[發明專利]一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統與方法

在審

• 申請號: 201910665257.1
• 申請日: 2019-07-23
• 公開（公告）號: CN110389322A
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 黃曉彬
• 申請（專利權）人: 惠州市德賽西威汽車電子股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01R29/08
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 葉新平

本發明提供一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統與方法，通過多個下位機控制對應測試設備同步執行對多個待測試雷達的測試動作，一個主機控制多個對應于各個暗箱的下位機同時運行，實現了一臺電腦操控多個暗箱的并行測試，大幅度縮短測試時間、提高產品的測試效率、生產效率以及設備的自動化程度；通過設置與一套遠場測試項目的最大需求尺寸相匹配的暗箱，將所有需求尺寸較大的測試項目集中到同一暗箱，優化了遠場測試效果；通過將多個暗箱豎立組合排列，減少了設備占地面積、提高空間利用率；通過設置水平定位面板，可根據待測試雷達的類型而切換到不同頻段的測試設備進行測試，實現了暗箱尺寸兼容、不同型號的產線兼容，減少了產線投入成本。

技術領域

本發明涉及雷達制造技術領域，尤其涉及一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統與方法。

背景技術

車載毫米波雷達在我國是近幾年興起的前沿產業，應用前景廣闊，具備汽車碰撞預警、自動緊急制動、自適應巡航、盲點檢測、變道輔助等輔助功能，使得汽車駕駛變得更安全、更智能。

完整的毫米波雷達測試一般需要包括：角度標定、全向功率測試、靈敏度測試、增益測試、目標場景模擬測試等，測試內容繁多。而國內現有的毫米波雷達測試設備測試功能單一，若要進行全面的功能測試，需要針對不同的測試功能需要購買不同的測試設備，成本高昂，并且整個測試過程耗時長、效率低下，且因為生產廠家的不一致，在組合測試系統時，不僅接線復雜，還會存在串口不兼容、尺寸不兼容的問題。

并且，在進行雷達產品功能及性能測試時，按照毫米波雷達產品的遠場測試標準，若存在來回收發機制，產品與儀器的天線間距需要符合2D/λ(D為天線尺寸，λ為微波波長)。按目前雷達產品的現狀，暗箱尺寸一般要求在4米以上，否則測試效果不佳。而現有的相關產線的毫米波雷達整機測試或天線測試基本都是小暗箱設置，不僅不符合雷達產品遠場測試標準，而且所測試的產品也比較單一，無法做到兼容多頻段多類型的產品測試，例如24GHz測試設備無法進行77GHz產品的測試。

另外，根據信號測量與場景模擬的要求，在測試系統搭建過程中，還分別需要接入頻譜儀和模擬器，但是，由于頻譜儀和模擬器不僅價格高昂且設備電氣結構復雜，不利于測試設備的大規模生產與測試系統的搭建。

發明內容

本發明提供一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統與方法，解決的技術問題為：現有毫米波雷達測試效率低、耗時長，測試暗箱尺寸較大，占地面積廣，產線功能單一、兼容性差，測試設備昂貴導致測試成本高。

為解決以上技術問題，本發明提供一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，包括中央控制模塊及與其獨立電性連接的PLC上下料模組以及暗箱模組：

所述中央控制模塊，用于根據預設程序控制所述PLC上下料模組進行運輸及上下料動作；

所述PLC上下料模組，用于在所述中央控制模塊的控制下輸送多個待測試雷達同步到達所述暗箱模組的不同暗箱，執行所述多個待測試雷達的上料動作；

所述中央控制模塊，還用于根據所述預設程序在所述PLC上下料模組完成上料動作后，控制所述暗箱模組進行測試動作；

所述暗箱模組，用于在所述中央控制模塊的控制下同步執行對所述多個待測試雷達的測試動作，并向所述中央控制模塊反饋測試結果；

所述PLC上下料模組，還用于在所述暗箱模組執行一次并行測試后，在所述中央控制模塊的控制下，執行對所述多個待測試雷達的下料動作，并輸送所述多個待測試雷達同步到達下一個工位。

優選地，所述暗箱模組至少包括兩個并列排布的暗箱，一個所述暗箱對應一個所述待測試雷達、一套測試項目、一套測試設備；

其中一個所述暗箱的尺寸與一套遠場測試項目的最大需求尺寸相匹配；所述一套遠場測試項目包括所有的遠場測試項目。