[發(fā)明專利]一種電容標定效果的評估方法及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910926277.X | 申請日: | 2019-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN112577403B | 公開(公告)日: | 2023-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陸淵;余錦望;封雨鑫;陳焱;高云峰 | 申請(專利權(quán))人: | 大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司;深圳市大族智能控制科技有限公司 |
| 主分類號: | G01B7/02 | 分類號: | G01B7/02 |
| 代理公司: | 深圳市世聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44385 | 代理人: | 汪琳琳 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電容 標定 效果 評估 方法 系統(tǒng) | ||
本申請實施例屬于激光切割控制技術(shù)領(lǐng)域,涉及一種電容標定效果的評估方法及系統(tǒng)。本申請?zhí)峁┑募夹g(shù)方案包括如下步驟:對標定點進行采樣,獲取標定點距離和頻率的采樣數(shù)據(jù);對采樣數(shù)據(jù)進行處理,獲取采樣穩(wěn)定度的評估值;構(gòu)建標定點距離和頻率曲線,獲取曲線平滑度的評估值;根據(jù)所述采樣穩(wěn)定度的評估值和曲線平滑度的評估值輸出標定效果。根據(jù)采樣穩(wěn)定度的評估值和曲線平滑度的評估值輸出標定效果,為操作人員提供電容標定過程所輸出的標定效果的反饋,能夠直觀地展示標定效果,可根據(jù)最終輸出的標定效果確定是否需要重新標定或者檢查接線以及機床電磁干擾情況,便于做后續(xù)的決定與操作。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及激光切割控制技術(shù)領(lǐng)域,更具體的說,特別涉及一種電容標定效果的評估方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在激光切割數(shù)控機床中,通常會用到電容傳感器,用于檢測切割噴嘴到板材工件的距離,使用電容傳感器中重要的一步是對其進行電容標定,即記錄一系列距離對應(yīng)的電容值,傳統(tǒng)的電容標定結(jié)束后只給出標定是否完成的信號,然而在標定過程中可能存在干擾,如板材有移動、接地不良、機床電磁干擾大等問題,導(dǎo)致電容標定存在異常,此時若開啟Z軸的隨動控制,則容易造成異常運動。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種電容標定效果的評估方法及系統(tǒng),根據(jù)采樣穩(wěn)定度的評估值和曲線平滑度的評估值輸出標定效果,為操作人員提供電容標定過程所輸出的標定效果的反饋,能夠直觀地展示標定效果,可根據(jù)最終輸出的標定效果確定是否需要重新標定或者檢查接線以及機床電磁干擾情況,便于做后續(xù)的決定與操作。
為了解決以上提出的問題,本發(fā)明實施例提供了如下所述的技術(shù)方案:
一種電容標定效果的評估方法,包括如下步驟:
對標定點進行采樣,獲取標定點距離和頻率的采樣數(shù)據(jù);
對采樣數(shù)據(jù)進行處理,獲取采樣穩(wěn)定度的評估值;
構(gòu)建標定點距離和頻率曲線,獲取曲線平滑度的評估值;
根據(jù)所述采樣穩(wěn)定度的評估值和曲線平滑度的評估值輸出標定效果。
進一步地,所述對標定點進行采樣,獲取標定點距離和頻率的采樣數(shù)據(jù)的步驟包括:
識別到標定請求后,開啟捕獲程序;
對標定點進行捕獲,獲取標定點的采樣數(shù)據(jù),并將采樣數(shù)據(jù)存入臨時數(shù)組中;
判斷臨時數(shù)組中所儲存的采樣數(shù)據(jù)的數(shù)量是否達到臨時數(shù)組所設(shè)定的存儲上限,所述存儲上限為標定點的數(shù)量;
若未達到存儲上限,則返回所述識別到標定請求后,開啟捕獲程序的步驟,進行下一標定點的捕獲;
若達到存儲上限,對臨時數(shù)組中的采樣數(shù)據(jù)進行標準差運算,得到標定點對應(yīng)的標準差值,并將標準差值儲存于標準差數(shù)組中。
進一步地,所述對采樣數(shù)據(jù)進行處理,獲取采樣穩(wěn)定度的評估值的步驟包括:
對標準差數(shù)組中的標準差值進行評估,獲取評估等級,其中,每個評估等級設(shè)置有不同的權(quán)重;
根據(jù)標準差值的評估等級進行加權(quán)求和,獲取采樣穩(wěn)定度的評估值。
進一步地,所述構(gòu)建標定點距離和頻率曲線,獲取曲線平滑度的評估值的步驟包括:
獲取相鄰標定點所構(gòu)成的斜率;
獲取每段斜率之間的差值;
對斜率數(shù)組中的斜率進行單調(diào)性檢測,獲取斜率單調(diào)性的評估值,其中,每個斜率單調(diào)性的評估值設(shè)置有不同的權(quán)重;
對斜率差值數(shù)組中的斜率差值進行單調(diào)性檢測,獲取斜率差值單調(diào)性的評估值,其中,每個斜率差值單調(diào)性的評估值設(shè)置有不同的權(quán)重;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司;深圳市大族智能控制科技有限公司,未經(jīng)大族激光科技產(chǎn)業(yè)集團股份有限公司;深圳市大族智能控制科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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