[發(fā)明專利]性能分析方法與系統(tǒng)、電子設(shè)備與存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910755835.0
• 申請日: 2019-08-15
• 公開（公告）號: CN110618933B
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 吳帥;安光霖;徐建;章建榮;粟超;楊超;梁樹為
• 申請（專利權(quán)）人: 華為技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 榮甜甜;劉芳

1.一種性能分析方法，其特征在于，包括：

獲取目標程序的第一采樣數(shù)據(jù)與第二采樣數(shù)據(jù)，所述第一采樣數(shù)據(jù)是通過所述目標程序中插入的探測代碼采集得到的事件信息，所述第二采樣數(shù)據(jù)是通過性能監(jiān)控單元PMU采集得到的棧信息；

獲取所述第一采樣數(shù)據(jù)與所述第二采樣數(shù)據(jù)之間的時間映射關(guān)系，所述時間映射關(guān)系用于關(guān)聯(lián)所述事件信息與所述棧信息；

生成所述目標程序的性能圖，所述性能圖的縱軸表示事件所對應(yīng)的棧信息，橫軸表示棧對應(yīng)的時間長度；

其中，所述獲取所述第一采樣數(shù)據(jù)與所述第二采樣數(shù)據(jù)之間的時間映射關(guān)系，包括：

獲取第一時間軸與第二時間軸之間的偏差時長，以作為所述時間映射關(guān)系；或者，

同步所述第一時間軸與所述第二時間軸，以作為所述時間映射關(guān)系；

其中，所述第一時間軸為所述第一采樣數(shù)據(jù)所采用的時間軸；所述第二時間軸為所述第二采樣數(shù)據(jù)所采用的時間軸。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述同步所述第一時間軸與所述第二時間軸，包括：

獲取所述第一時間軸與所述第二時間軸之間的所述偏差時長；

利用所述偏差時長，調(diào)整所述第一時間軸或所述第二時間軸，使得所述第一時間軸與所述第二時間軸同步。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取所述第一時間軸與所述第二時間軸之間的所述偏差時長，包括：

獲取預(yù)設(shè)的校準Tag在第一時間軸上的起始時刻；

在第二時間軸上，獲取所述校準Tag對應(yīng)的第一個采樣點時刻；

獲所述起始時刻與所述第一個采樣點時刻之差，以作為所述偏差時長。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述生成所述目標程序的性能圖，包括：

裁剪所述第二采樣數(shù)據(jù)，得到裁剪后的第二采樣數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述裁剪后的第二采樣數(shù)據(jù)，生成所述目標程序的所述性能圖。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述裁剪所述第二采樣數(shù)據(jù)，得到裁剪后的第二采樣數(shù)據(jù)，包括：

獲取所述第一采樣數(shù)據(jù)中的目標事件；

根據(jù)所述時間映射關(guān)系，確定所述目標事件對應(yīng)的目標棧；

裁剪出所述目標棧對應(yīng)的第二采樣數(shù)據(jù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述獲取所述第一采樣數(shù)據(jù)中的目標事件，包括：

獲取目標事件標識；

在所述第一采樣數(shù)據(jù)中，獲取所述目標事件標識所指示的所述目標事件；

其中，所述目標事件標識包括：事件標簽或所述目標事件所在的目標時間區(qū)間。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述獲取目標事件標識，包括：

獲取預(yù)設(shè)的裁剪配置信息中攜帶的所述目標事件標識；或者，

輸出可操作面板，并采集用戶在所述可操作面板上的操作信息，根據(jù)所述操作信息確定所述目標事件標識；或者，

將所述第一采樣數(shù)據(jù)作為事件確定模型的輸入，獲取所述事件確定模型輸出的所述目標事件標識。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述目標程序為被測試程序。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的方法，其特征在于，所述目標程序包括：被測試程序與對照程序；

所述性能圖為多維性能圖，所述多維性能圖包括：所述被測試程序的性能圖與所述對照程序的性能圖；

其中，所述對照程序的數(shù)目為至少一個。