[發(fā)明專利]真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910679918.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110632078A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝水龍;歐海宏;康政綱 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳精創(chuàng)視覺(jué)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/88 | 分類號(hào): | G01N21/88;B23K26/362 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市龍華區(qū)龍華*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 產(chǎn)品外觀 激光打標(biāo) 缺陷檢測(cè) 真空鍍膜 一體機(jī) 檢測(cè) 激光打標(biāo)機(jī)構(gòu) 應(yīng)用前景廣闊 工作效率高 上料機(jī)構(gòu) 下料機(jī)構(gòu) 運(yùn)料機(jī)構(gòu) 作業(yè)需求 工作臺(tái) 流水線 自動(dòng)化 | ||
本發(fā)明提供一種真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī),包括檢測(cè)工作臺(tái),所述檢測(cè)工作臺(tái)上設(shè)有上料機(jī)構(gòu)、運(yùn)料機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、激光打標(biāo)機(jī)構(gòu)、下料機(jī)構(gòu)以及控制機(jī)構(gòu)。本發(fā)明真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī)自動(dòng)化程度高,能夠滿足流水線批量作業(yè)需求,工作效率高、節(jié)省大量人力且檢測(cè)精度高,應(yīng)用前景廣闊。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光學(xué)自動(dòng)檢測(cè)領(lǐng)域,尤其涉及一種真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī)。
背景技術(shù)
真空鍍膜是真空應(yīng)用領(lǐng)域的一個(gè)重要方面,它是以真空技術(shù)為基礎(chǔ),利用物理或化學(xué)方法,并吸收電子束、分子束、離子束、等離子束、射頻和磁控等一系列新技術(shù),為科學(xué)研究和實(shí)際生產(chǎn)提供薄膜制備的一種新工藝。簡(jiǎn)單地說(shuō),在真空中把金屬、合金或化合物進(jìn)行蒸發(fā)或?yàn)R射,使其在被涂覆的物體(稱基板、基片或基體)上凝固并沉積的方法,稱為真空鍍膜。
眾所周知,在某些材料的表面上,只要鍍上一層薄膜,就能使材料具有許多新的、良好的物理和化學(xué)性能。20世紀(jì)70年代,在物體表面上鍍膜的方法主要有電鍍法和化學(xué)鍍法。前者是通過(guò)通電,使電解液電解,被電解的離子鍍到作為另一個(gè)電極的基體表面上,因此這種鍍膜的條件,基體必須是電的良導(dǎo)體,而且薄膜厚度也難以控制。后者是采用化學(xué)還原法,必須把膜材配制成溶液,并能迅速參加還原反應(yīng),這種鍍膜方法不僅薄膜的結(jié)合強(qiáng)度差,而且鍍膜既不均勻也不易控制,同時(shí)還會(huì)產(chǎn)生大量的廢液,造成嚴(yán)重的污染。因此,這兩種被人們稱之為濕式鍍膜法的鍍膜工藝受到了很大的限制。真空鍍膜則是相對(duì)于上述的濕式鍍膜方法而發(fā)展起來(lái)的一種新型鍍膜技術(shù),通常稱為干式鍍膜技術(shù)。
