[發明專利]通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 201910630879.0
• 申請日: 2019-07-12
• 公開（公告）號: CN110489287B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 姜慶臣
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F13/40
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉曉政

本發明涉及一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質，包括以下步驟：S1：預處理步驟：S2：PCIE插槽掉電，模擬PCIE設備移除插槽；S3：獲取PCIE設備的在位信息；S4：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息；S5：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志；S6：PCIE插槽上電，模擬PCIE設備插入插槽；S7：獲取PCIE設備的在位信息；S8：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息；S9：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志。

技術領域

本發明屬于熱插拔測試技術領域，具體涉及一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質。

背景技術

傳統熱插拔技術是在主板上預留按鍵或者撥碼，當需要更換PCIE板卡或者板卡出現故障時，將按鍵按下，此時PCIE插槽斷電，對PCIE外插卡進行更換，此方法在開發階段測試比較占用資源。此為現有技術中存在的不足。

有鑒于此，本發明給出一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質的技術方案；以解決現有技術中存在的缺陷和問題。

發明內容

針對現有技術中存在的當需要更換PCIE板卡或者板卡出現故障時，將按鍵按下，此時PCIE插槽斷電，對PCIE外插卡進行更換，此方法在開發階段測試比較占用資源的問題；本發明提供一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質，以解決上述技術問題。

為實現上述目的，本發明給出以下技術方案：

第一方面，本發明提供一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法，包括以下步驟：

S1：預處理步驟：

獲取PCIE插槽的外插卡數據信息以及被測機臺系統的日志信息；

S2：PCIE插槽掉電，模擬PCIE設備移除插槽；

S3：獲取PCIE設備的在位信息，如果仍檢測到PCIE設備處于在位狀態，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果檢測到PCIE設備處于不在位狀態，則繼續執行下一步；

S4：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息，并將該數據信息與步驟S1中獲取的PCIE插槽的外插卡數據信息進行對比，兩者相比，如果不在位狀態的PCIE設備數據信息正確，則繼續下一步；否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

S5：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志，如果存在，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果不存在，則繼續下一步；

S6：PCIE插槽上電，模擬PCIE設備插入插槽；

S7：獲取PCIE設備的在位信息，如果檢測到PCIE設備處于不在位狀態，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果檢測到PCIE設備處于在位狀態，則繼續執行下一步；

S8：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息，并將該數據信息與步驟S1中獲取的PCIE插槽的外插卡數據信息進行對比；如果數據信息一致，則繼續執行下一步，否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

S9：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志，如果存在，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果不存在，則轉到步驟S2作循環測試。

作為優選，所述步驟S1中，通過lspci獲取被測PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第一文件中；外插卡信息包括：待測PCIE設備設備號、待測PCIE設備DeviceID信息、待測PCEI設備UEsta信息、待測PCIE設備CEsta信息、獲取待測PCIE設備的Speed以及Width信息；