[發(fā)明專利]一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910621145.6
• 申請(qǐng)日: 2019-07-10
• 公開（公告）號(hào): CN110379737A
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 艾兵
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海贏朔電子科技股份有限公司
• 主分類號(hào): H01L21/67
• 分類號(hào): H01L21/67;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
• 代理公司: 北京律遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11574
• 代理人: 丁清鵬

本發(fā)明公開了一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備，包括設(shè)備柜，所述設(shè)備柜頂端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤站，且設(shè)備柜頂端依次設(shè)置有沿轉(zhuǎn)盤站外圓周分布的振動(dòng)盤入料站、轉(zhuǎn)向站、測(cè)試站、鐳射站、不良品排出站、封裝卷盤式收料機(jī)構(gòu)和tray盤式收料機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)盤站與鐳射站之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)向站和振動(dòng)盤之間位置處設(shè)有用于檢測(cè)芯片方向的影像檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近測(cè)試站和鐳射站之間位置處設(shè)有第一打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)。本發(fā)明自動(dòng)化程度高，節(jié)省人力，提高工作效率，操作簡(jiǎn)便，減少操作工序，提高了生產(chǎn)效率，出料方式多樣，滿足不同生產(chǎn)需要。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體行業(yè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備。

背景技術(shù)

QFN(Quad Flat No-leadPackage，方形扁平無引腳封裝)，表面貼裝型封裝之一。現(xiàn)在多稱為L(zhǎng)CC。QFN是日本電子機(jī)械工業(yè)會(huì)規(guī)定的名稱。封裝四側(cè)配置有電極觸點(diǎn)，由于無引腳，貼裝占有面積比QFP小，高度比QFP低。

QFN芯片制品生產(chǎn)工藝復(fù)雜、生產(chǎn)設(shè)備昂貴、測(cè)試參數(shù)多，收料模式多，現(xiàn)有的QFN芯片印字收料設(shè)備，效率不高、生產(chǎn)周期長(zhǎng)、生產(chǎn)成本高，自動(dòng)化程度不高，所以現(xiàn)提出一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)，而提出的一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用了如下技術(shù)方案：

一種QFN芯片的自動(dòng)測(cè)試印字收料設(shè)備，包括設(shè)備柜，所述設(shè)備柜頂端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤站，且設(shè)備柜頂端依次設(shè)置有沿轉(zhuǎn)盤站外圓周分布的振動(dòng)盤入料站、轉(zhuǎn)向站、測(cè)試站、鐳射站、不良品排出站、封裝卷盤式收料機(jī)構(gòu)和tray盤式收料機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)盤站與鐳射站之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤，所述設(shè)備柜頂端靠近轉(zhuǎn)向站和振動(dòng)盤之間位置處設(shè)有用于檢測(cè)芯片方向的影像檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近測(cè)試站和鐳射站之間位置處設(shè)有第一打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近鐳射站與鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤之間位置處設(shè)有第二打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜頂端靠近鐳射站與轉(zhuǎn)盤站之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)盤站包括轉(zhuǎn)盤，且轉(zhuǎn)盤側(cè)壁邊緣位置處固定設(shè)置有等距離呈環(huán)形分布的真空吸料筆，轉(zhuǎn)盤底端設(shè)有驅(qū)動(dòng)其旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)盤驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，所述轉(zhuǎn)盤驅(qū)動(dòng)馬達(dá)底端設(shè)有支架，且支架通過螺栓與設(shè)備柜形成固定連接，所述轉(zhuǎn)盤站頂端套設(shè)有防護(hù)罩，所述防護(hù)罩頂端連接有L形支撐架，且L形支撐架遠(yuǎn)離防護(hù)罩一端與設(shè)備柜頂端通過螺栓固定。

進(jìn)一步的，所述振動(dòng)盤入料站包括振動(dòng)盤座，且所述振動(dòng)盤座頂端一側(cè)設(shè)有振動(dòng)盤，所述振動(dòng)盤座頂端設(shè)有導(dǎo)料盤，所述導(dǎo)料盤側(cè)壁邊緣位置處設(shè)有呈環(huán)形分布的環(huán)形導(dǎo)料槽，所述導(dǎo)料盤側(cè)壁邊緣沿切線方向設(shè)置有導(dǎo)料槽，所述導(dǎo)料槽一端與轉(zhuǎn)盤相靠近，且導(dǎo)料槽另外一端與環(huán)形導(dǎo)料槽相連通。

進(jìn)一步的，所述轉(zhuǎn)向站包括用于與設(shè)備柜固定連接的轉(zhuǎn)向站支架，且轉(zhuǎn)向站支架一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)向驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，所述轉(zhuǎn)向驅(qū)動(dòng)馬達(dá)的輸出軸連接有轉(zhuǎn)向軸，且轉(zhuǎn)向軸連接有導(dǎo)模架。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試站的數(shù)量為N個(gè)，且N為正整數(shù)，所述測(cè)試站包括用于與設(shè)備柜固定連接的測(cè)試站支架，且測(cè)試站支架頂端一側(cè)設(shè)有引腳插座，且引腳插座通過信號(hào)線連接有開爾文測(cè)試儀。

進(jìn)一步的，所述鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤包括用于與設(shè)備柜連接的打標(biāo)盤支架，且打標(biāo)盤支架一側(cè)設(shè)有打標(biāo)盤驅(qū)動(dòng)馬達(dá)，所述打標(biāo)盤驅(qū)動(dòng)馬達(dá)輸出軸固定連接有打標(biāo)盤。

進(jìn)一步的，所述鐳射站包括用于與設(shè)備柜連接的鐳射站支架，且鐳射站支架頂端固定設(shè)置有傾斜設(shè)置的鐳射器，所述鐳射器優(yōu)選為費(fèi)雷斯鐳射器。

進(jìn)一步的，所述第一打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括固定設(shè)置在設(shè)備柜頂端的可調(diào)支架，且可調(diào)支架一側(cè)設(shè)有光源發(fā)生器和影像傳感器。

進(jìn)一步的，所述第二打標(biāo)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括與設(shè)備柜頂端固定連接的基座，且基座頂端固定設(shè)置有D影像檢測(cè)器。