[發明專利]一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法在審
| 申請號： | 201910897751.0 | 申請日： | 2019-09-23 |
| 公開（公告）號： | CN110542488A | 公開（公告）日： | 2019-12-06 |
| 發明（設計）人： | 陰衛華;周好;周善喜;孫振;石宇;姜潘;陰啟蓬 | 申請（專利權）人： | 安徽晶格爾電子有限公司 |
| 主分類號： | G01K7/22 | 分類號： | G01K7/22 |
| 代理公司： | 34156 阜陽翰邦知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人： | 王玲霞<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址： | 233000 安徽省蚌*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 熱敏電阻 燒結 高溫燒結爐 檢測 標準表格 高溫測定 溫度分布 校對 取出 查找 | ||
【權利要求書】：
1.一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，包括以下步驟：
S1、建立熱敏電阻基片的燒結溫度與對應的熱敏電阻的B值之間的標準表格；
S2、將熱敏電阻基片放置在待測定溫度的位置，在待測定溫度下燒結，取出后檢測熱敏電阻的B值檢測值；
S3、在S1得到的標準表格中查找S2所得到的B值檢測值所對應的燒結溫度，即為待測定溫度；
所述S1中建立標準表格時的燒結時間與S2中在待測定溫度下燒結的燒結時間相同。
2.根據權利要求1所述的一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，所述B值的檢測方法參照GB/T 6663.1-2007。
3.根據權利要求1所述的一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，所述S1中建立熱敏電阻基片的燒結溫度與對應B值的標準表格時，燒結溫度采用標準熱電偶測定。
4.根據權利要求1所述的一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，所述待測定溫度的范圍為1000-1250℃。
5.根據權利要求1所述的一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，所述燒結時間≥3分鐘。
6.根據權利要求5所述的一種利用熱敏電阻基片進行高溫測定的方法，其特征在于，所述燒結時間為5-20分鐘。
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