[發(fā)明專利]一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910857719.X | 申請日： | 2019-09-11 |
| 公開（公告）號： | CN110704260A | 公開（公告）日： | 2020-01-17 |
| 發(fā)明（設計）人： | 菅陸田;謝軍;朱巍;寧永波;李峰;吳珊;劉佳季 | 申請（專利權）人： | 無錫江南計算技術研究所 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 33246 浙江千克知識產權代理有限公司 | 代理人： | 汪丹琪 |
| 地址： | 214100 江蘇*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試激勵 寄存器 父類 計算機體系結構 處理器技術 處理器驗證 寄存器測試 測試環(huán)境 讀寫測試 可重用 芯片級 易用性 處理器 子類 收斂 測試 開發(fā) 壓縮 重復 繼承 | ||
1.一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，包括：
定義IO寄存器讀寫測試用的父類；
在部件級或芯片級的IO接口上，實現(xiàn)繼承上述父類的測試子類。
2.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述定義IO寄存器讀寫測試用的父類的步驟包括：
配置寄存器的地址和內容的位寬；
定義IO寄存器讀函數、寫函數、數據比較函數。
3.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述定義IO寄存器讀寫測試用的父類的步驟還包括：定義IO寄存器初值函數。
4.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述定義IO寄存器讀寫測試用的父類的步驟還包括：定義IO寄存器加強測試函數，用于對已測試過的可讀寫屬性寄存器構成的測試列表，進行先全寫再全讀測試。
5.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述定義IO寄存器讀寫測試用的父類的步驟還包括：根據用戶需要設定最大的讀寫寄存器次數。
6.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述在部件級接口上實現(xiàn)繼承上述父類的測試子類的步驟包括：在部件級接口上，定義部件級測試子類，所述部件級測試子類繼承所述父類；其中部件級環(huán)境下的IO地址為偏移地址。
7.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述在芯片級接口上，實現(xiàn)繼承上述父類的測試子類的步驟包括：在芯片級接口上，定義芯片級測試子類，所述芯片級測試子類繼承所述父類；其中芯片級環(huán)境下的IO地址為IO空間的全地址；所述IO空間的全地址=測試對象的基址+偏移地址。
8.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述父類和所述測試子類是基于可重用驗證庫使用Systemverilog面向對象技術實現(xiàn)。
9.根據權利要求8所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，還包括：定義實現(xiàn)IO地址空間的匯編指令拼接用的子類，將使用Systemverilog面向對象技術實現(xiàn)的事務級激勵用在使用匯編激勵運行的指令級環(huán)境中。
10.根據權利要求1所述的一種用于處理器IO寄存器測試激勵的可重用方法，其特征在于，所述IO寄存器讀寫測試用的父類在模塊級環(huán)境下定義。
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