[發明專利]圖像陣列中的局部化現象的修正

在審

• 申請號: 201910852747.2
• 申請日: 2014-12-06
• 公開（公告）號: CN110619845A
• 公開（公告）日: 2019-12-27
• 發明（設計）人: 戈爾拉瑪瑞扎·恰吉;邁赫迪·托巴蒂安
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G3/3275
• 代理公司: 11290 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 李晗;曹正建

本發明公開了補償顯示器件中的局部化現象的方法和系統。顯示器包括像素陣列以及控制系統，控制系統用于調整像素陣列的內容數據信號，以補償陣列中的像素的老化。控制系統經由至少一個像素的讀輸入部來測量陣列中的所述至少一個像素的參數。控制器通過使用參數確定局部化現象對像素的影響。經由至少一個像素的讀輸入部來測量陣列中至少一個像素的特性。調整所測量的特性以降低局部化現象的影響。控制器基于經過調整的所測量的特性來計算調整的老化補償值。將老化補償值應用至去往至少一個像素的數據內容信號。

本申請是申請日為2014年12月06日、發明名稱為“圖像陣列中的局部化現象的修正”的申請號為201480074120.4專利申請的分案申請。

相關申請的交叉引用

本申請要求于2013年12月6日提交的美國臨時專利申請61/912,926的權益，在這里將該在先申請的全部內容以引用的方式并入本文。

技術領域

本發明涉及諸如用于顯示器面板中的半導體陣列之類的半導體陣列，且更具體地涉及用于補償OLED顯示器中的局部化現象的系統。

背景技術

可通過發光器件陣列來創建顯示器，其中每個發光器件由各單獨電路(即，像素電路)控制，這些單獨電路具有晶體管以用于選擇性地控制這些電路被編程有顯示信息并根據顯示信息發射光。可以將被制造于基板上的薄膜晶體管(TFT)組合到這類顯示器中。TFT在顯示面板中以及經過一段時間隨著顯示器的老化呈現出不均勻的性能。可以將補償技術應用到這類顯示器，以實現顯示器上的圖像一致性并消除顯示器中的隨著顯示器老化的劣化。

在一些用于向顯示器提供補償以消除顯示器面板中以及隨時間的變化的方案中，利用監控系統來測量與像素電路的老化(即，劣化)相關的時間相關參數。接著，使用所測量的信息來通知像素電路的后續編程，以確保可通過對編程進行調整來消除任何所測量的劣化。這種被監控的像素電路可能需要使用額外的晶體管和/或線路以選擇性地將像素電路連接到監控系統，并為信息的讀取做準備。額外的晶體管和/或線路的組合可能不適宜地降低像素間距(即，像素密度)。

另一失真源可能是諸如由像素陣列顯示的數據內容、溫度影響、屏幕上的壓力或入射光之類的局部化現象。例如，過高的局部化溫度會導致補償公式中出現失真的更高的輸入數據，這會使對老化影響的修正發生失真。因此，在獲得對這種像素的準確老化補償時，用于像素的輸入數據可能需要基于像素顯示器上的局部化現象額外地補償這些影響。

發明內容

一個公開示例為一種補償顯示器件中的局部化現象的方法，所述顯示器件包括像素陣列以及控制器，所述控制器用于調整所述像素陣列的內容數據信號以補償所述陣列中的像素的老化。測量所述陣列中的所述像素中的至少一者的參數。通過使用所述參數來確定局部化現象的影響。測量所述陣列中的所述像素中的至少一者的特性。調整所測量的特性以降低所述局部化現象的影響。基于經過調整的所測量的特性來計算調整的老化補償值。將所述老化補償值應用至去往所述像素中的至少一者的數據內容信號。

另一個公開示例為一種顯示器件，所述顯示器件包括顯示器陣列，所述顯示器陣列包括多個像素。所述多個像素均包括用于寫入數據內容的寫輸入部以及讀輸入部。控制器連接至所述顯示器陣列。所述控制器用于經由所述陣列中的所述像素中的至少一者的所述讀輸入部測量所述像素中的所述至少一者的參數。所述控制器用于通過使用所述參數來確定確定局部化現象對所述像素的影響。所述控制器用于經由所述陣列中的所述像素中的至少一者的讀輸入部測量所述像素中的所述至少一者的特性。所述控制器用于調整所測量的特性以降低所述局部化現象的影響。所述控制器用于基于經過調整的所測量的特性計算調整的老化補償值。所述控制器用于將所述老化補償值應用至去往所述像素中的至少一者的所述寫輸入部的數據內容信號。

對于本領域的普通技術人員來說，在閱讀了各實施方式的詳細說明之后，本發明的其它方面將變得更加清楚。上述詳細說明是通過參照附圖進行的，接下來將對這些附圖進行簡單說明。