[發(fā)明專利]一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置和方法

有效

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• 申請日: 2019-09-26
• 公開（公告）號: CN110531288B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設計）人: 張俊鵬;向前;徐利軍;黃雙;張婷婷;葉國明;蔣祝爽
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 鐘鋒;汪瑋華

本發(fā)明提出一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置和方法，包括絕緣底板和愛潑斯坦方圈，愛潑斯坦方圈為四個繞組骨架在絕緣底板上形成的方框結構，繞組骨架中嵌設H線圈，外部繞設內外兩層線圈，初級磁化線圈N₁和次級感應線圈N₂，可以使用愛潑斯坦方圈進行電流法和/或H線圈法進行磁性能檢測，本發(fā)明提高檢測精度，檢測方法多樣。

技術領域

本發(fā)明屬于硅鋼產品檢測的技術領域，尤其涉及一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置和方法。

背景技術

當今硅鋼片已經(jīng)在電網(wǎng)、變壓器、電動機和壓縮機行業(yè)普遍應用，準確的檢測和評價硅鋼片的磁性能指標一直是硅鋼片制造和應用行業(yè)持續(xù)努力的方向。愛潑斯坦方圈測磁法是電工鋼領域經(jīng)典的檢測方法，也是國際和行業(yè)普遍認可和采用的檢測方式。但是隨著技術的進步和檢測需求的細化，近年來愛潑斯坦方圈法檢測的局限性也逐步暴露出來。

目前硅鋼片磁性能根據(jù)IEC 60404和GB/T 3655標準愛潑斯坦方圈采用的為電流法控制方式，此種控制方法針對磁場強度H和磁極化強度J的計算必須使用有效磁路長度這一參數(shù)，而根據(jù)標準有效磁路長度采用的為約定值與真值存在差異，因此引入的偏差據(jù)資料統(tǒng)計鐵芯損耗和磁極化強度差異在8～10％左右。

愛潑斯坦方圈為四個線圈組成的正方形裝置，在檢測時樣品加工成30mm*300的條狀樣采用雙搭接接頭的方式放置于繞組內，無法一次檢測無取向硅鋼縱橫各半樣品的各向異性，需按方向重復加工檢測計算，并且無法評價樣品均勻性。

發(fā)明內容

本發(fā)明所要解決的技術問題在于針對上述存在的問題，提供一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置和方法，提高檢測精度。

本發(fā)明解決上述技術問題所采用的技術方案是：一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置，其特征在于，包括絕緣底板和愛潑斯坦方圈，所述愛潑斯坦方圈為四個繞組骨架在所述絕緣底板上形成的方框結構，所述繞組骨架為中心設有容置腔的矩形塊狀結構，所述容置腔為沿軸向設置的矩形貫通孔，位于容置腔頂面和底面的中心對稱設有矩形凹槽，所述矩形凹槽內嵌設H線圈，繞組骨架上繞設內外兩層線圈，外層線圈為初級磁化線圈N₁，內層線圈為次級感應線圈N₂。

按上述方案，還包括勵磁電源和連接觸點，所述連接觸點為多個，分別設于四個繞組骨架兩側的絕緣底板上，所述H線圈、初級磁化線圈N₁和次級感應線圈N₂分別與對應的連接觸點相連接，所述勵磁電源通過線纜與連接觸點相連。

按上述方案，所述H線圈由板狀骨架和銅絲線圈組成，所述板狀骨架為不導電的非磁性材料制成，所述銅絲線圈為銅絲沿板狀骨架均勻連續(xù)纏繞制成，板狀骨架長度為150mm～200mm、寬度為20～25mm、厚度為1～1.5mm，銅絲線圈長度為130mm～180mm，銅絲直徑為0.2mm～0.5mm。

按上述方案，所述矩形凹槽兩側均設有貫通的接線孔。

按上述方案，所述繞組骨架厚度為4±0.1mm，容置腔長度為220±1mm、寬度為32±0.1mm、高度為10±0.1mm，矩形凹槽深度為1.5～2mm、長度為151～201mm、寬度21～26mm。

一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1)樣品加工安設：將硅鋼片樣品按照加工要求加工成條狀，將硅鋼片樣品穿設于繞組骨架的容置腔中，相鄰兩組硅鋼片樣品一一對應首尾搭接相連；

S2)電路連接方式：同一繞組骨架內兩個H線圈串聯(lián)連接，四個繞組骨架初級線圈并聯(lián)，以分開接線的方式連接勵磁電源，進行單獨勵磁和/或組合勵磁，次級感應線圈采用串聯(lián)的方式連接在一起；

S3)電流法分段控制測量：