[發(fā)明專利]光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910780977.2
• 申請日: 2019-08-22
• 公開（公告）號: CN110404825A
• 公開（公告）日: 2019-11-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李久林;雷茜;張?zhí)?/a>;鐘漢龍;徐翼;羅穎;陽小冬
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳眼千里科技有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 深圳市鼎泰正和知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44555
• 代理人: 繆太清

1.一種光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選裝置，其特征在于，包括機(jī)架主體和設(shè)置于所述機(jī)架主體上的檢測機(jī)構(gòu)，所述檢測機(jī)構(gòu)環(huán)繞設(shè)置有上下料機(jī)械手，所述檢測機(jī)構(gòu)包括分別安裝于安裝基座兩側(cè)的光源組件和相機(jī)組件，所述光源組件包括光源安裝板；安裝于所述光源安裝板一端的環(huán)光光源；安裝于所述環(huán)光光源與所述光源安裝板另一端之間的輔助光源，

其中，所述相機(jī)組件包括相機(jī)安裝座和安裝于所述相機(jī)安裝座上的相機(jī)，所述光源組件上的各光源與所述相機(jī)中心點位于同一直線軸心上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選裝置，其特征在于，所述檢測機(jī)構(gòu)附近設(shè)置的上下料機(jī)械手?jǐn)?shù)量至少為4個，且每個所述上下料機(jī)械手間隔相等。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選裝置，其特征在于，所述的檢測機(jī)構(gòu)位于所述機(jī)架主體上的數(shù)量至少為12個，且呈依次排列順序。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選裝置，其特征在于，所述的輔助光源與所述環(huán)光光源分別為漫射環(huán)形光源與無影環(huán)光光源。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選裝置，其特征在于，篩選方法如下：

S1、數(shù)據(jù)預(yù)處理步驟：通過數(shù)據(jù)處理后臺接收工作人員根據(jù)不同物料預(yù)先錄入的物料各方位圖片，將圖片信息轉(zhuǎn)化為數(shù)據(jù)串，并對每個不同的數(shù)據(jù)串進(jìn)行編號；

S2、數(shù)據(jù)匹配步驟：上下料機(jī)械手待檢測物料送往檢測帶，通過檢測機(jī)構(gòu)內(nèi)的相機(jī)拍攝到目前正在進(jìn)行檢測的物料表面，將拍攝到的物料表面圖像經(jīng)過數(shù)據(jù)處理成數(shù)據(jù)串，再數(shù)據(jù)串與上述S1中預(yù)先錄入的數(shù)據(jù)串進(jìn)行對比，當(dāng)無法進(jìn)行匹配或匹配成功時，發(fā)送記錄信息至上下料機(jī)械手主控后臺，主控后臺將記錄此匹配信息，以便進(jìn)行下一步操作；

S3、數(shù)據(jù)處理步驟：主控后臺接收到匹配信息，并形成信息列隊，列隊順序即為物料檢測順序，上下料機(jī)械手將匹配錯誤的信息與物料進(jìn)行配對，將錯誤匹配的物料移送至NG料盤，將正確匹配的物料移送至成品料盤。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法，其特征在于，所述的信息列隊為檢測時間、檢測結(jié)果、物料行列坐標(biāo)和物料名稱組成的列隊信息，如112013AC1EB，其中“112013”表示檢測時間為上午11點20分13秒，“A”表示檢測結(jié)果(可設(shè)置A為成功，B為失敗，可自由進(jìn)行設(shè)定)，“C1”表示行列坐標(biāo)信息(可分為ABC三排，C則表示第三排，1表示第一個)，“EB”則表示物料名稱代號。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法，其特征在于，所述圖片信息包括物料表面情況，如有無劃傷，有無雜質(zhì)附著，各部件有無對齊及物料顏色和整體外觀。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法，其特征在于，經(jīng)過所述數(shù)據(jù)處理步驟得到的NG物料還可進(jìn)行整體重復(fù)的檢測，檢測次數(shù)根據(jù)物理性質(zhì)設(shè)置，如有些物料需幾次檢測才能得出精確地檢測結(jié)果。

9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)匹配步驟可進(jìn)行重復(fù)匹配，如在S1步驟中，工作人員將某一物料檢測設(shè)為重復(fù)兩次進(jìn)行檢測，則即使在數(shù)據(jù)匹配步驟中第一次檢測該物料匹配失敗時，還繼續(xù)對該物料進(jìn)行重復(fù)檢測。

10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光學(xué)模組AI檢測設(shè)備中的篩選方法，其特征在于，當(dāng)檢測新物料時，可以跳過所述數(shù)據(jù)預(yù)處理步驟與數(shù)據(jù)匹配步驟直接進(jìn)行數(shù)據(jù)處理步驟，再根據(jù)檢測情況記錄成符合數(shù)據(jù)預(yù)處理步驟數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)串，并錄入數(shù)據(jù)處理后臺。