[發明專利]一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統與方法

在審

• 申請號: 201910665257.1
• 申請日: 2019-07-23
• 公開（公告）號: CN110389322A
• 公開（公告）日: 2019-10-29
• 發明（設計）人: 黃曉彬
• 申請（專利權）人: 惠州市德賽西威汽車電子股份有限公司
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40;G01R29/08
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 葉新平

1.一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于，包括中央控制模塊及與其獨立電性連接的PLC上下料模組以及暗箱模組：

所述中央控制模塊，用于根據預設程序控制所述PLC上下料模組進行運輸及上下料動作；

所述PLC上下料模組，用于在所述中央控制模塊的控制下輸送多個待測試雷達同步到達所述暗箱模組的不同暗箱，執行所述多個待測試雷達的上料動作；

所述中央控制模塊，還用于根據所述預設程序在所述PLC上下料模組完成上料動作后，控制所述暗箱模組進行測試動作；

所述暗箱模組，用于在所述中央控制模塊的控制下同步執行對所述多個待測試雷達的測試動作，并向所述中央控制模塊反饋測試結果；

所述PLC上下料模組，還用于在所述暗箱模組執行一次并行測試后，在所述中央控制模塊的控制下，執行對所述多個待測試雷達的下料動作，并輸送所述多個待測試雷達同步到達下一個工位。

2.如權利要求1所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于：所述暗箱模組至少包括兩個并列排布的暗箱，一個所述暗箱對應一個所述待測試雷達、一套測試項目、一套測試設備；

其中一個所述暗箱的尺寸與一套遠場測試項目的最大需求尺寸相匹配；所述一套遠場測試項目包括所有的遠場測試項目。

3.如權利要求2所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于：

所述中央控制模塊包括對應于所述測試設備的下位機，以及連接所有下位機的主機，所述主機還連接所述PLC上下料模組；

所述下位機用于在所述主機的控制下同步執行對所述多個待測試雷達的測試動作，并向所述主機反饋測試結果。

4.如權利要求3所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于，所述遠場測試項目包括角度標定，對應的測試設備包括至少兩個固定在水平定位板上不同位置的角反射器，對應于不同發射頻率的所述待測試雷達；

當所述待測試毫米波雷達到達暗箱的檢測工位時，相應的下位機控制所述水平定位面板上頻率相對應的所述角反射器正對所述待測試雷達。

5.如權利要求3所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于，一套近場測試項目包括射頻測試，對應的測試設備至少包括：

與對應下位機電性連接的模擬器、與所述模擬器電性連接的射頻開關，以及，至少兩組固定在所述水平定位板上不同位置的射頻天線，對應于不同發射頻率的所述待測試雷達；

以及連接在每組所述射頻天線與所述射頻開關之間的變頻器，對應于不同發射頻率的所述待測試雷達；

當所述待測試毫米波雷達到達暗箱的檢測工位時，相應的下位機控制所述水平定位面板上頻率相對應的所述射頻天線正對所述待測試雷達，以及控制所述射頻開關切換連接到正對所述待測試雷達的變頻器，驅動所述變頻器工作。

6.如權利要求4或5所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于；安裝在所述暗箱上的所述水平定位面板上及所述暗箱的內壁上還固定有吸波材料；當所述待測試雷達到達暗箱的檢測工位時，對應的下位機控制所述水平定位面板上的所述吸波材料正對所述待測試雷達，使得所述待測試雷達被所述吸波材料圍繞，并控制所述測試設備不工作，所述待測試雷達執行虛警和底噪測試；所述吸波材料兼容0～100GHZ頻率的電磁波。

7.如權利要求1所述的一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試系統，其特征在于：所述PLC上下料模組的運輸及上下料動作通過電機傳動的傳送鏈或傳送帶執行，或者通過機械手執行；

所述多個待測試雷達為24GHz、77GHz或79GHz的毫米波雷達。

8.一種毫米波雷達的多暗箱并行兼容測試方法，其特征在于，具體步驟如下：

S1、輸送多個待測試雷達同步到達不同暗箱，執行所述多個待測試雷達的上料動作；

S2、所述不同暗箱同步執行對所述多個待測試雷達的測試動作，并記錄測試結果；

S3、執行對所述多個待測試雷達的下料動作，并輸送所述多個待測試雷達同步到達下一個工位。