[發(fā)明專利]一種隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)

有效

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• 申請日: 2019-09-30
• 公開（公告）號: CN110658201B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馬達(dá);張延凱
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州精瀨光電有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發(fā)明涉及鋰電池的加工生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)，包括圖像獲取裝置及檢測光源，所述檢測光源位于待檢測的隔膜的正下方，包括第一光源和第二光源，所述第一光源與所述第二光源被配置為可依次向待檢測的隔膜發(fā)出第一光線和第二光線，且所述第一光線與所述第二光線照射于待檢測的隔膜的相同位置；所述圖像獲取裝置被配置為分別采集所述第一光源與所述第二光源依次向待檢測的隔膜發(fā)出第一光線與第二光線時待檢測的隔膜的外觀圖像。通過設(shè)置第一光源與第二光源，并利用圖像獲取裝置在第一光源的照射下對隔膜取像、在第二光源的照射下對隔膜取像，對同一位置取的兩組圖像進(jìn)行比對，根據(jù)圖像的差別，識別出孔洞、油污的缺陷。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及鋰電池的加工生產(chǎn)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)。

背景技術(shù)

隨著手機(jī)、平板電腦、電動汽車等產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，鋰離子電池也獲得了廣泛的應(yīng)用。鋰離子電池由正極、負(fù)極、隔膜(透明膜)、電解液組成，正負(fù)極浸潤在電解液中，鋰離子以電解液為介質(zhì)在正負(fù)極之間運(yùn)動，實(shí)現(xiàn)電池的充放電。為避免正負(fù)極通過電解液發(fā)生短路，需要用隔膜將正負(fù)極分隔。隔膜是一種經(jīng)特殊成型的高分子薄膜，薄膜有微孔結(jié)構(gòu)，可以讓鋰離子自由通過，而電子不能通過。

隔膜作為鋰離子電池的核心材料，它性能的好壞直接決定電池的界面結(jié)構(gòu)、內(nèi)阻，直接影響電池的電性能。隔膜在生產(chǎn)過程中，由于生產(chǎn)環(huán)境、濺射靶材的材料及設(shè)備、人為等原因，導(dǎo)致隔膜存在瑕疵。因此，在投入使用之前，需要對隔膜進(jìn)行檢測。

針對這些瑕疵的檢測，目前主要有人工和自動光學(xué)檢測兩種。人工檢測主要是靠肉眼觀察，這種全憑肉眼檢測的方式存在很大誤差跟誤判，不能及時準(zhǔn)確地判斷出瑕疵，費(fèi)時費(fèi)力；自動光學(xué)檢測是通過線掃相機(jī)加背光源的方式，采集隔膜的外觀圖像，由圖像處理設(shè)備進(jìn)行分析，得出是否存在瑕疵，自動光學(xué)檢測高效準(zhǔn)確。

現(xiàn)有的自動光學(xué)檢測采用的是單一背光源，無法檢測出隔膜上的孔洞、油污缺陷的檢測，因?yàn)橛臀邸⒖锥丛趩我槐彻庠吹恼丈湎拢谙鄼C(jī)下呈現(xiàn)的圖像是相同的，無法區(qū)別出孔洞、油污。

有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計(jì)人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價值。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提出一種隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)，能夠檢測出隔膜上的孔洞、油污等缺陷。

為達(dá)此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)，包括圖像獲取裝置及檢測光源，其中：

所述檢測光源位于待檢測的隔膜的正下方，包括第一光源和第二光源，所述第一光源與所述第二光源被配置為可依次向所述待檢測的隔膜發(fā)出第一光線和第二光線，且所述第一光線與所述第二光線照射于所述待檢測的隔膜的相同位置；

所述圖像獲取裝置被配置為分別采集所述第一光源與所述第二光源依次向所述待檢測的隔膜發(fā)出第一光線與第二光線時所述待檢測的隔膜的外觀圖像。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述第一光線與所述第二光線的照射的夾角范圍為5°至45°。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述第一光線的方向垂直所述待檢測的隔膜。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述第一光源與所述第二光源依次發(fā)光的時間間隔為20微秒至50微秒。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述第一光源每次發(fā)光持續(xù)時間為大于20微秒。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述圖像獲取裝置位于所述待檢測的隔膜的上方。

作為上述的隔膜的光學(xué)檢測機(jī)構(gòu)的一種優(yōu)選方案，所述圖像獲取裝置包括共線設(shè)置的兩組相機(jī)機(jī)構(gòu)，且兩組所述相機(jī)機(jī)構(gòu)的線掃輻射范圍能夠交叉。