[發(fā)明專利]一種引線框架結(jié)構(gòu)及其封裝結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910654932.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110517999A | 公開(公告)日: | 2019-11-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周青云;沈錦新;周海峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇長(zhǎng)電科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/495 | 分類號(hào): | H01L23/495;H01L23/552;H01L21/48 |
| 代理公司: | 11429 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 | 代理人: | 趙海波<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入 |
| 地址: | 214400 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 外引腳 引線框架結(jié)構(gòu) 內(nèi)引腳 切割道 基島 電磁屏蔽 封裝結(jié)構(gòu) 金屬 內(nèi)基 引腳 復(fù)雜電磁環(huán)境 引線框架封裝 四角位置 導(dǎo)電線 類封裝 延伸 | ||
本發(fā)明涉及一種引線框架結(jié)構(gòu)及其封裝結(jié)構(gòu),所述引線框架結(jié)構(gòu)包括基島、引腳,所述基島包括外基島(1)和內(nèi)基島(2),所述引腳包括外引腳(3)和內(nèi)引腳(4),所述內(nèi)基島(2)四角位置通過導(dǎo)電線(5)延伸到切割道金屬(6),所述外引腳(3)延伸到切割道金屬(6),所述內(nèi)引腳(4)設(shè)置在外引腳(3)的上方,所述內(nèi)引腳(4)通過外引腳(3)與切割道金屬(6)相連。本發(fā)明種引線框架結(jié)構(gòu)及其封裝結(jié)構(gòu),它可使引線框架封裝體具備EMI電磁屏蔽需求,以滿足復(fù)雜電磁環(huán)境、5G市場(chǎng)下QFN類封裝體的電磁屏蔽要求。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種引線框架結(jié)構(gòu)及其封裝結(jié)構(gòu),屬于半導(dǎo)體封裝技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
作為已公知的引線封裝如四方扁平引線(QFN)封裝,其產(chǎn)品上的內(nèi)引線端和相對(duì)的外引線端全部通過連桿連接至切割道上的引線框,封裝切割后連桿部分殘留在塑封體側(cè)壁。
隨著5G時(shí)代的臨近,半導(dǎo)體封裝器件處于更加復(fù)雜的電磁環(huán)境中,原無(wú)需電磁屏蔽需求的器件,也需要考慮來自外界其他高頻信號(hào)的干擾或影響。
現(xiàn)業(yè)界常規(guī)EMI屏蔽技術(shù),在塑封體正面和四個(gè)側(cè)壁形成一層金屬導(dǎo)電EMI層,并接地,從而滿足產(chǎn)品電磁屏蔽需求。然而QFN類引線封裝器件,因其側(cè)壁有導(dǎo)電線連桿殘留,若側(cè)壁覆蓋上EMI金屬層,則導(dǎo)致所有引線全部短接,造成功能失效。
如何讓引線封裝器件(如QFN封裝)滿足日益復(fù)雜的電磁環(huán)境,是需要本技術(shù)領(lǐng)域急需解決的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)提供一種引線框架結(jié)構(gòu)及其封裝結(jié)構(gòu),它可使引線框架封裝體具備EMI電磁屏蔽需求,以滿足復(fù)雜電磁環(huán)境、5G市場(chǎng)下QFN類封裝體的電磁屏蔽要求。
本發(fā)明解決上述問題所采用的技術(shù)方案為:一種引線框架結(jié)構(gòu),它包括基島、引腳,所述基島包括外基島和內(nèi)基島,所述引腳包括外引腳和內(nèi)引腳,所述內(nèi)基島四角位置通過導(dǎo)電線延伸到切割道金屬,所述外引腳延伸到切割道金屬,所述內(nèi)引腳設(shè)置在外引腳的上方,所述內(nèi)引腳通過外引腳與切割道金屬相連。
一種引線框架的封裝結(jié)構(gòu),它包括引線框架,所述引線框架包括基島和引腳,所述基島包括外基島和內(nèi)基島,所述引腳包括外引腳和內(nèi)引腳,所述內(nèi)基島上通過粘結(jié)性材料設(shè)置有芯片,所述芯片與內(nèi)引腳之間通過金屬線相連接,所述基島、引腳和芯片外圍包封有塑封料形成塑封體,所述內(nèi)基島四角位置通過導(dǎo)電線延伸至塑封體側(cè)面,所述內(nèi)引腳不露出塑封體側(cè)面,所述外引腳露出塑封體側(cè)面,所述外引腳背離基島的側(cè)面與芯片塑封體側(cè)面外圍形成有一圈臺(tái)階,所述塑封料正面和四個(gè)側(cè)面設(shè)置有屏蔽層,所述基島通過導(dǎo)電線與屏蔽層相連接。
優(yōu)選的,所述臺(tái)階高度高于外引腳高度,低于內(nèi)引腳高度。
優(yōu)選的,所述導(dǎo)電線不是整片金屬,由分散的多個(gè)導(dǎo)電線組成。
優(yōu)選的,單顆封裝結(jié)構(gòu)側(cè)面設(shè)置有一圈邊緣導(dǎo)電線,所述邊緣導(dǎo)電線與引腳不導(dǎo)通,所述邊緣導(dǎo)電線通過導(dǎo)電線與屏蔽層相連接。
優(yōu)選的,單顆封裝結(jié)構(gòu)側(cè)面露出多條單獨(dú)的導(dǎo)電線側(cè)面,多條單獨(dú)的導(dǎo)線線間隔設(shè)置于相鄰的兩個(gè)引腳之間。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:
1、本發(fā)明可使引線框架封裝體具備電磁屏蔽需求,以滿足復(fù)雜電磁環(huán)境、5G市場(chǎng)下QFN類封裝體的電磁屏蔽要求;
2、本發(fā)明通過導(dǎo)電線外露且導(dǎo)電線可根據(jù)需要設(shè)置不同位置,同時(shí)內(nèi)引腳不裸露,外引腳內(nèi)縮,使整個(gè)封裝體四個(gè)側(cè)壁接地部分與外層屏蔽層的接觸面積增加,可降低外界電磁信號(hào)通過引腳部分缺口影響產(chǎn)品芯片性能;
3、本發(fā)明當(dāng)切割形成臺(tái)階后,外引腳外側(cè)壁可見,滿足引腳側(cè)面浸潤(rùn)需求,提高封裝體與PCB板的焊接強(qiáng)度。
附圖說明
圖1為本發(fā)明一種引線框架的示意圖。
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