[發明專利]異形元器件抓取方法、裝置、系統、控制裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 201910905691.2
• 申請日: 2019-09-24
• 公開（公告）號: CN110712202B
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 盧韶安;吳安成
• 申請（專利權）人: 魯班嫡系機器人（深圳）有限公司;高怡達科技（深圳）有限公司
• 主分類號: B25J9/16
• 分類號: B25J9/16;B65G47/90
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 周偉鋒

1.一種異形元器件抓取方法，其特征在于，包括：

獲取第一圖像，所述第一圖像包括至少一個異形元器件；

對所述第一圖像進行預處理；

從預處理后的所述第一圖像中提取各個所述異形元器件的特征信息，所述特征信息包括輪廓信息；

根據所述特征信息去除不符合預設抓取要求的異形元器件，所述符合預設抓取要求的異形元器件是指姿態符合預設姿態，且沒有與其他異形元器件纏繞在一起的異形元器件；

識別所述第一圖像中剩余異形元器件的目標位姿信息，所述剩余異形元器件為所述第一圖像中去除不符合預設抓取要求的異形元器件后剩余的異形元器件；

根據所述目標位姿信息，生成控制指令，并發送所述控制指令至抓取裝置，所述控制指令用于指示所述抓取裝置抓取目標異形元器件。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述識別所述第一圖像中剩余異形元器件的目標位姿信息，包括：

獲取所述剩余異形元器件的圖像數據；

獲取所述剩余異形元器件的姿態識別模型；

將所述圖像數據輸入所述姿態識別模型中，輸出目標位姿信息；

或

獲取所述剩余異形元器件的圖像數據；

獲取所述剩余異形元器件的姿態識別模型；

將所述圖像數據輸入所述姿態識別模型中，輸出所述圖像數據中與所述異形元器件關聯的特征信息的識別結果；

根據所述識別結果得到目標位姿信息。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述特征信息去除不符合預設抓取要求的異形元器件，包括：

計算每個所述異形元器件的特征參數；

根據所述特征參數判斷所述異形元器件是否滿足所述預設抓取要求；

去除不符合所述預設抓取要求的異形元器件。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述特征參數判斷所述異形元器件是否滿足所述預設抓取要求，包括：

判斷所述特征參數是否落入預設數值范圍；

當所述特征參數落入所述預設數值范圍時，所述異形元器件符合所述預設抓取要求；

當所述特征參數未落入所述預設數值范圍時，所述異形元器件不符合所述預設抓取要求。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述識別所述第一圖像中剩余異形元器件的目標位姿信息之后，還包括：

根據所述剩余異形元器件之間的位姿參數，從所述剩余異形元器件中確定目標剩余異形元器件；

將所述目標剩余異形元器件作為待選目標異形元器件。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述剩余異形元器件之間的位姿參數，從所述剩余異形元器件中確定目標剩余異形元器件，包括：

根據所述位姿參數，計算各個所述剩余異形元器件之間的位姿參數差值；

分別判斷各個所述差值是否大于預設差值閾值；

當所述差值大于所述預設差值閾值時，確定所述剩余異形元器件為所述目標剩余異形元器件。

7.如權利要求1至6任一項所述的方法，其特征在于，在所述根據所述第一圖像生成控制指令之后，還包括：

生成第一裝配指令，并發送所述第一裝配指令至第一裝配裝置，所述第一裝配指令用于指示所述第一裝配裝置將所述目標異形元器件裝配至第一預設裝配位置；

生成第二裝配指令，并發送所述第二裝配指令至第二裝配裝置，所述第二裝配指令用于指示所述第二裝配裝置將所述目標異形元器件裝配至第二預設裝配位置。

8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，在將所述目標異形元器件裝配至第二預設裝配位置之后，還包括：

獲取所述目標異形元器件的第二圖像；

根據預先訓練的缺陷檢測神經網絡模型和所述第二圖像進行缺陷檢測，得出缺陷檢測結果；

根據所述缺陷檢測結果，對所述目標異形元器件執行相應的操作。