[發(fā)明專利]一種IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910761787.6
• 申請(qǐng)日: 2019-08-14
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110596138A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-12-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林宜龍;劉飛;王能翔;黃水清;嚴(yán)學(xué)喜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳格蘭達(dá)智能裝備股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N21/95
• 分類號(hào): G01N21/95;G01N21/892;B41J3/44;B41J3/407
• 代理公司: 44202 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 顏希文;宋亞楠

本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備，其包括控制系統(tǒng)、上料裝置、下料裝置、檢測(cè)裝置、用于輸送IC料條的輸送裝置和用于對(duì)不合格的IC芯片進(jìn)行墨點(diǎn)標(biāo)記的墨點(diǎn)標(biāo)記裝置，所述檢測(cè)裝置包括檢測(cè)支架、安裝在所述檢測(cè)支架上第一攝像頭、第二攝像頭和光源模組。本發(fā)明提供的IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備能檢測(cè)IC芯片在豎直方向上的缺陷，提高檢測(cè)準(zhǔn)確度，而且對(duì)不良品做標(biāo)記，不會(huì)損壞IC料條。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及產(chǎn)品檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備。

背景技術(shù)

IC料條內(nèi)置有近千個(gè)IC芯片，IC芯片經(jīng)常出現(xiàn)諸如針腳焊錯(cuò)、焊球脫落、焊線斷路等缺陷。存在以上缺陷的IC芯片屬于不良品，為避免其與及格品混淆，應(yīng)對(duì)IC料條進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)，以挑出不良品。目前檢測(cè)IC料條有人工挑選和機(jī)器挑選兩種方式。

人工挑選不良品耗時(shí)長(zhǎng)、效率較低，而且檢測(cè)效果不穩(wěn)定，容易出現(xiàn)錯(cuò)漏。故生產(chǎn)車間一般采用IC料條視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行來(lái)挑選出不良品。現(xiàn)有的IC料條視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備一般包括視覺(jué)檢測(cè)裝置和標(biāo)記裝置。視覺(jué)檢測(cè)裝置無(wú)法對(duì)IC芯片在豎直方向上的缺陷進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)精度受到一定限制。標(biāo)記裝置采用沖孔的方式標(biāo)記IC料條的缺陷處，容易因?yàn)闆_孔的力度過(guò)大而損壞整個(gè)IC料條。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是：提供一種IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備，其能檢測(cè)IC芯片在豎直方向上的缺陷，提高檢測(cè)準(zhǔn)確度，而且能對(duì)不良品做標(biāo)記，不會(huì)損壞IC料條。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種IC料條視覺(jué)檢測(cè)及墨點(diǎn)標(biāo)記設(shè)備，其包括控制系統(tǒng)、上料裝置、下料裝置、檢測(cè)裝置、用于輸送IC料條的輸送裝置和用于對(duì)不合格的IC芯片進(jìn)行墨點(diǎn)標(biāo)記的墨點(diǎn)標(biāo)記裝置，

所述檢測(cè)裝置包括檢測(cè)支架以及安裝在所述檢測(cè)支架上的第一攝像頭、第二攝像頭和光源模組，所述第一攝像頭用于檢測(cè)IC芯片在水平方向上的缺陷，所述第二攝像頭用于檢測(cè)IC芯片在豎直方向上的缺陷，所述光源模組為拍攝IC芯片提供光源，所述檢測(cè)支架和所述墨點(diǎn)標(biāo)記裝置沿IC芯片的輸送方向依次設(shè)置，且所述第一攝像頭、所述第二攝像頭和所述墨點(diǎn)標(biāo)記裝置均位于所述輸送裝置的上方，所述輸送裝置的一端與所述上料裝置的出口端連接，所述輸送裝置的另一端與所述下料裝置的進(jìn)口端連接，

所述控制系統(tǒng)分別與所述上料裝置、所述下料裝置、所述輸送裝置、所述第一攝像頭、所述第二攝像頭、所述光源模組和所述墨點(diǎn)標(biāo)記裝置電連接。

作為優(yōu)選方案，所述第一攝像頭通過(guò)第一移動(dòng)裝置安裝在所述檢測(cè)支架上，所述第一移動(dòng)裝置與所述控制系統(tǒng)電連接，所述第一移動(dòng)裝置用于驅(qū)動(dòng)所述第一攝像頭在豎直方向上移動(dòng)。

作為優(yōu)選方案，所述第一移動(dòng)裝置包括第一豎向驅(qū)動(dòng)單元、第一豎向傳動(dòng)組件和豎直設(shè)置的移動(dòng)支架，所述第一豎向驅(qū)動(dòng)單元安裝在所述移動(dòng)支架上且其輸入端與所述控制系統(tǒng)電連接，所述第一豎向驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述第一豎向傳動(dòng)組件的輸入端連接，所述第一豎向傳動(dòng)組件的輸出端與所述第一攝像頭連接，所述移動(dòng)支架連接在所述檢測(cè)支架上。

作為優(yōu)選方案，所述檢測(cè)裝置還包括安裝在所述檢測(cè)支架上的第二移動(dòng)裝置，所述第二移動(dòng)裝置的輸入端與所述控制系統(tǒng)電連接，所述第二移動(dòng)裝置的輸出端分別與所述第一移動(dòng)裝置和所述第二攝像頭連接，能夠驅(qū)動(dòng)所述第一移動(dòng)裝置和所述第二攝像頭在橫向和縱向上移動(dòng)。

作為優(yōu)選方案，所述第二移動(dòng)裝置包括橫向驅(qū)動(dòng)單元、第一縱向驅(qū)動(dòng)單元、橫向傳動(dòng)組件和第一縱向傳動(dòng)組件，所述橫向驅(qū)動(dòng)單元和所述第一縱向驅(qū)動(dòng)單元均與所述控制系統(tǒng)電連接，所述橫向驅(qū)動(dòng)單元安裝在所述檢測(cè)支架上且其輸出端與所述橫向傳動(dòng)組件的輸入端連接，所述橫向傳動(dòng)組件的輸出端與所述第一縱向驅(qū)動(dòng)單元連接，所述第一縱向驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述第一縱向傳動(dòng)組件的輸入端連接，所述第一縱向傳動(dòng)組件的輸出端分別與所述第一移動(dòng)裝置和所述第二攝像頭連接。