[發明專利]一種功率器件的老化測試裝置、老化測試方法、計算機裝置和計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201910755999.3
• 申請日: 2019-08-15
• 公開（公告）號: CN110333434A
• 公開（公告）日: 2019-10-15
• 發明（設計）人: 林文杰;李繼華;章濤
• 申請（專利權）人: 英諾賽科（珠海）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 珠海智專專利商標代理有限公司 44262
• 代理人: 黃國豪

1.一種功率器件的老化測試裝置，其特征在于：

包括電壓接入端口、接地端、電容、可控開關器件、功率器件測試位、第一二極管、第二二極管和電感，所述電容連接在所述電壓接入端口和所述接地端之間，所述可控開關器件的第一端、所述第一二極管的正極與所述電壓接入端口連接，所述可控開關器件的第二端、所述第二二極管的正極與所述電感的第一端連接，所述電感的第二端、所述第一二極管的負極與所述功率器件測試位的第一端連接，所述第二二極管的負極、所述功率器件測試位的第二端與接地端連接。

2.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：

所述老化測試裝置還包括控制單元，所述可控開關器件的控制端與所述控制單元連接，所述功率器件測試位的控制端與所述控制單元連接。

3.根據權利要求1所述的老化測試裝置，其特征在于：

所述可控開關器件可采用MOSFET器件、IGBT器件或電磁開關器件。

4.根據權利要求1至3任一項所述的老化測試裝置，其特征在于：

所述老化測試裝置還包括功率器件，所述功率器件設置在功率器件測試位上，所述功率器件的源極與所述接地端連接，所述功率器件的漏極與所述第一二極管的負極連接。

5.功率器件的老化測試裝置的老化測試方法，其特征在于，所述老化測試裝置采用如權利要求1至4任一項所述的老化測試裝置，所述老化測試方法包括電感充電步驟、第一電感續流步驟和電感回饋能量步驟；

所述電感充電步驟包括：導通所述可控開關器件和所述功率器件測試位，使所述電感通過預設電流；

所述第一電感續流步驟包括：阻斷所述功率器件測試位，導通所述可控開關器件，使電流在所述電感、所述第一二極管和所述可控開關器件之間循環續流；

所述電感回饋能量步驟包括：阻斷所述可控開關器件和所述功率器件測試位，使電流經過所述第二二極管、所述電感和所述第一二極管；

所述老化測試方法依次按照所述電感充電步驟、所述第一電感續流步驟、所述電感回饋能量步驟、所述第一電感續流步驟、所述電感充電步驟循環執行。

6.根據權利要求5所述的老化測試裝置，其特征在于：

在導通所述可控開關器件和所述功率器件測試位之前，所述電感充電步驟還包括：

導通所述可控開關器件，阻斷所述功率器件測試位。

7.功率器件的老化測試裝置的老化測試方法，其特征在于，所述老化測試裝置采用如權利要求1至4任一項所述的老化測試裝置，所述老化測試方法包括電感充電步驟、第一電感續流步驟、第二電感續流步驟和電感回饋能量步驟；

所述電感充電步驟包括：導通所述可控開關器件和所述功率器件測試位，使所述電感通過預設電流；

所述第一電感續流步驟包括：阻斷所述功率器件測試位，導通所述可控開關器件，使電流在所述電感、所述第一二極管和所述可控開關器件之間循環續流；

所述第二電感續流步驟包括：阻斷所述可控開關器件，導通所述功率器件測試位，使電流在所述電感、所述功率器件測試位和所述第二二極管之間循環續流；

所述電感回饋能量步驟包括：阻斷所述可控開關器件和所述功率器件測試位，使電流經過所述第二二極管、所述電感和所述第一二極管；

所述老化測試方法依次按照所述電感充電步驟、所述第一電感續流步驟、所述電感回饋能量步驟、所述第二電感續流步驟、所述電感充電步驟循環執行。

8.根據權利要求7所述的老化測試裝置，其特征在于：

在導通所述可控開關器件和所述功率器件測試位之前，所述電感充電步驟還包括：

導通所述可控開關器件，阻斷所述功率器件測試位。

9.一種計算機裝置，其特征在于，所述計算機裝置包括處理器，所述處理器用于執行存儲器中存儲的計算機程序時實現如權利要求5至8任一項所述老化測試方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求5至8任一項所述老化測試方法的步驟。