[發(fā)明專利]一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備

在審

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• 申請日: 2019-07-10
• 公開（公告）號: CN110379737A
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 艾兵
• 申請（專利權(quán)）人: 上海贏朔電子科技股份有限公司
• 主分類號: H01L21/67
• 分類號: H01L21/67;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
• 代理公司: 北京律遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 11574
• 代理人: 丁清鵬

1.一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，包括設(shè)備柜(12)，其特征在于，所述設(shè)備柜(12)頂端設(shè)置有轉(zhuǎn)盤站(2)，且設(shè)備柜(12)頂端依次設(shè)置有沿轉(zhuǎn)盤站(2)外圓周分布的振動盤入料站(1)、轉(zhuǎn)向站(3)、測試站(4)、鐳射站(6)、不良品排出站(9)、封裝卷盤式收料機(jī)構(gòu)(10)和tray盤式收料機(jī)構(gòu)(11)，所述設(shè)備柜(12)頂端靠近轉(zhuǎn)盤站(2)與鐳射站(6)之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤(5)，所述設(shè)備柜(12)頂端靠近轉(zhuǎn)向站(3)和振動盤之間位置處設(shè)有用于檢測芯片方向的影像檢測機(jī)構(gòu)，所述設(shè)備柜(12)頂端靠近測試站(4)和鐳射站(6)之間位置處設(shè)有第一打標(biāo)檢測機(jī)構(gòu)(7)，所述設(shè)備柜(12)頂端靠近鐳射站(6)與鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤(5)之間位置處設(shè)有第二打標(biāo)檢測機(jī)構(gòu)(8)，所述設(shè)備柜(12)頂端靠近鐳射站(6)與轉(zhuǎn)盤站(2)之間位置處設(shè)有鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤(5)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述轉(zhuǎn)盤站(2)包括轉(zhuǎn)盤(2-2)，且轉(zhuǎn)盤(2-2)側(cè)壁邊緣位置處固定設(shè)置有等距離呈環(huán)形分布的真空吸料筆(2-1)，轉(zhuǎn)盤(2-2)底端設(shè)有驅(qū)動其旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)盤驅(qū)動馬達(dá)(2-3)，所述轉(zhuǎn)盤驅(qū)動馬達(dá)(2-3)底端設(shè)有支架(2-4)，且支架(2-4)通過螺栓與設(shè)備柜(12)形成固定連接，所述轉(zhuǎn)盤站(2)頂端套設(shè)有防護(hù)罩(14)，所述防護(hù)罩(14)頂端連接有L形支撐架(13)，且L形支撐架(13)遠(yuǎn)離防護(hù)罩(14)一端與設(shè)備柜(12)頂端通過螺栓固定。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述振動盤入料站(1)包括振動盤座(1-4)，且所述振動盤座(1-4)頂端一側(cè)設(shè)有振動盤(1-1)，所述振動盤座(1-4)頂端設(shè)有導(dǎo)料盤(1-2)，所述導(dǎo)料盤(1-2)側(cè)壁邊緣位置處設(shè)有呈環(huán)形分布的環(huán)形導(dǎo)料槽，所述導(dǎo)料盤(1-2)側(cè)壁邊緣沿切線方向設(shè)置有導(dǎo)料槽(1-3)，所述導(dǎo)料槽(1-3)一端與轉(zhuǎn)盤(2-2)相靠近，且導(dǎo)料槽(1-3)另外一端與環(huán)形導(dǎo)料槽相連通。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述轉(zhuǎn)向站(3)包括用于與設(shè)備柜(12)固定連接的轉(zhuǎn)向站支架(3-1)，且轉(zhuǎn)向站支架(3-1)一側(cè)設(shè)有轉(zhuǎn)向驅(qū)動馬達(dá)(3-3)，所述轉(zhuǎn)向驅(qū)動馬達(dá)(3-3)的輸出軸連接有轉(zhuǎn)向軸(3-2)，且轉(zhuǎn)向軸(3-2)連接有導(dǎo)模架。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述測試站(4)的數(shù)量為N個，且N為正整數(shù)，所述測試站(4)包括用于與設(shè)備柜(12)固定連接的測試站支架(4-1)，且測試站支架(4-1)頂端一側(cè)設(shè)有引腳插座(4-2)，且引腳插座(4-2)通過信號線連接有開爾文測試儀。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述鐳射打標(biāo)轉(zhuǎn)盤(5)包括用于與設(shè)備柜(12)連接的打標(biāo)盤支架(5-3)，且打標(biāo)盤支架(5-3)一側(cè)設(shè)有打標(biāo)盤驅(qū)動馬達(dá)(5-2)，所述打標(biāo)盤驅(qū)動馬達(dá)(5-2)輸出軸固定連接有打標(biāo)盤(5-1)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述鐳射站(6)包括用于與設(shè)備柜(12)連接的鐳射站支架(6-1)，且鐳射站支架(6-1)頂端固定設(shè)置有傾斜設(shè)置的鐳射器(6-2)，所述鐳射器(6-2)優(yōu)選為費(fèi)雷斯鐳射器。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述第一打標(biāo)檢測機(jī)構(gòu)(7)包括固定設(shè)置在設(shè)備柜(12)頂端的可調(diào)支架(7-1)，且可調(diào)支架(7-1)一側(cè)設(shè)有光源發(fā)生器(7-2)和影像傳感器(7-3)。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述第二打標(biāo)檢測機(jī)構(gòu)(8)包括與設(shè)備柜(12)頂端固定連接的基座(8-2)，且基座(8-2)頂端固定設(shè)置有3D影像檢測器(8-1)。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種QFN芯片的自動測試印字收料設(shè)備，其特征在于，所述不良品排出站(9)一側(cè)設(shè)有與轉(zhuǎn)盤站(2)相適配的進(jìn)料孔(9-1)，且不良品排出站(9)內(nèi)設(shè)有入料盒(9-2)，所述不良品排出站(9)內(nèi)設(shè)有連通入料盒(9-2)和進(jìn)料孔(9-1)的滑道，所述不良品排出站(9)數(shù)量為N個，且N為正整數(shù)。