[發(fā)明專利]一種物體尺寸測(cè)量方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910619452.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110132144B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李小偉;方穎 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 常州伊博艾利斯自動(dòng)化有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/02 | 分類號(hào): | G01B11/02;G01B11/04 |
| 代理公司: | 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231 | 代理人: | 劉松 |
| 地址: | 213161 江蘇省常州市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 待測(cè)量物體 光電探測(cè)器 光學(xué)鏡頭 紅外輻射能量 物體尺寸測(cè)量 光反射鏡 冷卻模塊 掃描系統(tǒng) 測(cè)量 處理器連接 測(cè)量領(lǐng)域 處理器 反射 冷卻 能源 | ||
本發(fā)明涉及測(cè)量領(lǐng)域,本發(fā)明公開(kāi)了一種物體尺寸測(cè)量方法及系統(tǒng),包括掃描系統(tǒng)、冷卻模塊和處理器,所述掃描系統(tǒng)包括光反射鏡、光學(xué)鏡頭和光電探測(cè)器,所述光反射鏡將接收的紅外輻射能量反射給所述光學(xué)鏡頭,所述光學(xué)鏡頭連接所述光電探測(cè)器,所述光學(xué)鏡頭及光電探測(cè)器安裝于所述冷卻模塊內(nèi),所述處理器連接所述光電探測(cè)器,用于根據(jù)接收的紅外輻射能量計(jì)算待測(cè)量物體的長(zhǎng)度及寬度尺寸。本發(fā)明不僅能測(cè)量待測(cè)量物體的溫度,而且還能測(cè)量待測(cè)量物體的長(zhǎng)度和寬度,適用范圍更加廣泛,同時(shí)本發(fā)明測(cè)量待測(cè)量物體的尺寸時(shí),無(wú)需冷卻,節(jié)省了能源的損耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及尺寸測(cè)量領(lǐng)域,具體涉及一種物體尺寸測(cè)量方法及系統(tǒng)。
技術(shù)背景
目前鋼鐵廠的鋼胚從鑄鋼爐中出來(lái)后,因?yàn)闇囟容^高無(wú)法直接進(jìn)行測(cè)量,需對(duì)鋼胚進(jìn)行冷卻,然后才能進(jìn)行測(cè)量,之后再進(jìn)入下一步工序,很多時(shí)候下一步工序需要鋼胚再次進(jìn)行加熱,這樣就比較浪費(fèi)能源以及生產(chǎn)企業(yè)的產(chǎn)能。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決鋼胚在高溫情況下無(wú)法直接測(cè)量尺寸的問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種物體尺寸測(cè)量方法,解決現(xiàn)有技術(shù)中需要將鋼胚冷卻后再進(jìn)行測(cè)量的問(wèn)題,能夠節(jié)省能源并且提供生產(chǎn)企業(yè)的產(chǎn)能。
一種物體尺寸測(cè)量方法,包括:
獲取光斑信息,所述光斑信息包括掃描系統(tǒng)掃描范圍內(nèi)的每個(gè)光斑的長(zhǎng)軸尺寸D;
獲取待測(cè)量物體的輪廓信息,所述輪廓信息通過(guò)掃描系統(tǒng)掃描靜態(tài)的待測(cè)量物體獲得;
根據(jù)所述待測(cè)量物體的輪廓信息對(duì)應(yīng)的光斑信息確定所述待測(cè)量物體的尺寸;
其中,所述掃描系統(tǒng)為紅外掃描測(cè)溫系統(tǒng),所述光斑的長(zhǎng)軸尺寸D的測(cè)量方法為:
獲取掃描系統(tǒng)至待測(cè)量物體垂直距離Y和掃描系統(tǒng)視角范圍內(nèi)的光斑數(shù)量N;
獲取掃描系統(tǒng)的物距比,所述物距比配置為R:1;
獲取掃描系統(tǒng)的掃描視角范圍內(nèi)的角度;
計(jì)算所述光斑的長(zhǎng)軸尺寸D,當(dāng)所述光斑為正向光斑時(shí),所述正向光斑的長(zhǎng)軸尺寸D1計(jì)算方式為:;
當(dāng)所述光斑為斜向光斑時(shí),計(jì)算所述斜向光斑至所述掃描系統(tǒng)的最長(zhǎng)距離,n為正向光斑一側(cè)的第n個(gè)斜向光斑,然后計(jì)算所述斜向光斑的長(zhǎng)軸尺寸。
進(jìn)一步地,所述待測(cè)量物體的尺寸包括長(zhǎng)度尺寸L,測(cè)量長(zhǎng)度尺寸L時(shí)選擇軸向掃描,長(zhǎng)度尺寸L的計(jì)算方法為先獲取所述待測(cè)量物體的輪廓長(zhǎng)度方向上占據(jù)的光斑對(duì)應(yīng)的光斑信息,然后計(jì)算所述待測(cè)量物體的長(zhǎng)度方向上對(duì)應(yīng)的所有的光斑的長(zhǎng)軸尺寸D之和,即得到長(zhǎng)度尺寸L。
進(jìn)一步地,所述待測(cè)量物體的尺寸包括寬度尺寸W,測(cè)量寬度尺寸W時(shí)選擇徑向掃描,寬度尺寸W的計(jì)算方法為先獲取所述待測(cè)量物體的輪廓寬度方向上占據(jù)的光斑對(duì)應(yīng)的光斑信息,然后計(jì)算所述待測(cè)量物體的寬度方向上對(duì)應(yīng)的所有的光斑的長(zhǎng)軸尺寸D之和,即得到寬度尺寸W。
進(jìn)一步地,如果所述待測(cè)量物體占據(jù)所述光斑的部分時(shí),將所述光斑按所述光斑的長(zhǎng)軸尺寸Dn等比例劃分為P個(gè)小光斑,然后根據(jù)所述待測(cè)量物體占據(jù)的所述小光斑的個(gè)數(shù)計(jì)算出所述待測(cè)量物體占據(jù)部分的光斑長(zhǎng)軸尺寸Dx。
一種物體尺寸測(cè)量方法,包括:
獲取光斑信息,所述光斑信息包括掃描系統(tǒng)掃描范圍內(nèi)的每個(gè)光斑的長(zhǎng)軸尺寸D;
獲取待測(cè)量物體的輪廓信息,所述輪廓信息通過(guò)掃描系統(tǒng)掃描動(dòng)態(tài)的待測(cè)量物體獲得;
根據(jù)所述待測(cè)量物體的輪廓信息對(duì)應(yīng)的光斑信息確定所述待測(cè)量物體的尺寸;
其中,動(dòng)態(tài)的待測(cè)量物體的長(zhǎng)度尺寸L測(cè)量方法如下:
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