[發明專利]電子部件測試用分選機

有效

• 申請號: 201910925100.8
• 申請日: 2017-02-24
• 公開（公告）號: CN110653173B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 盧種基;尹廣熙;李斗吉
• 申請（專利權）人: 泰克元有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;G01R31/00
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

1.一種電子部件測試用分選機，其特征在于，

包括：

測試托盤，沿著經過加載位置、測試位置及卸載位置后再連接至加載位置的循環路徑循環；

加載裝置，用于將待測試的多個電子部件從供給用托盤加載至位于上述加載位置的上述測試托盤；

連接裝置，當借助上述加載裝置使對多個電子部件完成加載的測試托盤到達上述測試位置時，使裝載于上述測試托盤的多個電子部件與測試器電連接；

卸載裝置，在上述測試位置完成對被裝載的多個電子部件的測試后，從到達上述卸載位置的上述測試托盤卸載多個電子部件，根據測試結果進行分類并向回收用托盤移動；

第一堆垛機，用于收納裝載有多個待測試電子部件的多個供給用托盤；以及

第二堆垛機，用于收納對完成測試的多個電子部件進行回收的多個回收用托盤，

其中，上述第二堆垛機，包括：

升降框架，能夠以互相留有規定間隔的方式沿著上下方向裝載多個回收用托盤；

升降器，用于使上述升降框架升降；以及

多個進退器，使裝載于上述升降框架的多個回收用托盤選擇性地進退，從而使多個回收用托盤位于回收位置或退回至收納位置,

上述多個進退器設于升降的上述升降框架，上述多個進退器與上述升降框架一起升降，

上述多個進退器，與上述回收用托盤以互相留有規定間隔的方式沿著上下方向裝載相同，以互相留有規定間隔的方式沿著上下方向與上述回收用托盤對應設置；

還包括在上述加載裝置的工作區域與上述卸載裝置的工作區域之間移動的緩沖臺；

當填充上述緩沖臺的裝載量的固定百分比時，上述卸載裝置將判斷為再測試的多個上述電子部件從上述緩沖臺移動至供給到第一回收位置的回收用托盤。