[發明專利]電子部件測試用分選機

有效

• 申請號: 201910925100.8
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN110653173B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 盧種基;尹廣熙;李斗吉
• 申請（專利權）人: 泰克元有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G01R31/00
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

本發明涉及電子部件測試用分選機。本發明的電子部件測試用分選機包括：加載裝置，用于將待測試的多個電子部件從供給用托盤加載至測試托盤；連接裝置，用于使裝載于上述測試托盤的多個電子部件與測試器電連接；卸載裝置，用于從測試托盤卸載完成測試的多個電子部件并使電子部件向回收用托盤移動；以及緩沖裝置，具有能夠在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動的緩沖臺。而且，根據需要，緩沖裝置使上述緩沖臺在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動，從而使上述緩沖臺靈活應用于借助上述加載裝置進行的加載工作和借助上述卸載裝置進行的卸載工作。

(本申請是申請日為2017年2月24日、申請號為201710102266.0的中國發明專利申請的分案申請。)

技術領域

本發明涉及用于測試被生產的電子部件的電特性的分選機(handler)。尤其，涉及在分選機進行的電子部件的移動技術。

背景技術

半導體元件或模塊存儲器等多個電子部件在生產后，經過電特性測試后發貨。此時，需要使用將待測試電子部件與測試器電連接的分選機。

一般而言，分選機包括測試托盤、第一堆垛機、加載裝置、連接裝置、卸載裝置及第二堆垛機。

測試托盤沿著經過加載位置、測試位置以及卸載位置后再連接至加載位置的循環路徑而循環。

第一堆垛機用于收納裝載多個有待測試的電子部件的多個供給用托盤。通過依次將收納于這種第一堆垛機的供給用托盤供給至供給位置，使借助加載裝置的加載工作順利進行。

加載裝置用于將多個待測試的電子部件從供給用托盤加載至位于加載位置的測試托盤。

連接裝置在當借助加載裝置使對多個電子部件完成加載的測試托盤到達測試位置時，使裝載于測試托盤的多個電子部件與測試器電連接。

卸載裝置用于在測試位置完成對被裝載的多個電子部件的測試后，從到達卸載位置的測試托盤卸載多個電子部件，根據測試結果進行分類并向回收用托盤移動。

第二堆垛機用于收納對完成測試的多個電子部件進行回收的的多個回收用托盤。這種多個回收用托盤通過依次供給至回收位置，使借助卸載裝置的卸載工作順利進行。

但是，如韓國公開專利第10—2009—0063542號，完成一次測試后分類為再測試的多個電子部件，重新供給至分選機需要經過二次再測試(Retest)過程。此時，裝載于回收用托盤的分類為再測試的多個電子部件由作業者手動供給至分選機。

因此，一次測試與二次再測試之間的分選機的運轉被終止，這使分選機的運行率下降。

另一方面，如韓國公開專利第10—2009—0008062號等，為幫助借助加載裝置的適當的加載工作，在分選機中設置緩沖臺。

一般而言，緩沖臺借助位于測試器的測試插座的關閉等，可臨時裝載在加載時有必要臨時去除的電子部件。由此，加載工作變得順利，加載速度得到提高。其中，關閉為熄滅(OUT)測試插座，對于特定測試插座是否為關閉的對象，可根據設計者的意圖改變。例如，在特定測試插座出現設定次數以上的非正常判斷的情況下，可設定為關閉該測試插座。而且，在具有關閉的測試插座的情況下，面對測試托盤的相應測試插座的位置上不裝載電子部件，而是將待裝載于該位置的電子部件集合起來，在集合到一定量時搬至測試托盤。本發明涉及這種緩沖臺的靈活應用。

發明內容

要解決的技術問題

本發明的第一目的在于，提供通過靈活應用緩沖臺來使加載工作、卸載工作及再測試作業順利進行。

本發明的第二目的在于，提供通過個別識別電子部件來正確把握靈活應用緩沖臺的電子部件的流程的技術。

解決問題的技術方案