[發明專利]一種垂準儀和天頂儀的檢校方法

有效

• 申請號: 201910652236.6
• 申請日: 2019-07-18
• 公開（公告）號: CN110231055B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發明（設計）人: 賀磊;高俊強;儲征偉;段偉;丁海峰
• 申請（專利權）人: 南京市測繪勘察研究院股份有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種垂準儀和天頂儀的檢校方法，包括以下步驟：1）、全站儀對比檢驗法；2）、利用儀器檢校平臺校正。本方法在以往室外方法的基礎上，針對標靶板投點坐標測量及校準環節提出了完善措施，同時提高了投點坐標測量的可操作性和設備檢校精度，且作業流程更為方便，大大提高了檢校工作的效率，將對工程建設進度和質量把控起到了有利作用經工程試驗和使用，效果良好，可用于生產實踐。

技術領域

本發明涉及工程測量領域，具體為一種檢測垂準儀或天頂儀的投點質量的檢驗方法。

背景技術

隨著社會的發展，尤其是科學技術的進步，大大促進了社會生產力的飛速發展，城市化進程的不斷加快，尤其是人口的高度集中，為了滿足人們的生活和工作空間，許多樓宇如雨后春筍般拔地而起，且高度越建越高。同樣，高筍入云的樓宇建設，對于工程施工質量也提出了越來越高的要求。

高層或超高層建筑不斷涌現，用于控制其結構垂直度的垂準儀或天頂儀也不斷推陳出新，常用的有≤1/40000到≤1/200000多種型號儀器。由于目前儀器檢定機構不能提供或不具備國家計量規范所規定的全套檢校儀器設備，至使許多生產單位在使用中也碰到無法出具儀器檢定證書的問題。

光學垂準儀對點對從事大地測量儀器使用和檢定的測量工作人員來說并不是一個新問題，以往從事檢校的大多是1.5m左右或以內的對點工作，而當前垂直投點的高度早已突破了百米，在此情況下如何檢校此類儀器，是一個亟需解決的問題。

發明內容

為了解決上述現有技術中存在的不足，本發明提供了一種能夠很好的校驗儀器的垂準儀和天頂儀的檢校方法。

本發明的目的是這樣實現的：

一種垂準儀和天頂儀的檢校方法，包括以下步驟：

1）、全站儀對比檢驗法；2）、利用儀器檢校平臺校正。

所述的全站儀對比檢驗法，包括以下步驟：

（1）利用施工中的大樓或山地地形等，將光學天頂儀架設在一控制點P上，對中整平；

（2）在控制點P正上方30～50m處放置高精度刻度板；

（3）在附近另一地面控制點P1處架設高精度全站儀精確測量出控制點P和高精度刻度板上的小棱鏡的平面坐標；

（4）用天頂儀從控制點P向正上方放置的高精度刻度板進行投點，投測點為T1，固定并標注；

（5）用刻度尺在高精度刻度板上量取投測點T1的刻度值，利用小棱鏡的平面坐標，從而精確的計算投測點T1的坐標；

（6）比較點P和T1的平面坐標偏差；

（7）將天頂儀分別旋轉45°、135°、225°、315°重新投點四次，分別標注此四點為T2、T3、T4、T5，并重復步驟（5），比較點P和T2、T3、T4、T5的平面坐標偏差；

（8）取各偏差的平均值。

所述的利用儀器檢校平臺校正：將儀器安置在校正臺上，針對不同的儀器，校正步驟略有差異，對于垂準儀，只要將儀器整平，打開豎向的平行管燈管，平行管焦距調整到無窮遠，調整垂準儀的十字絲對準平行管內的十字絲即可（方法類似于水準儀調整十字絲），如果是光學的天頂儀，則首先要先校正天頂儀的水準氣泡，使得在任何方向氣泡均無偏差，然后將儀器放到該校正臺上對準豎向平行管，氣泡符合后，看儀器是否和平行管內十字絲有偏差，如有偏差，校正天頂儀十字絲，直至在任何方向都無偏差即可；

所述的高精度刻度板尺寸大小為50cm×50cm，刻度板最小單位為毫米，毫米以下估讀，每個格為10mm，刻度板為透明材質，便于固定投射的激光點；刻度板三個角點上設置可連接小棱鏡的裝置，可使用高精度全站儀測得每個角點的坐標值，再通過量取刻度板投點處的刻度值，可精確、便捷的量算出所投測點的平面坐標；