[發明專利]射頻測試拓撲結構、測試方法、計算機及存儲介質

在審

• 申請號: 201910698803.1
• 申請日: 2019-07-31
• 公開（公告）號: CN111030881A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 石寶輝
• 申請（專利權）人: 星絡智能科技有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種射頻測試拓撲結構，其特征在于：其包括多臺待測設備、多臺功分器、一臺綜測儀、一臺計算機，每臺待測設備的射頻端口與一臺功分器對應物理連接，每臺待測設備與所述計算機的通訊連接，每臺功分器的單端口均與所述綜測儀的物理連接，所述綜測儀與所述計算機通訊連接，所述綜測儀與每臺待測設備、每臺功分器及計算機均構成一條測試通路。

2.根據權利要求1所述的射頻測試拓撲結構，其特征在于，所述射頻測試拓撲結構包括多個屏蔽箱，將每一臺待測設備及每一臺功分器放置于一個屏蔽箱內，所述綜測儀與每臺屏蔽箱及計算機構成一條測試通路。

3.根據權利要求1所述的射頻測試方法，其特征在于，其包括以下步驟：

安裝多臺待測設備；

給綜測儀及多臺待測設備上電；

根據建立連接的順序創建所述待測設備的序列；

對序列首位的待測設備進行測試；

判斷測試是否通過，若測試通過，則對序列次位的待測設備進行測試；若測試不通過，則判斷測試不通過的次數是否小于N，若測試不通過的次數小于N，則返回重新測試，若測試不通過的次數不小于N，則判定所述序列首位的待測設備測試不通過，將對序列次位的待測設備進行測試。

4.根據權利要求3所述的射頻測試方法，其特征在于，安裝多臺待測設備包括：

將每臺待測設備的射頻端口與一臺功分器對應物理連接；

將每臺待測設備與所述計算機的通訊連接；

將每臺功分器的單端口均與所述綜測儀的物理連接；

將所述綜測儀與所述計算機通訊連接。

5.根據權利要求4所述的射頻測試方法，其特征在于，安裝多臺待測設備還包括：

將每一臺待測設備及每一臺功分器放置于一個屏蔽箱內。

6.根據權利要求3所述的射頻測試方法，其特征在于，判斷測試是否通過，若測試通過，對序列次位的待測設備進行測試的同時將所述序列首位的待測設備斷電并進入產線的下一階段。

7.根據權利要求3所述的射頻測試方法，其特征在于，判斷測試是否通過，若測試不通過，對序列次位的待測設備進行測試的同時將所述不通過的序列首位的待測設備斷電進入檢修階段。

8.根據權利要求6或7所述的射頻測試方法，其特征在于，所述序列首位的待測設備斷電后安裝下一臺待測設備至拓撲結構內；

給新安裝的待測設備上電；

添加新安裝的待測設備到序列隊尾。

9.一種計算機，其特征在于，其包括相互連接的處理器和存儲器，其中，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述處理器被配置用于調用所述程序指令，執行如權利要求1-8任一項所述的射頻測試方法。

10.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令當被處理器執行時使所述處理器執行如權利要求1-8任一項所述的射頻測試方法。