[發(fā)明專利]一種功率器件的老化測試裝置、老化測試方法、計算機裝置和計算機可讀存儲介質

在審

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• 申請日: 2019-08-15
• 公開（公告）號: CN110333434A
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發(fā)明（設計）人: 林文杰;李繼華;章濤
• 申請（專利權）人: 英諾賽科（珠海）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 珠海智專專利商標代理有限公司 44262
• 代理人: 黃國豪

本發(fā)明提供一種功率器件的老化測試裝置、老化測試方法、計算機裝置和計算機可讀存儲介質，包括電容、可控開關器件、功率器件測試位、兩個二極管和電感，電容連接在電壓接入端口和接地端之間，可控開關器件的第一端、第一二極管的正極與電壓接入端口連接，可控開關器件的第二端、第二二極管的正極與電感的第一端連接，電感的第二端、第一二極管的負極與功率器件測試位的第一端連接，第二二極管的負極、功率器件測試位的第二端與接地端連接。使得電感充電過程輸入電源注入到電感的能量與電感回饋能量過程電感回饋到輸入電源的能量相等，老化試驗基本沒有損耗，同時避免長時間老化試驗中消耗大量電能，節(jié)約能源和降低試驗成本。

技術領域

本發(fā)明涉及器件老化測試領域，尤其涉及一種功率器件的老化測試裝置、功率器件的老化測試方法、計算機裝置和計算機可讀存儲介質。

背景技術

老化測試是把很多臺裝置放置于在一個封閉的環(huán)境中長期運行，其是功率半導體可靠性試驗中必不可少的部分。目前常用的老化測試電路主要是Boost電路(圖1)和Buck電路(圖2)，使用電子負載或電阻來進行能量的施放。一方面，每個電阻負載都在消耗能量，裝置數量多且測試時間長會造成很大的電能消耗，測試成本非常高，使用電子負載時，電子負載本身也是非常昂貴，另一方面，負載消耗的電能會轉化成熱量，會讓測試環(huán)境的溫升很高，不利于長時間老化試驗的進行，為改善散熱則需要高成本的散熱器以及風冷設備，增加了試驗成本以及試驗系統(tǒng)的復雜度。

發(fā)明內容

本發(fā)明的第一目的是提供一種節(jié)約能源且降低試驗成本的功率器件的老化測試裝置。

本發(fā)明的第二目的是提供一種應用于上述老化測試裝置的老化測試方法。

本發(fā)明的第三目的是提供一種執(zhí)行上述老化測試方法的計算機裝置。

本發(fā)明的第四目的是提供一種存儲有上述老化測試方法程序的計算機可讀存儲介質。

為了實現本發(fā)明第一目的，本發(fā)明提供一種功率器件的老化測試裝置，包括電壓接入端口、接地端、電容、可控開關器件、功率器件測試位、第一二極管、第二二極管和電感，電容連接在電壓接入端口和接地端之間，可控開關器件的第一端、第一二極管的正極與電壓接入端口連接，可控開關器件的第二端、第二二極管的正極與電感的第一端連接，電感的第二端、第一二極管的負極與功率器件測試位的第一端連接，第二二極管的負極、功率器件測試位的第二端與接地端連接。

更進一步的方案是，老化測試裝置還包括控制單元，可控開關器件的控制端與控制單元連接，功率器件測試位的控制端與控制單元連接。

更進一步的方案是，可控開關器件可采用MOSFET器件、IGBT器件或電磁開關器件。

更進一步的方案是，老化測試裝置還包括功率器件，功率器件設置在功率器件測試位上，功率器件的源極與接地端連接，功率器件的漏極與第一二極管的負極連接。

由上可見，功率器件可設置在功率器件測試位上，通過不同時序對可控開關器件和功率器件測試位通斷，繼而可實現電感充電、電感續(xù)流、電感回饋能量、電感續(xù)流、電感充電等功能，并通過上述功能的循環(huán)進行老化測試，可以使得電感充電過程輸入電源注入到電感的能量與電感回饋能量過程電感回饋到輸入電源的能量相等，這樣整個裝置老化試驗的過程將基本沒有損耗，同時避免了長時間老化試驗過程中消耗大量電能，達到節(jié)約能源和降低試驗成本的效果，且該電路不會產生大量的熱量，保證了長時間老化試驗的順利進行，另外本案的電路結構簡單。且利用半導體開關器件的長時間老化試驗，可提高測試的穩(wěn)定性，也有利于降低能耗和廢熱的產生。

為了實現本發(fā)明第二目的，本發(fā)明提供一種功率器件的老化測試裝置的老化測試方法，其特征在于，老化測試裝置采用如上述方案的老化測試裝置，老化測試方法包括電感充電步驟、第一電感續(xù)流步驟和電感回饋能量步驟；

電感充電步驟包括：導通可控開關器件和功率器件測試位，使電感通過預設電流；