[發明專利]計數校驗裝置，計數系統和方法

在審

• 申請號: 201910700271.0
• 申請日: 2019-07-31
• 公開（公告）號: CN112307828A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 楊勇;王沈輝;張凇;于清松
• 申請（專利權）人: 梅特勒-托利多(常州)測量技術有限公司;梅特勒-托利多(常州)精密儀器有限公司;梅特勒-托利多國際貿易（上海）有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/34;G01G19/42
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳亮

1.一種計數校驗裝置，其特征在于，包括：

處理單元，用于對被計數對象的圖像進行圖像識別計數；

計算單元，用于根據被計數對象的稱重總重和預存儲的質量分布信息，稱重計數；

判斷單元，用于根據所述質量分布信息，判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內；如果是，判定所述圖像識別計數個數為被計數對象的計數個數，否則所述處理單元重新進行圖像識別計數。

2.如權利要求1所述的計數校驗裝置，其特征在于，所述計算單元，還用于在所述判斷單元判定結果為是時，計算被計數對象的平均重量AW＝AW_old+K×(AW_old-AW_new)，并更新所述預存儲的質量分布信息；

其中，W為被計數對象的稱重總重，N為被計數對象的圖像識別計數個數；AW_old為根據所述質量分布信息獲得的原始平均重量，K為預設的收斂系數，AW_new為被計數對象的平均重量。

3.如權利要求1所述的計數校驗裝置，其特征在于，

所述稱重計數個數的計數誤差包括統計誤差允許的計數誤差，所述統計誤差允許的計數誤差為：

所述判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內包括：計算N'是否落在的范圍內；

其中，A為預設可信度倍數指標，σ為根據所述質量分布信息獲得的標準差，N為被計數對象的圖像識別計數個數，AW為根據所述質量分布信息獲得的原始平均重量，N'為被計數對象的稱重計數個數。

4.如權利要求3所述的計數校驗裝置，其特征在于，

所述稱重計數個數的計數誤差還包括稱重誤差的允許計數誤差，所述稱重誤差的允許計數誤差為：±C/AW；

所述判斷圖像識別計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內包括：計算N'是否落在的范圍內；

其中，C為稱重設備的稱重精度誤差。

5.一種計數系統，其特征在于，包括如權利要求1～4任一項所述的計數校驗裝置，還包括：

攝像裝置，用于獲取被計數對象的圖像；

稱重裝置，用于獲取被計數對象的稱重總重；

存儲裝置，用于存儲被計數對象的質量分布數據。

6.如權利要求5所述的計數系統，其特征在于，還包括：振動裝置，用于在所述處理單元重新進行圖像識別計數前，振動被計數對象的放置平臺。

7.如權利要求5所述的計數系統，其特征在于，被計數對象的放置平臺設置有適于被計數對象落入的若干凹槽，或者設置有適于被計數對象分隔的若干凸起。

8.一種計數方法，其特征在于，包括：

獲取被計數對象的圖像，并識別圖像中被計數對象的個數；

對被計數對象稱重計數；

根據預存儲的質量分布信息，判斷被計數對象的圖像計數個數是否在稱重計數個數的計數誤差范圍內；如果是，將圖像計數個數作為該被計數對象的計數結果；如果否，則重新進行圖像識別計數。

9.如權利要求8所述的計數方法，其特征在于，于判定被被計數對象的圖像計數個數在稱重計數個數的計數誤差范圍內后，還包括：

計算被計數對象的平均重量AW＝AW_old+K×(AW_old-AW_new)，并更新所述預存儲的質量分布信息；

其中，AW_old為根據所述質量分布信息獲得的原始平均重量，K為預設的收斂系數，AW_new為被計數對象的平均重量，W為被計數對象的稱重總重，N為被計數對象的圖像識別計數個數。