[發明專利]一種工件的三坐標測量方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 201910778205.5
• 申請日: 2019-08-22
• 公開（公告）號: CN112414340B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發明（設計）人: 劉思仁;范曉駿;鄭哲恩;邢宏文;方偉;沈立恒
• 申請（專利權）人: 上海飛機制造有限公司
• 主分類號: G01B21/00
• 分類號: G01B21/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種工件的三坐標測量方法，其特征在于，包括：

照射測量平臺的支撐板上第一預設區域的多個公共測量點，以獲取所述多個公共測量點基于第一坐標系的多個第一坐標，所述多個公共測量點基于所述測量平臺的第二坐標系具有多個第二坐標；

根據所述多個第一坐標和多個第二坐標確定所述第一坐標系和第二坐標系的轉換關系；

通過所述轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的第二坐標系的初始坐標；

基于所述初始坐標對所述工件進行三坐標測量，以獲取所述工件在所述第二坐標系的測量參數；

其中，所述通過所述轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標之前包括：

將所述多個公共測量點導入所述工件的數據模型；

將所述數據模型導入激光投影系統；

其中，所述通過所述轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標包括：

基于所述數據模型和轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的第二坐標系的放置坐標；

所述激光投影系統根據所述放置坐標在所述第一預設區域中照射第二預設區域；

將所述工件放置于所述第一預設區域中的第二預設區域。

2.根據權利要求1所述的測量方法，其特征在于，所述通過所述轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標包括：

將工件放置于所述第一預設區域；

基于所述轉換關系通過激光投影系統照射所述工件以獲取所述工件基于所述測量平臺的第二坐標系的初始坐標。

3.一種工件的三坐標測量裝置，其特征在于，包括：

激光投影系統，用于照射測量平臺的支撐板上第一預設區域的多個公共測量點，以獲取所述多個公共測量點基于第一坐標系的多個第一坐標，所述多個公共測量點基于所述測量平臺的第二坐標系具有多個第二坐標，還用于根據所述多個第一坐標和多個第二坐標確定所述第一坐標系和第二坐標系的轉換關系，通過所述轉換關系以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標；

測量平臺，基于所述初始坐標對所述工件進行三坐標測量，以獲取所述工件在所述第二坐標系的測量參數；

其中，所述激光投影系統還用于接收所述工件的數據模型，所述數據模型包括所述多個公共測量點；

其中，所述激光投影系統還用于基于所述數據模型和轉換關系通過以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標，根據所述初始坐標在所述第一預設區域中照射第二預設區域。

4.根據權利要求3所述的測量裝置，其特征在于，所述激光投影系統還用于基于所述轉換關系通過所述激光投影系統照射所述工件以獲取所述工件基于所述測量平臺的初始坐標。

5.一種設備，其特征在于，所述設備包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1-2中任一所述的測量方法。

6.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1-2中任一所述的測量方法。