[發明專利]性能分析方法與系統、電子設備與存儲介質

有效

• 申請號: 201910755835.0
• 申請日: 2019-08-15
• 公開（公告）號: CN110618933B
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 吳帥;安光霖;徐建;章建榮;粟超;楊超;梁樹為
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

本申請提供一種性能分析方法與系統、電子設備與存儲介質，該方法利用探測代碼對目標程序進行采樣得到事件信息，并利用PMU對目標程序進行Simpleperf采樣，得到棧信息，從而，獲取所述第一采樣數據與所述第二采樣數據之間的時間映射關系，基于該時間映射關系，能夠實現事件信息與所述棧信息之間的關聯和對應，從而，由此，生成目標程序的性能圖，該性能圖既可用于表征目標程序中，事件對應的調用棧的信息，也能夠表征各棧的耗時時長，為用戶提供了衡量目標程序性能的時間與空間信息，開發人員基于該性能圖，能夠清楚的確定目標程序在運行過程中，一個事件對應調用了什么棧(函數)，調用了多長時間，能夠輔助開發人員快速定位軟件問題、優化軟件性能。

技術領域

本申請涉及計算機技術領域，尤其涉及一種性能分析方法與系統、電子設備與存儲介質。

背景技術

隨著計算機技術的發展，軟件產品的更新換代也越來越快，用戶對軟件程序的要求也隨之增高，軟件程序的系統流暢性、低內存消耗、低卡頓、快速啟動等性能指標已經成為高質量產品重要的一環。

但是，軟件程序的性能分析一直是軟件開發過程中最難的一部分，其難度甚至超越了軟件的功能開發本身。對后臺開發人員而言，軟件程序的時間信息與源碼細節都是重要的性能分析內容，這直接影響到后臺開發人員定位軟件問題、優化軟件性能的準確性和難度。因此，如何實現對軟件程序的性能分析，以輔助開發人員快速定位軟件問題、優化軟件性能，一直是本領域的重點關注問題。

發明內容

本申請提供一種性能分析方法與系統、電子設備與存儲介質，用以從時間信息和源碼細節兩方面體現目標程序的性能，能夠輔助開發人員快速定位軟件問題、優化軟件性能。

第一方面，本申請提供一種性能分析方法，利用探測代碼對目標程序進行采樣得到事件信息，以及，利用PMU對目標程序進行Simpleperf采樣，得到棧信息，從而，獲取所述第一采樣數據與所述第二采樣數據之間的時間映射關系，基于該時間映射關系，能夠實現事件信息與所述棧信息之間的關聯和對應，從而，由此，生成目標程序的性能圖，該性能圖既可用于表征目標程序中，事件對應的調用棧的信息，也能夠表征各棧的耗時時長，為用戶提供了衡量目標程序性能的時間與空間信息，開發人員基于該性能圖，能夠清楚的確定目標程序在運行過程中，一個事件對應調用了什么棧(函數)，調用了多長時間，能夠輔助開發人員快速定位軟件問題、優化軟件性能。

在第一方面的一種可能的設計中，可以獲取第一采樣數據所采用的第一時間軸，與第二采樣數據所采用的第二時間軸之間的偏差時長，以作為所述時間映射關系；此時，事件對應的第一時間軸上的時間信息，與該事件對應的棧在第二時間軸上的時間信息之間，存在一定的偏差時長。

在第一方面的另一種可能的設計中，可以同步所述第一時間軸與所述第二時間軸，以作為所述時間映射關系。此時，事件對應的第一第一時間軸上的時間信息，與該事件對應的棧在第二時間軸上的時間信息，是一致的，不存在偏差。其中，同步時間軸可以通過獲取前述偏差時長，然后，利用所述偏差時長，調整所述第一時間軸或所述第二時間軸，使得所述第一時間軸與所述第二時間軸同步即可。

此外，偏差時長可以通過預設的校準Tag實現。其中，校準Tag為該目標程序中一定會出現的一個事件Tag。具體的，可以獲取預設的校準Tag在第一時間軸上的起始時刻，以及，在第二時間軸上，獲取所述校準Tag對應的第一個采樣點時刻，從而，獲所述起始時刻與所述第一個采樣點時刻之差，以作為所述偏差時長。可知，若起始時刻與所述第一個采樣點時刻相同，則第一時間軸與第二事件軸本身即同步，以二者同步作為該時間映射關系。

在第一方面的另一種可能的設計中，考慮到采樣過程可能會過量采樣，因此，為了得到更為精確的性能圖，還可以在生成所述目標程序的性能圖時，對所述第二采樣數據進行剪裁，并利用所述裁剪后的第二采樣數據，生成所述目標程序的所述性能圖。這有利于多濾掉非關注區間的數據，也有利于縮減數據處理量，加快處理效率。