[發(fā)明專利]一種用于集成電路晶圓級(jí)封裝的重構(gòu)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910823826.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-02 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110473792B | 公開(公告)日: | 2021-04-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐開凱;劉煒恒;施寶球;曾德貴;趙建明;曾尚文;錢呈;錢津超;李建全;廖楠;徐銀森;劉繼芝;李洪貞;陳勇;黃平;李健兒 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 電子科技大學(xué);廣安職業(yè)技術(shù)學(xué)院;四川晶輝半導(dǎo)體有限公司;四川遂寧市利普芯微電子有限公司;四川藍(lán)彩電子科技有限公司;上海朕芯微電子科技有限公司;四川上特科技有限公司;重慶中科渝芯電子有限公司;四川芯合利誠科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L21/56;H01L21/78 |
| 代理公司: | 石家莊科誠專利事務(wù)所(普通合伙) 13113 | 代理人: | 劉謨培;左燕生 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 集成電路 晶圓級(jí) 封裝 方法 | ||
1.一種用于集成電路晶圓級(jí)封裝的重構(gòu)方法,其特征在于,所述方法包括如下步驟:
(1)對(duì)未進(jìn)行切割工藝的芯片執(zhí)行重新布局布線工藝,形成重新布局布線層;
重新布局布線層具有一層布線,所述重新布局布線工藝是將原芯片引腳外露面進(jìn)行金屬淀積,生長金屬層,形成芯片外接引腳,并刻蝕多余金屬,形成金屬連接線;
(2)對(duì)重新布局布線層表面進(jìn)行鈍化處理,然后執(zhí)行化學(xué)機(jī)械拋光工藝至裸露出重新布局布線層的芯片外接引腳;
(3)將芯片頂層倒置于承載板上,在芯片底層澆注環(huán)氧樹脂,形成第一塑封層;
(4)將芯片與第一塑封層翻轉(zhuǎn),使第一塑封層置于承載板上,對(duì)芯片外接引腳進(jìn)行金屬淀積工藝或電鍍工藝形成金屬外延層;
(5)對(duì)芯片與第一塑封層執(zhí)行第一次切割工藝,切割寬度為L1,切割深度大于芯片厚度且小于芯片與第一塑封層厚度之和,形成第一切割溝道;
(6)在第一切割溝道填充環(huán)氧樹脂至覆蓋金屬外延層焊接表面,形成第二塑封層;
(7)對(duì)第二塑封層進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光工藝至金屬外延層露出焊接表面;
(8)在焊接表面進(jìn)行電鍍工藝或植球工藝,生長金屬焊球;
(9)對(duì)第一塑封層和第二塑封層執(zhí)行第二次切割工藝,切割寬度為L2(L1L2),切割深度為完全切割至承載板表面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述一種用于集成電路晶圓級(jí)封裝的重構(gòu)方法,其特征在于,所述步驟(2)中鈍化處理是在重新布局布線層覆蓋材料為固化劑、樹脂或氮化硅的鈍化層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





