[發明專利]物體檢測方法及裝置、設備、存儲介質

在審

• 申請號: 201910898593.0
• 申請日: 2019-09-23
• 公開（公告）號: CN112540124A
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發明（設計）人: 鮑春雷;馮以浩;汪云
• 申請（專利權）人: 杭州?？低曄到y技術有限公司
• 主分類號: G01N29/09
• 分類號: G01N29/09;G01V1/00
• 代理公司: 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415
• 代理人: 楊春香

1.一種物體檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取超聲波收發裝置向待檢物體的表面垂直發射入射超聲波后，所述入射超聲波在所述待檢物體的表面產生的反饋超聲波的數據；

根據所述反饋超聲波的數據確定所述待檢物體的類別。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述反饋超聲波的數據確定所述待檢物體的類別，包括：

根據所述反饋超聲波的數據，確定所述待檢物體的聲阻抗；

根據所述聲阻抗，確定所述待檢物體的類別。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，

所述反饋超聲波包括所述入射超聲波在所述待檢物體上表面發生反射而產生的反射超聲波；所述反饋超聲波的數據包括：所述反射超聲波的強度；

所述根據所述反饋超聲波的數據，確定所述待檢物體的聲阻抗，包括：

根據所述反射超聲波的強度以及已知的所述入射超聲波的強度，確定所述入射超聲波在所述待檢物體上表面發生透射而產生的透射超聲波的強度；

根據所述透射超聲波的強度以及所述反射超聲波的強度計算所述待檢物體的聲阻抗。

4.根據權利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

確定所述待檢物體上表面中接收所述入射超聲波的各個位置與超聲波收發裝置的距離；

確定所述待檢物體上表面中接收所述入射超聲波的各個位置對應的所述待檢物體的厚度；

根據所述待檢物體的類別、所述距離和所述厚度，構造所述待檢物體對應的空間結構圖像。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述待檢物體的類別、所述距離和所述厚度，構造所述待檢物體對應的空間結構圖像包括：

根據所述距離和所述厚度，構造所述待檢物體的表面形狀；

根據所述待檢物體的類別確定對應的渲染色彩信息；

根據所述渲染色彩信息為所述表面形狀渲染對應的顏色得到所述空間結構圖像。

6.一種物體檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

反饋超聲波數據獲取模塊，被配置為獲取超聲波收發裝置向待檢物體的表面垂直發射入射超聲波后，所述入射超聲波在所述待檢物體的表面產生的反饋超聲波的數據；

類別識別模塊，被配置為根據所述反饋超聲波的數據確定所述待檢物體的類別。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述類別識別模塊包括：

聲阻抗確定子模塊，被配置為根據所述反饋超聲波的數據，確定所述待檢物體的聲阻抗；

類別確定子模塊，被配置為根據所述聲阻抗，確定所述待檢物體的類別。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，

所述反饋超聲波包括所述入射超聲波在所述待檢物體上表面發生反射而產生的反射超聲波；所述反饋超聲波的數據包括：所述反射超聲波的強度；

所述聲阻抗確定子模塊還被配置為：

根據所述反射超聲波的強度以及已知的所述入射超聲波的強度，確定所述入射超聲波在所述待檢物體上表面發生透射而產生的透射超聲波的強度；

根據所述透射超聲波的強度以及所述反射超聲波的強度計算所述待檢物體的聲阻抗。

9.根據權利要求6-8任一項所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

距離確定模塊，被配置為確定所述待檢物體上表面中接收所述入射超聲波的各個位置與超聲波收發裝置的距離；

厚度確定模塊，被配置為確定所述待檢物體上表面中接收所述入射超聲波的各個位置對應的所述待檢物體的厚度；

空間結構圖像構造模塊，被配置為根據所述待檢物體的類別、所述距離和所述厚度，構造所述待檢物體對應的空間結構圖像。