[發明專利]一種相對激光測厚儀

在審

• 申請號: 201910758296.6
• 申請日: 2019-08-16
• 公開（公告）號: CN110425988A
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 王和云
• 申請（專利權）人: 賓努克斯科技（佛山）有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 中山市銘洋專利商標事務所(普通合伙) 44286
• 代理人: 鄒建平

本發明涉及一種相對激光測厚儀，包括工作臺，工作臺具有用于放置測量件的測量件放置區域，測量件放置區域設有缺口；相對激光測厚儀還包括兩個白光共焦位移傳感器，每個白光共焦位移傳感器包括一個激光測頭，分別屬于兩個白光共焦位移傳感器的兩個激光測頭相對且分別垂直設置在缺口的兩側。本發明對零件的測厚不基于工作臺面，工作臺面不平整或者零件表面的翹曲不影響測量結果。本發明能夠極大地提高厚度的測量精度。

技術領域

本發明涉及光學測量技術領域，具體涉及一種相對激光測厚儀。

背景技術

傳統的接觸式測厚儀需要測量儀器與零件接觸，接觸式打點容易導致碰撞，且打點力度難以保證均勻，容易造成測量誤差。現有的單激光打點主要以工作臺面為基準，但工作臺面不平或者測量件的接觸面翹曲，都將會直接影像測量結果。

發明內容

針對現有技術的不足，本發明的目的是提供一種能夠提高測量精度的相對激光測厚儀。

為實現本發明的目的，本發明提供了一種相對激光測厚儀，包括工作臺，工作臺具有用于放置測量件的測量件放置區域，測量件放置區域設有缺口；相對激光測厚儀還包括兩個白光共焦位移傳感器，每個白光共焦位移傳感器包括一個激光測頭，分別屬于兩個白光共焦位移傳感器的兩個激光測頭相對且分別垂直設置在缺口的兩側。

進一步的技術方案是，白光共焦位移傳感器還包括處理裝置和光纖，光纖連接處理裝置和激光測頭；處理裝置包括光源、分光器和受光元件，激光測頭包括針孔和透鏡組件；光源用于提供白光，光纖將白光傳輸到激光測頭，白光穿過透鏡組件，透鏡組件使白光色散并使不同波長的光在激光側頭外側在光軸不同位置聚焦；聚焦在測量件表面的光反射穿過針孔，光纖將穿過針孔的反射光傳輸到處理裝置，反射光經過分光器由受光元件接受。

進一步的技術方案是，相對激光測厚儀還包括顯示裝置，顯示裝置用于顯示根據受光元件接受的光計算得到的測量件的厚度。

進一步的技術方案是，顯示裝置還用于顯示兩個白光共焦位移傳感器分別測得的測量件相對于基準面的厚度。

進一步的技術方案是，光源為白色LED。

進一步的技術方案是，針孔和透鏡組件沿白光的傳播方向依次設置。

進一步的技術方案是，相對激光測厚儀包括支架，兩個激光測頭連接在支架上，支架上設有導軌，工作臺可沿導軌移動。

進一步的技術方案是，工作臺水平設置，導軌在水平方向上延伸，兩個激光側頭連接在工作臺的上下兩側。

進一步的技術方案是，工作臺連接有滑塊，滑塊與導軌配合。

進一步的技術方案是，缺口周圍設有墊板，墊板用于放置測量件。

與現有技術相比，本發明能夠取得以下有益效果：

1. 本發明的相對激光測厚儀采用雙激光對射測量零件的厚度，屬于非接觸式測厚，適用于玻璃、手機蓋板、陶瓷面板等零件的厚度測量，能夠快速測量厚度尺寸。與傳統接觸式測厚儀相比，本發明避免了接觸式打點、碰撞、力度不均勻造成的測量誤差。與單激光打點測厚方法相比，本發明對零件的測厚不基于工作臺面，工作臺面不平整或者零件表面的翹曲不影響測量結果。本發明能夠極大地提高厚度的測量精度。

2. 本發明的相對激光測厚儀的工作臺可以相對于支架移動，通過移動工作臺進而移動測量件，能夠對測量件上的多個點位置進行測量，或者能夠對測量件進行掃描。測量件的厚度能夠及時通過顯示裝置顯示出來，并且還測量件在基準面的兩側的相對厚度也行顯示出來，測量件的厚度以及彎曲情況能夠直觀顯示。

3. 本發明的相對激光測厚儀采用白光共焦位移傳感器，投光和受光配置在同一個軸上，激光工作距離為15mm，測量精度比三角激光算法更準確，且不受傾斜角度或反光面影響。

附圖說明