[發(fā)明專利]高濃度試樣識別方法、裝置及檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910933947.0 | 申請日: | 2019-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN110542661B | 公開(公告)日: | 2022-03-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王準(zhǔn);趙清楠 | 申請(專利權(quán))人: | 邁克醫(yī)療電子有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/82;G01N33/86 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 611731 四川*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 濃度 試樣 識別 方法 裝置 檢測 系統(tǒng) | ||
1.一種高濃度試樣識別方法,其特征在于,包括以下步驟:
對試樣的原始信號反應(yīng)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,得到吸光度變化曲線;
根據(jù)預(yù)設(shè)的第一起始時(shí)間和第一結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上對應(yīng)的第一曲線段,根據(jù)預(yù)設(shè)的第二起始時(shí)間和第二結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上的與所述第一曲線段對應(yīng)的數(shù)據(jù)序列長度相等的第二曲線段;
通過所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列和第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差/之商計(jì)算能夠反映所述第一曲線段與所述第二曲線段之間的彎曲程度差異的第一參數(shù)值;
所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差的方差/標(biāo)準(zhǔn)差,或
所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之商的方差/標(biāo)準(zhǔn)差;
若所述第一參數(shù)值大于判定閾值R,則判定所述試樣為高濃度試樣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于:所述步驟“對試樣的原始信號反應(yīng)曲線進(jìn)行處理,得到吸光度變化曲線”之后包括步驟:
根據(jù)所述吸光度變化曲線確定所述試樣穩(wěn)定反應(yīng)的起始點(diǎn)A和所述試樣反應(yīng)結(jié)束的終點(diǎn)B;
采用預(yù)定的函數(shù)模型,對所述起始點(diǎn)A與所述終點(diǎn)B之間的數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,得到新的吸光度變化曲線。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于:所述第一起始時(shí)間為所述試樣穩(wěn)定反應(yīng)的起始點(diǎn)A對應(yīng)的時(shí)間點(diǎn),所述第二結(jié)束時(shí)間為所述試樣反應(yīng)結(jié)束的終點(diǎn)B對應(yīng)的時(shí)間點(diǎn)。
4.一種高濃度試樣識別裝置,其特征在于,包括:
數(shù)據(jù)處理模塊,用于對試樣的原始信號反應(yīng)曲線進(jìn)行處理,得到吸光度變化曲線;
曲線段截取模塊,用于根據(jù)預(yù)設(shè)的第一起始時(shí)間和第一結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上對應(yīng)的第一曲線段,根據(jù)預(yù)設(shè)的第二起始時(shí)間和第二結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上的與所述第一曲線段對應(yīng)的數(shù)據(jù)序列長度相等的第二曲線段;
計(jì)算模塊,用于通過所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列和第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差/之商計(jì)算能夠反映所述第一曲線段與所述第二曲線段之間的彎曲程度差異的第一參數(shù)值;所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差的方差/標(biāo)準(zhǔn)差,或,所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之商的方差/標(biāo)準(zhǔn)差;
比較判定模塊,用于通過比較所述第一參數(shù)值與判定閾值R,判斷所述試樣是否為高濃度試樣;
所述比較判定模塊在所述第一參數(shù)值大于所述判定閾值R時(shí),判定所述試樣為高濃度試樣。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于:還包括
穩(wěn)定反應(yīng)時(shí)間確定模塊,用于根據(jù)所述吸光度變化曲線確定所述試樣穩(wěn)定反應(yīng)的起始點(diǎn)A和所述試樣反應(yīng)結(jié)束的終點(diǎn)B;
擬合模塊,用于采用預(yù)定的函數(shù)模型,對所述起始點(diǎn)A與所述終點(diǎn)B之間的數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,得到新的吸光度變化曲線。
6.一種檢測系統(tǒng),包括用于對反應(yīng)杯照射的光源子系統(tǒng)、用于接收透過所述反應(yīng)杯的透射光的接收器以及與所述接收器相連的處理器,其特征在于,在進(jìn)行試樣反應(yīng)吸光度檢測時(shí),所述處理器執(zhí)行以下操作:
對試樣的原始信號反應(yīng)曲線進(jìn)行處理,得到吸光度變化曲線;
根據(jù)預(yù)設(shè)的第一起始時(shí)間和第一結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上對應(yīng)的第一曲線段,根據(jù)預(yù)設(shè)的第二起始時(shí)間和第二結(jié)束時(shí)間截取所述吸光度變化曲線上的與所述第一曲線段對應(yīng)的數(shù)據(jù)序列長度相等的第二曲線段;
通過所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列和第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差/之商計(jì)算能夠反映所述第一曲線段與所述第二曲線段之間的彎曲程度差異的第一參數(shù)值;
所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之差的方差/標(biāo)準(zhǔn)差,或
所述第一參數(shù)值為所述第二曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列與所述第一曲線段對應(yīng)的吸光度數(shù)據(jù)序列之商的方差/標(biāo)準(zhǔn)差;
若所述第一參數(shù)值大于判定閾值R,則判定所述試樣為高濃度試樣。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





