測試模式下在通過隔離電路切斷虛設單元塊和OTP單元陣列的連接之后，對耦合到多條讀取字線和多條電壓字線的行解碼器以及耦合到多條位線的列解碼器執行第一測試，如果在第一測試中確定行解碼器和列解碼器為沒有缺陷，則在第二測試模式下對OTP單元陣列執行第二測試，并且基于第二測試結果，確定OTP存儲器設備是否有缺陷。