[發明專利]一種芯片老化監控方法、裝置及系統

在審

• 申請號: 201910810276.9
• 申請日: 2019-08-29
• 公開（公告）號: CN112444718A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 李才會;劉勵
• 申請（專利權）人: 上海原動力通信科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 馬瑞

本發明實施例提供一種芯片老化監控方法、裝置及系統，通過獲取目標芯片在老化過程中的溫度變化曲線，并根據溫度升溫階段所對應的曲線段，得到目標芯片在溫度升溫階段的溫度變化斜率值，根據溫度穩態階段所對應的曲線段，得到目標芯片在溫度穩態階段的溫度值，最后溫度變化斜率值和溫度值，對目標芯片的老化狀態進行監控，實現了對目標芯片在老化過程中溫度升溫階段和溫度穩態階段的老化狀態的監控，從而實現了對存在貼裝或裝配異常的芯片的及時篩選，避免了目標芯片在老化過程中出現溫度異常時，容易出現芯片燒毀的問題。

技術領域

本發明涉及芯片老化技術領域，尤其涉及一種芯片老化監控方法、裝置及系統。

背景技術

隨著第五代移動通信技術(5th generation mobile networks，5G)的到來，網絡速度越來越快，5G基站設備功耗也越來越大，已經從兩三百瓦上升到千瓦以上，許多芯片(包括處理器以及各種電源芯片)的功耗也大大增加，此時如果出現虛焊或導熱襯墊裝配問題，芯片就會出現燒毀風險。

但是目前在對基站的監控過程中，只對射頻設備進行老化測試，而對芯片則無老化監控過程。此外，射頻設備的監控參數包含輸出功率和駐波比等，老化過程為，將射頻設備放進恒溫箱以控制溫度，老化開始時對輸出功率和駐波比進行檢測，若發現異常則停止測試。若以射頻設備的老化過程對基站內芯片進行老化，由于5G基站設備將天線和射頻放大一體化，導致產品形狀與之前大很多，此時如果再使用恒溫箱進行老化，則成本較大，效率較低。

發明內容

本發明實施例提供一種芯片老化監控方法、裝置及系統，以解決現有技術中未對基站內芯片進行老化導致的芯片易燒毀的問題。

本發明實施例提供一種芯片老化監控方法，包括：

獲取目標芯片在老化過程中的溫度變化曲線，所述溫度變化曲線包括溫度升溫階段所對應的曲線段和溫度穩態階段所對應的曲線段；

根據所述溫度升溫階段所對應的曲線段，得到所述目標芯片在溫度升溫階段的溫度變化斜率值，并根據所述溫度穩態階段所對應的曲線段，得到所述目標芯片在溫度穩態階段的溫度值；

根據所述溫度變化斜率值和所述溫度值，對所述目標芯片的老化狀態進行監控。

本發明實施例提供一種芯片老化監控裝置，包括：

第一獲取模塊，用于獲取目標芯片在老化過程中的溫度變化曲線，所述溫度變化曲線包括溫度升溫階段所對應的曲線段和溫度穩態階段所對應的曲線段；

第二獲取模塊，用于根據所述溫度升溫階段所對應的曲線段，得到所述目標芯片在溫度升溫階段的溫度變化斜率值，并根據所述溫度穩態階段所對應的曲線段，得到所述目標芯片在溫度穩態階段的溫度值；

監控模塊，用于根據所述溫度變化斜率值和所述溫度值，對所述目標芯片的老化狀態進行監控。

本發明實施例提供一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的程序，所述處理器執行所述程序時實現所述的芯片老化監控方法的步驟。

本發明實施例提供一種芯片老化監控系統，包括：

放置于密閉空間內的至少一個基站設備，所述基站設備中包括有多個芯片，且所述基站設備的外表面上套設有能夠改變基站設備散熱溫度的工裝設備；

電子設備，所述電子設備與所述至少一個基站設備進行通信，以通過上述任一項所述的芯片老化監控方法對所述芯片進行老化監控。

本發明實施例提供一種非暫態計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現所述的芯片老化監控方法的步驟。