近年來(lái),隨著真空鍍膜產(chǎn)品品質(zhì)要求的提高,對(duì)真空鍍膜產(chǎn)品外觀和尺寸都有嚴(yán)格要求。對(duì)于真空鍍膜產(chǎn)品的檢測(cè),傳統(tǒng)方式多為人工肉眼識(shí)別,這種檢測(cè)方式檢測(cè)效率低,檢測(cè)勞動(dòng)強(qiáng)度大,人工長(zhǎng)時(shí)間工作造成視覺(jué)疲勞,導(dǎo)致檢測(cè)精度低。目前,真空鍍膜產(chǎn)品行業(yè)產(chǎn)能非常大,依靠人工對(duì)每片產(chǎn)品進(jìn)行外觀缺陷檢測(cè)不切實(shí)際,非常浪費(fèi)人力且人工誤判率較高,對(duì)產(chǎn)品后續(xù)使用造成不良影響。雖然現(xiàn)在市場(chǎng)上已經(jīng)陸續(xù)出現(xiàn)多種輔助檢測(cè)設(shè)備,但現(xiàn)有檢測(cè)設(shè)備自動(dòng)化程度低,檢測(cè)過(guò)程需要操作人員進(jìn)行人工上下料及運(yùn)料,費(fèi)時(shí)費(fèi)力,工作效率低,工作強(qiáng)度大,無(wú)法滿足流水線批量作業(yè)需求。因此,開(kāi)發(fā)一套自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備,自動(dòng)檢測(cè)真空鍍膜產(chǎn)品的外觀缺陷,在真空鍍膜產(chǎn)品行業(yè)內(nèi),具有重大的實(shí)用價(jià)值。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種自動(dòng)化程度高、能夠滿足流水線批量作業(yè)需求、工作效率高、節(jié)省大量人力且檢測(cè)精度高的真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī)。
本發(fā)明解決上述現(xiàn)有技術(shù)的不足所采用的技術(shù)方案是:
一種真空鍍膜產(chǎn)品外觀缺陷檢測(cè)及激光打標(biāo)一體機(jī),包括檢測(cè)工作臺(tái),其特征在于,所述檢測(cè)工作臺(tái)上設(shè)有上料機(jī)構(gòu)、運(yùn)料機(jī)構(gòu)、工裝治具拆卸機(jī)構(gòu) 、檢測(cè)機(jī)構(gòu)、激光打標(biāo)機(jī)構(gòu)、下料機(jī)構(gòu)以及控制機(jī)構(gòu),其中:
所述上料機(jī)構(gòu)是在所述運(yùn)料機(jī)構(gòu)前端設(shè)有一入料拉帶,人工將掛鍍架上待測(cè)樣品的掛鍍工裝治具放入拉帶,經(jīng)上料機(jī)械手將工裝治具放入環(huán)形導(dǎo)軌載具;
所述運(yùn)料機(jī)構(gòu)是在所述檢測(cè)工作臺(tái)上設(shè)有環(huán)形導(dǎo)軌,所述環(huán)形導(dǎo)軌上所有載具與各工位一一對(duì)應(yīng),所述導(dǎo)軌載具上可同時(shí)放置待測(cè)樣品掛鍍工裝治具和待測(cè)樣品,所述環(huán)形導(dǎo)軌底部設(shè)有驅(qū)動(dòng)所述環(huán)形導(dǎo)軌轉(zhuǎn)動(dòng)的轉(zhuǎn)盤(pán)驅(qū)動(dòng)馬達(dá),所述轉(zhuǎn)盤(pán)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)經(jīng)傳動(dòng)裝置連接所述環(huán)形導(dǎo)軌,所述轉(zhuǎn)盤(pán)驅(qū)動(dòng)馬達(dá)連接所述控制機(jī)構(gòu);
所述工裝治具拆卸機(jī)構(gòu)是架設(shè)在待測(cè)樣品工裝治具放入環(huán)形導(dǎo)軌載具后,對(duì)樣品的掛鍍工裝治具進(jìn)行拆卸,卸工裝治具彈簧,回收上蓋,將待測(cè)樣品從工裝治具內(nèi)取出轉(zhuǎn)移到環(huán)形導(dǎo)軌載具吸附板上;
所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)是在所述運(yùn)料機(jī)構(gòu)外周邊設(shè)有設(shè)有光源、攝像元件及處理器,所述攝像元件對(duì)所述運(yùn)料機(jī)構(gòu)運(yùn)送的待測(cè)樣品進(jìn)行圖像采集、并將采集的圖像傳送至所述處理器,所述處理器對(duì)所述攝像元件傳送的圖像進(jìn)行計(jì)算處理獲得待測(cè)樣品的外觀缺陷信息并判斷待測(cè)產(chǎn)品是否合格;
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 一種激光打標(biāo)機(jī)
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