[發明專利]一種隔膜的光學檢測機構

有效

• 申請號: 201910944381.1
• 申請日: 2019-09-30
• 公開（公告）號: CN110658201B
• 公開（公告）日: 2021-06-22
• 發明（設計）人: 馬達;張延凱
• 申請（專利權）人: 蘇州精瀨光電有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

1.一種隔膜的光學檢測機構，其特征在于，包括支架(100)及設置于所述支架(100)的圖像獲取裝置(200)及檢測光源(300)，其中：

所述檢測光源(300)位于待檢測的隔膜(400)的正下方，包括第一光源(303)和第二光源(304)，所述第一光源(303)與所述第二光源(304)被配置為可依次向所述待檢測的隔膜(400)發出第一光線和第二光線，且所述第一光線與所述第二光線照射于所述待檢測的隔膜(400)的相同位置；

所述圖像獲取裝置(200)被配置為分別采集所述第一光源(303)與所述第二光源(304)依次向所述待檢測的隔膜(400)發出第一光線與第二光線時所述待檢測的隔膜(400)的外觀圖像；

所述圖像獲取裝置(200)包括共線設置的兩組相機機構(210)，且兩組所述相機機構(210)的線掃輻射范圍能夠交叉；所述相機機構(210)的拍攝角度能夠調節；所述相機機構(210)包括固定架(211)及線掃相機(212)，所述固定架(211)包括與所述支架(100)連接的第一支座(2111)、與所述第一支座(2111)轉動連接的第二支座(2112)及與所述第二支座(2112)轉動連接的第三支座(2113)，所述線掃相機(212)與所述第三支座(2113)轉動連接；所述第二支座(2112)能夠繞第一軸線相對所述第一支座(2111)轉動；所述第三支座(2113)能夠繞第二軸線相對所述第二支座(2112)轉動；所述線掃相機(212)能夠繞第三軸線相對所述第三支座(2113)轉動；所述第二軸線垂直于所述第一軸線，所述第三軸線垂直于所述第二軸線和所述第一軸線。

2.根據權利要求1所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述第一光線與所述第二光線的照射的夾角范圍為5°至45°。

3.根據權利要求2所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述第一光線的方向垂直所述待檢測的隔膜(400)。

4.根據權利要求1所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述第一光源(303)與所述第二光源(304)依次發光的時間間隔為20微秒至50微秒。

5.根據權利要求4所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述第一光源(303)每次發光持續時間為大于20微秒。

6.根據權利要求1所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述圖像獲取裝置(200)位于所述待檢測的隔膜(400)的上方。

7.根據權利要求1所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述第一光源(303)和/或所述第二光源(304)的光照角度能夠調節。

8.根據權利要求1至7任一項所述的隔膜的光學檢測機構，其特征在于，所述檢測光源(300)相對所述待檢測的隔膜(400)的距離能夠調節。