[發明專利]通過Ipmitool測試熱插拔的方法、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 201910630879.0
• 申請日: 2019-07-12
• 公開（公告）號: CN110489287B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 姜慶臣
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F13/40
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉曉政

1.一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：預處理步驟：

獲取PCIE插槽的外插卡數據信息以及被測機臺系統的日志信息；

S2：PCIE插槽掉電，模擬PCIE設備移除插槽；

所述步驟S2的實現步驟如下：

通過ipmitool發送remove信息給CPLD，CPLD收到remove信息后傳遞給CPU，CPU發出信號將Pltform_RST拉低，PCIE鏈路斷開，RST拉低后CPU將信息回傳給CPLD，將VR電斷開，PCIE插槽掉電，模擬PCIE設備移除；

S3：獲取PCIE設備的在位信息，如果仍檢測到PCIE設備處于在位狀態，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果檢測到PCIE設備處于不在位狀態，則繼續執行下一步；

S4：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息，并將該數據信息與步驟S1中獲取的PCIE插槽的外插卡數據信息進行對比，兩者相比，如果不在位狀態的PCIE設備數據信息正確，則繼續下一步；否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

所述步驟S4具體實現如下：

通過lspci指令獲取被測PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第二文件中；該步驟獲取的信息包括待測PCIE設備的設備號，以及待測PCIE設備的DeviceID信息；與步驟S1中獲取的數據進行對比，如果不在位狀態的PCIE設備號以及DeviceID正確，則繼續執行下一步，否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

S5：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志，如果存在，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果不存在，則繼續下一步；

S6：PCIE插槽上電，模擬PCIE設備插入插槽；

所述步驟S6具體實現如下：

通過ipmitool發送insert信息給CPLD，CPLD收到insert信息后傳遞給CPU，CPU發出信號將Pltform_RST拉高，PCIE鏈路閉合，RST拉高后CPU將信息回傳給CPLD，將VR電導通，PCIE插槽上電，模擬PCIE插入；

S7：獲取PCIE設備的在位信息，如果檢測到PCIE設備處于不在位狀態，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果檢測到PCIE設備處于在位狀態，則繼續執行下一步；

S8：獲取PCIE插槽的外插卡數據信息，并將該數據信息與步驟S1中獲取的PCIE插槽的外插卡數據信息進行對比；如果數據信息一致，則繼續執行下一步，否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

所述步驟S8具體實現如下：

通過lspci指令獲取被測PCIE插槽上的外插卡信息并保存至第三文件，

將第三文件與第一文件存儲數據信息進行對比；如果待測PCIE設備設備號、待測PCIE設備DeviceID信息、待測PCEI設備UEsta信息、待測PCIE設備CEsta信息、獲取待測PCIE設備的Speed以及Width信息均對應一致，則繼續執行下一步操作，否則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；

S9：查看被測機臺系統的日志信息是否存在異常fail或者error日志，如果存在，則測試結果為主板熱插拔功能失效，直接退出測試方法；如果不存在，則轉到步驟S2作循環測試。

2.根據權利要求1所述的一種通過Ipmitool測試熱插拔的方法，其特征在于，所述步驟S1中，通過lspci獲取被測PCIE插槽上的外插卡信息并保存第一文件；外插卡信息包括：待測PCIE設備設備號、待測PCIE設備DeviceID信息、待測PCEI設備UEsta信息、待測PCIE設備CEsta信息、獲取待測PCIE設備的Speed以及Width信息；

被測機臺系統的日志信息包括Dmesg、Messages、Mcelog日志信息。