[發明專利]計數校驗裝置，計數系統和方法

在審

• 申請號: 201910700271.0
• 申請日: 2019-07-31
• 公開（公告）號: CN112307828A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 楊勇;王沈輝;張凇;于清松
• 申請（專利權）人: 梅特勒-托利多(常州)測量技術有限公司;梅特勒-托利多(常州)精密儀器有限公司;梅特勒-托利多國際貿易（上海）有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/34;G01G19/42
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳亮

本發明提供了一種計數校驗裝置，計數系統和計數方法，其中，所述計數校驗裝置包括：處理單元，用于對被計數對象的圖像進行圖像識別計數；計算單元，用于根據被計數對象的稱重總重和預存儲的質量分布信息，稱重計數；判斷單元，用于根據所述質量分布信息，判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內；如果是，判定所述圖像識別計數個數為被計數對象的計數個數，否則所述處理單元重新進行圖像識別計數。通過所述計數校驗裝置，計數系統和計數方法，可以提高物品計數的準確性。

技術領域

本發明涉及計數技術領域，尤其涉及一種計數校驗裝置，計數系統和方法。

背景技術

物品計數，被廣泛應用于如食品，藥品，日化用品，五金等各個行業的物品生產統計，包裝作業等。相對于傳統的人工計數統計，自動計數系統工作效率和準確性高，適用于批量的工業化作業。

稱重計數的原理是通過稱重若干數量的物品總重，根據事先測量獲得的該類型物品的平均重量，計算物品總重除以其平均重量。對于稱重計數來說，需要獲得該類型物品的平均重量。因此稱重計數的精度會受到預存儲的平均重量的影響。

該類物品的平均重量是對歷史平均重量數據的統計，而即便是在相同的生產工藝下，不同批次生產的產品的平均重量也可能會存在差別。因此，統計數據中的重量分布情況與當前被計數產品的重量分布情況是否相同，將會影響稱重計數的準確性。

圖像計數采用圖像識別技術，獲取被計數對象的圖像，并通過圖像識別模型進行圖像處理，最終計算出計數結果。但圖像計數會受到如被計數物品的散布狀態等因素影響。如果被計數物品相互之間存在觸碰，搭接的情況，也會影響計數結果的準確性。

發明內容

本發明要解決的技術問題是針對現有稱重計數和圖像識別計數中所存在的問題，提供一種能提高物品計數準確性的計數系統。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種計數校驗裝置，包括：處理單元，用于對被計數對象的圖像進行圖像識別計數；計算單元，用于根據被計數對象的稱重總重和預存儲的質量分布信息，稱重計數；判斷單元，用于根據所述質量分布信息，判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內；如果是，判定所述圖像識別計數個數為被計數對象的計數個數，否則所述處理單元重新進行圖像識別計數。

較優的，所述計算單元，還用于在所述判斷單元判定結果為是時，計算被計數對象的平均重量AW＝AW_old+K×(AW_old-AW_new)，并更新所述預存儲的質量分布信息；其中，W為被計數對象的稱重總重，N為被計數對象的圖像識別計數個數；AW_old為根據所述質量分布信息獲得的原始平均重量，K為預設的收斂系數，AW_new為被計數對象的平均重量。

較優的，所述稱重計數個數的計數誤差包括統計誤差允許的計數誤差，所述統計誤差允許的計數誤差為：所述判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內包括：計算N′是否落在的范圍內；其中，A為預設可信度倍數指標，σ為根據所述質量分布信息獲得的標準差，N為被計數對象的圖像識別計數個數，AW為根據所述質量分布信息獲得的原始平均重量，N′為被計數對象的稱重計數個數。

較優的，所述稱重計數個數的計數誤差還包括稱重誤差的允許計數誤差，所述稱重誤差的允許計數誤差為：±C/AW；所述判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內包括：計算N′是否落在的范圍內；其中，C為稱重設備的稱重精度誤差。

為了解決上述的計數問題，本發明還公開了一種計數系統，包括如上述的計數校驗裝置，還包括：攝像裝置，用于獲取被計數對象的圖像；稱重裝置，用于獲取被計數對象的稱重總重；存儲裝置，用于存儲被計數對象的質量分布數據。

較優的，上述的計數系統還包括：振動裝置，用于在所述處理單元重新進行圖像識別計數前，振動被計數對象的放置平臺。