[發明專利]實時鐘差估計中的粗差探測方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 201910673527.3
• 申請日: 2019-07-24
• 公開（公告）號: CN110398758A
• 公開（公告）日: 2019-11-01
• 發明（設計）人: 戴志強;葛茂榮;鮑志雄;李成鋼;史小雨;左翔
• 申請（專利權）人: 廣州中海達衛星導航技術股份有限公司
• 主分類號: G01S19/37
• 分類號: G01S19/37
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 黃麗霞

1.一種實時鐘差估計中的粗差探測方法，其特征在于，用于目標測站中，所述方法包括：

獲取與所述目標測站相關聯的衛星在當前歷元的觀測量；

對獲取到的所述觀測量中的粗差進行探測，得到觀測量粗差；

根據所述觀測量粗差對獲取到的所述觀測量進行處理，得到處理后的觀測量；

將所述處理后的觀測量發送至GNSS實時數據處理服務器，以供所述GNSS實時數據處理服務器根據所述處理后的觀測量對衛星的實時鐘差進行估計。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述觀測量包括與所述目標測站相關聯的衛星的無電離層組合偽距觀測量以及與所述目標測站相關聯的衛星的無電離層組合相位觀測量，所述觀測量粗差包括偽距粗差和相位粗差，所述對獲取到的所述觀測量中的粗差進行探測，得到觀測量粗差，包括：

獲取未知參數，所述未知參數包括與所述目標測站相關聯的衛星的模糊度參數和所述目標測站的接收機鐘差；

根據獲取到的所述觀測量和所述未知參數計算所述偽距粗差和所述相位粗差。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述觀測量粗差對獲取到的所述觀測量進行處理，得到處理后的觀測量，包括：

根據所述偽距粗差對獲取到的所述觀測量中的無電離層組合偽距觀測量進行修正，得到修正后的無電離層組合偽距觀測量。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

根據所述相位粗差獲取與所述目標測站相關聯的衛星的修正模糊度參數；

將所述修正模糊度參數發送至GNSS實時數據處理服務器，以供所述GNSS實時數據處理服務器根據所述修正模糊度參數對衛星的實時鐘差進行估計。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據獲取到的所述觀測量和所述未知參數計算所述偽距粗差和所述相位粗差，包括：

根據獲取到的所述觀測量和所述未知參數建立原假設和備選假設；

對所述原假設進行平差，得到原假設驗后殘差；

對所述備選假設進行平差，得到備選假設驗后殘差；

根據所述原假設驗后殘差和所述備選假設驗后殘差計算統計檢驗量；

根據所述統計檢驗量計算所述偽距粗差和所述相位粗差。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述統計檢驗量計算所述偽距粗差和所述相位粗差，包括：

對于獲取到的所述觀測量中的每一個數據，當所述統計檢驗量大于目標卡方分布時，建立粗差系數向量，根據所述粗差系數向量建立局部備選假設，并根據所述局部備選假設計算局部檢驗量，所述目標卡方分布是自由度為q，顯著水平為α的卡方分布；

從多個所述局部檢驗量中確定大于檢驗常數的局部檢驗量；

根據大于所述檢驗常數的局部檢驗量對應的粗差系數向量生成粗差定位矩陣；

根據所述粗差定位矩陣計算所述偽距粗差和所述相位粗差。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述從多個所述局部檢驗量中確定大于檢驗常數的局部檢驗量，包括：

對多個所述局部檢驗量執行至少一次最大檢驗量剔除過程，在執行至少一次所述最大檢驗量剔除過程之后，得到大于檢驗常數的局部檢驗量；

所述最大檢驗量剔除步驟包括：

根據多個所述局部檢驗量確定剩余局部檢驗量集合；

從所述剩余局部檢驗量集合中選擇絕對值最大的檢驗量；

當所述絕對值最大的檢驗量大于所述檢驗常數時，從所述剩余局部檢驗量集合中剔除所述絕對值最大的檢驗量，得到新的剩余局部檢驗量集合，并記錄所述絕對值最大的檢驗量對應的粗差系數向量。