[發(fā)明專利]一種基于OEE理論的OEE改善和發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失的計算方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910665704.3
• 申請日: 2019-07-23
• 公開（公告）號: CN112287292A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉鵬;賈士凡;李慧中;趙迪;盧夢月
• 申請（專利權(quán)）人: 吉林大學(xué)
• 主分類號: G06F17/18
• 分類號: G06F17/18;G06Q50/04
• 代理公司: 長春吉大專利代理有限責(zé)任公司 22201
• 代理人: 崔斌

本發(fā)明涉及工廠生產(chǎn)設(shè)備生產(chǎn)能力水平的模型建立和改善，具體的說是一種基于OEE理論的OEE改善和發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失的計算方法。本發(fā)明能夠更為精確地計算設(shè)備的OEE參數(shù)；并且能夠盡快地發(fā)現(xiàn)設(shè)備出現(xiàn)了速度損失的問題；即為制造企業(yè)生產(chǎn)線管理人員對設(shè)備的評估和解決產(chǎn)量下降背后的原因這兩項工作提供科學(xué)準確的參考標準。這是傳統(tǒng)OEE的計算方法所不能體現(xiàn)和提供的，在分析速度損失時，雖然傳統(tǒng)OEE的值也會下降，但因其值下降緩慢，所以不能及時反映出來設(shè)備的速度損失問題，必然會造成更大的經(jīng)濟損失，這也是本發(fā)明所力求避免的。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及工廠生產(chǎn)設(shè)備生產(chǎn)能力水平的模型建立和改善，具體的說是一種基于OEE理論的OEE改善和發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失的計算方法。

背景技術(shù)

通常情況下，生產(chǎn)過程中的每一臺設(shè)備都有其理論意義上的最大產(chǎn)能。然而在實際生產(chǎn)中，設(shè)備會因為種種因素停機，或者不能高性能高標準的運行，或者生產(chǎn)出來的產(chǎn)品良率達不到百分之百，這些因素有機械故障、清理修機、物料延期、產(chǎn)品缺陷等等。OEE(Overall Equipment Effectiveness)是一個獨立的測量工具，它用來表現(xiàn)實際的生產(chǎn)能力相對于理論產(chǎn)能的比率。通過OEE模型的各子項分析，它準確清楚地表明設(shè)備效率如何，以及在生產(chǎn)中的哪個大方面出現(xiàn)故障，利于后續(xù)改善工作的確定。

在實際生產(chǎn)中，由于工業(yè)設(shè)備生產(chǎn)狀況偏離理想狀態(tài)，往往會產(chǎn)生各種損失，其中就有設(shè)備的低速運轉(zhuǎn)而造成的速度損失，最終導(dǎo)致生產(chǎn)效率的降低，為了盡量快速地減少因速度損失帶來的經(jīng)濟損失，找出一種能夠快速發(fā)現(xiàn)設(shè)備生產(chǎn)速度降低的現(xiàn)象的方法迫在眉睫。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種基于OEE理論的OEE改善和發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失的計算方法，能得到更加準確的OEE以及更快地發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失，解決了現(xiàn)有技術(shù)存在的上述問題。

本發(fā)明技術(shù)方案結(jié)合附圖說明如下：

一種基于OEE理論的OEE改善和發(fā)現(xiàn)設(shè)備速度損失的計算方法，該計算方法包括以下步驟：

步驟一、建立OEE計算模型；

步驟二、采集獲取OEE計算模型中各項參數(shù)；

步驟三、計算性能效率PE′；

步驟四、計算衡量設(shè)備綜合性能的OEE₁；

步驟五、計算能夠及時發(fā)現(xiàn)速度損失的OEE_w；

步驟六、得到OEE₁和OEE_w統(tǒng)計報表；

步驟七、通過對比OEE₁和OEE_w的趨勢圖，得到設(shè)備的綜合效率情況和速度損失情況；

步驟八、根據(jù)步驟一-步驟七在工廠建立OEE₁和OEE_w的測量系統(tǒng)，通過可視化的方式對設(shè)備進行管理。

步驟一所述OEE計算模型為：

OEE＝可利用時間效率(EA)×設(shè)備性能效率(PE)×合格品率(RQ)；

步驟三所述性能效率PE′的計算方法具體為：

其中，產(chǎn)品的理論生產(chǎn)周期為一個常數(shù)T₀，每個產(chǎn)品的實際生產(chǎn)周期為Ti，生產(chǎn)周期差為ΔT_i＝T_i-T₀，對于n個T_i，有n個樣本觀測值即ΔT₁，ΔT₂，....ΔT_n；