[發(fā)明專利]一種垂準(zhǔn)儀和天頂儀的檢校方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910652236.6
• 申請日: 2019-07-18
• 公開（公告）號: CN110231055B
• 公開（公告）日: 2022-09-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 賀磊;高俊強(qiáng);儲征偉;段偉;丁海峰
• 申請（專利權(quán)）人: 南京市測繪勘察研究院股份有限公司
• 主分類號: G01C25/00
• 分類號: G01C25/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種垂準(zhǔn)儀和天頂儀的檢校方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）、全站儀對比檢驗(yàn)法；2）、利用儀器檢校平臺校正；

所述的全站儀對比檢驗(yàn)法，包括以下步驟：

（1）利用施工中的大樓或山地地形，將光學(xué)天頂儀架設(shè)在一控制點(diǎn)P上，對中整平；

（2）在控制點(diǎn)P正上方30～50m處放置高精度刻度板；

（3）在附近另一地面控制點(diǎn)P1處架設(shè)高精度全站儀精確測量出控制點(diǎn)P和高精度刻度

板上的小棱鏡的平面坐標(biāo)；

（4）用天頂儀從控制點(diǎn)P向正上方放置的高精度刻度板進(jìn)行投點(diǎn)，投測點(diǎn)為T1，固定并標(biāo)注；

（5）用刻度尺在高精度刻度板上量取投測點(diǎn)T1的刻度值，利用小棱鏡的平面坐標(biāo)，從而精確的計算投測點(diǎn)T1的坐標(biāo)；

（6）比較點(diǎn)P和T1的平面坐標(biāo)偏差；

（7）將天頂儀分別旋轉(zhuǎn)45°、135°、225°、315°重新投點(diǎn)四次，分別標(biāo)注此四點(diǎn)為T2、T3、T4、T5，并重復(fù)步驟（5），比較點(diǎn)P和T2、T3、T4、T5的平面坐標(biāo)偏差；

（8）取各偏差的平均值；

所述的利用儀器檢校平臺校正：將儀器安置在校正臺上，針對不同的儀器，校正步驟略有差異，對于垂準(zhǔn)儀，只要將儀器整平，打開豎向的平行管燈管，平行管焦距調(diào)整到無窮遠(yuǎn)，調(diào)整垂準(zhǔn)儀的十字絲對準(zhǔn)平行管內(nèi)的十字絲即可，如果是光學(xué)的天頂儀，則首先要先校正天頂儀的水準(zhǔn)氣泡，使得在任何方向氣泡均無偏差，然后將儀器放到該校正臺上對準(zhǔn)豎向平行管，氣泡符合后，看儀器是否和平行管內(nèi)十字絲有偏差；如有偏差，校正天頂儀十字絲，直至在任何方向都無偏差即可；

所述的高精度刻度板尺寸大小為50cm×50cm，刻度板最小單位為毫米，毫米以下估讀，每個格為10mm，刻度板為透明材質(zhì)，便于固定投射的激光點(diǎn)；刻度板三個角點(diǎn)上設(shè)置可連接小棱鏡的裝置，使用高精度全站儀測得每個角點(diǎn)的坐標(biāo)值，再通過量取刻度板投點(diǎn)處的刻度值，量算出所投測點(diǎn)的平面坐標(biāo)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種垂準(zhǔn)儀和天頂儀的檢校方法，其特征在于：所述的高精度全站儀徠卡TS30，測角精度為0.5＂，測距精度為，為了保證精度，觀測4～8個測回取均值。