[發(fā)明專利]射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、測(cè)試方法、計(jì)算機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910698803.1
• 申請(qǐng)日: 2019-07-31
• 公開（公告）號(hào): CN111030881A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 石寶輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 星絡(luò)智能科技有限公司
• 主分類號(hào): H04L12/26
• 分類號(hào): H04L12/26
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

本發(fā)明公開了一種射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，其包括多臺(tái)待測(cè)設(shè)備、多臺(tái)功分器、一臺(tái)綜測(cè)儀、一臺(tái)計(jì)算機(jī)，每臺(tái)待測(cè)設(shè)備的射頻端口與一臺(tái)功分器對(duì)應(yīng)物理連接，每臺(tái)待測(cè)設(shè)備與所述計(jì)算機(jī)的通訊連接，每臺(tái)功分器的單端口均與所述綜測(cè)儀的物理連接，所述綜測(cè)儀與所述計(jì)算機(jī)通訊連接，所述綜測(cè)儀與每臺(tái)待測(cè)設(shè)備、每臺(tái)功分器及計(jì)算機(jī)均構(gòu)成一條測(cè)試通路。提高一臺(tái)所述綜測(cè)儀的使用效率，無(wú)需增加綜測(cè)儀的數(shù)量，控制了生產(chǎn)成本，也提高了整個(gè)生產(chǎn)效率。另，本發(fā)明還公開了射頻測(cè)試方法、計(jì)算機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及射頻測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、測(cè)試方法、計(jì)算機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著目前無(wú)線射頻通信使用越來(lái)越普遍，射頻相關(guān)產(chǎn)品的研發(fā)、測(cè)試以及生產(chǎn)都需要用到射頻測(cè)試技術(shù)。測(cè)試一般包括單板組裝測(cè)試和整機(jī)組裝測(cè)試。其中，單板組裝測(cè)試主要驗(yàn)證單板的可用性以及為后續(xù)測(cè)試做相應(yīng)配置，包括上電測(cè)試/連通性測(cè)試/射頻測(cè)試；整機(jī)組裝測(cè)試則提高對(duì)應(yīng)測(cè)試等級(jí)，上升至黑盒測(cè)試/性能測(cè)試等；完成上述測(cè)試后即可進(jìn)行包材裝配，后續(xù)出售即可。

在測(cè)試時(shí)為了提高生產(chǎn)效率，一般為多工位同時(shí)操作，測(cè)試流程中在待測(cè)設(shè)備上電和拆卸過程中綜測(cè)儀的使用效率不高，此時(shí)工廠普遍會(huì)采用增加綜測(cè)儀來(lái)提高生產(chǎn)效率，而一臺(tái)綜測(cè)儀成本高，通過配置多臺(tái)綜測(cè)儀方式保證生產(chǎn)效率需要投入成本很高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種提高綜測(cè)儀使用效率高且不增加成本的射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、測(cè)試方法、計(jì)算機(jī)及存儲(chǔ)介質(zhì)。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，其包括多臺(tái)待測(cè)設(shè)備、多臺(tái)功分器、一臺(tái)綜測(cè)儀、一臺(tái)計(jì)算機(jī)，每臺(tái)待測(cè)設(shè)備的射頻端口與一臺(tái)功分器對(duì)應(yīng)物理連接，每臺(tái)待測(cè)設(shè)備與所述計(jì)算機(jī)的通訊連接，每臺(tái)功分器的單端口均與所述綜測(cè)儀的物理連接，所述綜測(cè)儀與所述計(jì)算機(jī)通訊連接，所述綜測(cè)儀與每臺(tái)待測(cè)設(shè)備、每臺(tái)功分器及計(jì)算機(jī)均構(gòu)成一條測(cè)試通路。

進(jìn)一步地，所述射頻測(cè)試拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)包括多個(gè)屏蔽箱，將每一臺(tái)待測(cè)設(shè)備及每一臺(tái)功分器放置于一個(gè)屏蔽箱內(nèi)，所述綜測(cè)儀與每臺(tái)屏蔽箱及計(jì)算機(jī)構(gòu)成一條測(cè)試通路。

進(jìn)一步地，其包括以下步驟：

安裝多臺(tái)待測(cè)設(shè)備；

給綜測(cè)儀及多臺(tái)待測(cè)設(shè)備上電；

根據(jù)建立連接的順序創(chuàng)建所述待測(cè)設(shè)備的序列；

對(duì)序列首位的待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；

判斷測(cè)試是否通過，若測(cè)試通過，則對(duì)序列次位的待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試；若測(cè)試不通過，則判斷測(cè)試不通過的次數(shù)是否小于N，若測(cè)試不通過的次數(shù)小于N，則返回重新測(cè)試，若測(cè)試不通過的次數(shù)不小于N，則判定所述序列首位的待測(cè)設(shè)備測(cè)試不通過，將對(duì)序列次位的待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試。

進(jìn)一步地，安裝多臺(tái)待測(cè)設(shè)備包括：

將每臺(tái)待測(cè)設(shè)備的射頻端口與一臺(tái)功分器對(duì)應(yīng)物理連接；

將每臺(tái)待測(cè)設(shè)備與所述計(jì)算機(jī)的通訊連接；

將每臺(tái)功分器的單端口均與所述綜測(cè)儀的物理連接；

將所述綜測(cè)儀與所述計(jì)算機(jī)通訊連接。

進(jìn)一步地，安裝多臺(tái)待測(cè)設(shè)備還包括：

將每一臺(tái)待測(cè)設(shè)備及每一臺(tái)功分器放置于一個(gè)屏蔽箱內(nèi)。

進(jìn)一步地，判斷測(cè)試是否通過，若測(cè)試通過，對(duì)序列次位的待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)將所述序列首位的待測(cè)設(shè)備斷電并進(jìn)入產(chǎn)線的下一階段。

進(jìn)一步地，判斷測(cè)試是否通過，若測(cè)試不通過，對(duì)序列次位的待測(cè)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試的同時(shí)將所述不通過的序列首位的待測(cè)設(shè)備斷電進(jìn)入檢修階段。

進(jìn)一步地，所述序列首位的待測(cè)設(shè)備斷電后安裝下一臺(tái)待測(cè)設(shè)備至拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)內(nèi)；