[發明專利]一種相對激光測厚儀

在審

• 申請號: 201910758296.6
• 申請日: 2019-08-16
• 公開（公告）號: CN110425988A
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 王和云
• 申請（專利權）人: 賓努克斯科技（佛山）有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 中山市銘洋專利商標事務所(普通合伙) 44286
• 代理人: 鄒建平

1.一種相對激光測厚儀，包括工作臺，所述工作臺具有用于放置測量件的測量件放置區域，所述測量件放置區域設有缺口；其特征在于：

所述相對激光測厚儀還包括兩個白光共焦位移傳感器，每個所述白光共焦位移傳感器包括一個激光測頭，分別屬于兩個所述白光共焦位移傳感器的兩個所述激光測頭相對且分別垂直設置在所述缺口的兩側。

2.根據權利要求1所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述白光共焦位移傳感器還包括處理裝置和光纖，所述光纖連接所述處理裝置和所述激光測頭；所述處理裝置包括光源、分光器和受光元件，所述激光測頭包括針孔和透鏡組件；

所述光源用于提供白光，所述光纖將所述白光傳輸到所述激光測頭，所述白光穿過所述透鏡組件，所述透鏡組件使所述白光色散并使不同波長的光在所述激光側頭外側在光軸不同位置聚焦；聚焦在所述測量件表面的光反射穿過所述針孔，所述光纖將穿過所述針孔的反射光傳輸到所述處理裝置，所述反射光經過所述分光器由所述受光元件接受。

3.根據權利要求2所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述相對激光測厚儀還包括顯示裝置，所述顯示裝置用于顯示根據所述受光元件接受的光計算得到的所述測量件的厚度。

4.根據權利要求3所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述顯示裝置還用于顯示兩個所述白光共焦位移傳感器分別測得的所述測量件相對于基準面的厚度。

5.根據權利要求2所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述光源為白色LED。

6.根據權利要求2所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述針孔和所述透鏡組件沿所述白光的傳播方向依次設置。

7.根據權利要求1至6任一項所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述相對激光測厚儀包括支架，兩個所述激光測頭連接在所述支架上，所述支架上設有導軌，所述工作臺可沿所述導軌移動。

8.根據權利要求7所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述工作臺水平設置，所述導軌在水平方向上延伸，兩個所述激光側頭連接在所述工作臺的上下兩側。

9.根據權利要求7所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述工作臺連接有滑塊，所述滑塊與所述導軌配合。

10.根據權利要求1至6任一項所述的一種相對激光測厚儀，其特征在于：

所述缺口周圍設有墊板，所述墊板用于放置所述測量件。