[發明專利]一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置和方法

有效

• 申請號: 201910917480.0
• 申請日: 2019-09-26
• 公開（公告）號: CN110531288B
• 公開（公告）日: 2021-05-25
• 發明（設計）人: 張俊鵬;向前;徐利軍;黃雙;張婷婷;葉國明;蔣祝爽
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵有限公司
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 鐘鋒;汪瑋華

1.一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置，其特征在于，包括絕緣底板和愛潑斯坦方圈，所述愛潑斯坦方圈為四個繞組骨架在所述絕緣底板上形成的方框結構，所述繞組骨架為中心設有容置腔的矩形塊狀結構，所述容置腔為沿軸向設置的矩形貫通孔，位于容置腔頂面和底面的中心對稱設有矩形凹槽，所述矩形凹槽內嵌設H線圈，繞組骨架上繞設內外兩層線圈，外層線圈為初級磁化線圈N₁，內層線圈為次級感應線圈N₂，矩形凹槽兩側均設有貫通的接線孔；還包括勵磁電源和連接觸點，所述連接觸點為多個，分別設于四個繞組骨架兩側的絕緣底板上，所述H線圈、初級磁化線圈N₁和次級感應線圈N₂分別與對應的連接觸點相連接，所述勵磁電源通過線纜與連接觸點相連。

2.根據權利要求1所述的一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置，其特征在于，所述H線圈由板狀骨架和銅絲線圈組成，所述板狀骨架為不導電的非磁性材料制成，所述銅絲線圈為銅絲沿板狀骨架均勻連續纏繞制成，板狀骨架長度為150mm~200mm、寬度為20~25mm、厚度為1~1.5mm，銅絲線圈長度為130mm~180mm，銅絲直徑為0.2mm~0.5mm。

3.根據權利要求2所述的一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測裝置，其特征在于，所述繞組骨架厚度為4±0.1mm，容置腔長度為220±1mm、寬度為32±0.1mm、高度為10±0.1mm，矩形凹槽深度為1.5~2mm、長度為151~201mm、寬度21~26mm。

4.一種愛潑斯坦方圈磁性能檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1）樣品加工安設：將硅鋼片樣品按照加工要求加工成條狀，將硅鋼片樣品穿設于繞組骨架的容置腔中，相鄰兩組硅鋼片樣品一一對應首尾搭接相連；

S2）電路連接方式：同一繞組骨架內兩個H線圈串聯連接，四個繞組骨架初級磁化線圈并聯，以分開接線的方式連接勵磁電源，進行單獨勵磁和/或組合勵磁，次級感應線圈采用串聯的方式連接在一起；

S3）電流法分段控制測量：

磁場強度H(t)控制：按實驗要求通過勵磁電源使用初級磁化線圈N₁對樣品進行磁化，四個繞組骨架初級磁化線圈編號為N₁1、N₁2、N₁3、N₁4，正常檢測時N₁1、N₁2、N₁3、N₁4同時磁化，檢測各向異性時按對角N₁1和N₁3、N₁2和N₁4分組進行磁化，檢測均勻性時逐個依次進行磁化，并實時監測控制電流大小，從而達到通過電流法控制磁場強度H(t)；

次級感應電壓U₂(t)測量：將感應電壓裝置以并聯的方式連接至四個繞組骨架次級線圈N₂1、N₂2、N₂3、N₂4兩端測試次級感應電壓U₂(t) 1、U₂(t) 2、U₂(t) 3、U₂(t) 4，并實時監測分段的次級感應電壓大小，從而達到分段測量獲得整體和分段磁極化強度J(t)；

S4）H線圈法控制測量：

磁場強度H(t)控制：四個繞組骨架H1、H2、H3、H4線圈連接電壓感應裝置，通過感應電勢來獲得H線圈法磁場強度，通過調整勵磁大小的方式控制磁場強度；

H線圈感應電壓U_H(t)測量：通過電壓感應裝置測量H1、H2、H3、H4感應電壓U_H(t) 1、U_H(t) 2、U_H(t) 3、U_H(t) 4，從而達到分段測量獲得整體和分段磁極化強度J(t)。