[發明專利]圖像陣列中的局部化現象的修正

在審

• 申請號: 201910852747.2
• 申請日: 2014-12-06
• 公開（公告）號: CN110619845A
• 公開（公告）日: 2019-12-27
• 發明（設計）人: 戈爾拉瑪瑞扎·恰吉;邁赫迪·托巴蒂安
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225;G09G3/3275
• 代理公司: 11290 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 李晗;曹正建

1.一種補償顯示器件中的局部化現象的方法，所述顯示器件包括像素陣列和控制器，所述控制器用于調整所述像素陣列的內容數據信號以補償所述陣列中的像素的老化，所述方法包括：

在第一時間測量所述陣列中的所述像素中的至少一個第一像素的至少一個特性；

在第二時間測量所述至少一個第一像素的所述至少一個特性；

使用在所述第一時間和所述第二時間測量的所述至少一個像素的所述至少一個特性來確定所述局部化現象對所述至少一個第一像素的影響；

基于所確定的所述局部化現象的影響來計算調整的老化補償值；并且

將所述老化補償值應用至去往所述像素中的所述至少一個第一像素的數據內容信號。

2.如權利要求1所述的方法，其中，基于所確定的所述局部化現象的影響來計算所述調整的老化補償值的步驟包括從確定所述老化補償值的輸入特性中消除所確定的所述局部化現象的影響。

3.如權利要求1所述的方法，其中，確定所述局部化現象對所述至少一個第一像素的影響的步驟包括使用在所述第一時間和所述第二時間測量的所述至少一個像素的所述至少一個特性來確定所述至少一個第一像素的至少一個參數的變化。

4.如權利要求3所述的方法，其中，使用在所述第一時間和所述第二時間測量的所述至少一個像素的所述至少一個特性來確定所述至少一個第一像素的至少一個參數的變化的步驟包括將在所述第一時間和所述第二時間測量的所述至少一個像素的所述至少一個特性輸入至所述至少一個第一像素的特性的模型。

5.如權利要求4所述的方法，其中，所述至少一個第一像素的所述特性的模型為非線性模型。

6.一種補償顯示器件中的局部化現象的方法，所述顯示器件包括像素陣列和控制器，所述控制器用于調整所述像素陣列的內容數據信號以補償所述陣列中的像素的老化，所述方法包括：

測量所述陣列中的所述像素的至少一個第一像素的至少一個元件的至少一個特性，所述至少一個第一像素包括至少一個參考元件，所述至少一個參考元件不參與所述像素的發光操作；

測量所述至少一個第一像素的所述至少一個參考元件的所述至少一個特性；

使用所述至少一個第一像素的所述至少一個元件的所述至少一個特性的測量結果和所述至少一個第一像素的所述至少一個參考元件的所述至少一個特性的測量結果，確定所述局部化現象對所述至少一個第一像素的影響；

基于所確定的所述局部化像素的影響來計算調整的老化補償值；并且

將所述老化補償值應用至去往所述像素中的所述至少一個第一像素的數據內容信號。

7.如權利要求6所述的方法，其中，基于所確定的所述局部化現象的影響來計算所述調整的老化補償值的步驟包括從確定所述老化補償值的輸入特性中消除所確定的所述局部化現象的影響。

8.如權利要求6所述的方法，其中，所述至少一個第一像素的所述至少一個參考元件不因內容壓力而老化，且所述至少一個第一像素的所述至少一個元件因內容壓力而老化。

9.如權利要求6所述的方法，其中，確定所述局部化現象對所述至少一個第一像素的影響的步驟包括將所述至少一個第一像素的所述至少一個元件的所述至少一個特性的測量結果與所述至少一個第一像素的所述至少一個參考元件的所述至少一個特性的測量結果進行比較。

10.如權利要求6所述的方法，其中，所述至少一個第一像素的所述至少一個參考元件和所述至少一個第一像素的所述至少一個元件被制造為最初具有類似特性。