[發明專利]一種物體尺寸測量方法及系統

有效

• 申請號: 201910619452.0
• 申請日: 2019-07-10
• 公開（公告）號: CN110132144B
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 李小偉;方穎
• 申請（專利權）人: 常州伊博艾利斯自動化有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G01B11/04
• 代理公司: 常州佰業騰飛專利代理事務所(普通合伙) 32231
• 代理人: 劉松

1.一種物體尺寸測量方法，其特征在于，包括：

獲取光斑信息，所述光斑信息包括掃描系統掃描范圍內的每個光斑的長軸尺寸D，所述光斑的長軸尺寸D的測量方法為：

獲取掃描系統至待測量物體垂直距離Y和掃描系統視角范圍內的光斑數量N；

獲取掃描系統的物距比，所述物距比配置為R：1；

獲取掃描系統的掃描視角范圍內的角度；

計算所述光斑的長軸尺寸D，當所述光斑為正向光斑時，所述正向光斑的長軸尺寸D₁計算方式為：；

當所述光斑為斜向光斑時，計算所述斜向光斑至所述掃描系統的最長距離，n為正向光斑一側的第n個斜向光斑，然后計算所述斜向光斑的長軸尺寸；

獲取待測量物體的輪廓信息，所述輪廓信息通過掃描系統掃描動態的待測量物體獲得；

根據所述待測量物體的輪廓信息對應的光斑信息確定所述待測量物體的尺寸；

其中，所述掃描系統為紅外掃描測溫系統，動態的待測量物體的長度尺寸L測量方法如下：

所述待測量物體長度方向的一端設置為參考位置；

所述掃描系統對所述待測量物體至少進行兩次掃描，第一次掃描時，記錄所述參考位置占據的所述光斑為A，第二次掃描時，記錄所述參考位置占據的所述光斑為B，然后計算B到A之間的距離；

計算待測量物體運動速度V，所述運動速度V計算方式為：

V=B到A之間的距離/一次掃描所用的時間t；

如果所述待測量物體運動方向與所述掃描系統掃描方向一致時，所述待測量物體的長度L計算方式為：L=M-Vt，其中t為一次掃描所用的時間，M為一次掃描所述待測量物體占據所述光斑的長軸尺寸D之和；如果所述待測量物體運動方向與所述掃描系統掃描方向相反時，所述待測量物體的長度L計算方式為：L=M+Vt，其中t為一次掃描所用的時間，M為一次掃描所述待測量物體占據所述光斑的長軸尺寸D之和。

2.一種物體尺寸測量系統，用于如權利要求1所述的物體尺寸測量方法，其特征在于，包括：

紅外測溫掃描儀，所述紅外測溫掃描儀包括光反射鏡、光學鏡頭和光電探測器，所述光反射鏡將接收所述待測量物體的紅外輻射能量并反射給所述光學鏡頭，所述光學鏡頭連接所述光電探測器；

處理器，所述處理器連接所述光電探測器，用于接收所述光電探測器的光電信號并轉換為光斑信息和待測量物體的輪廓信息，然后計算待測量物體的尺寸。

3.根據權利要求2所述的物體尺寸測量系統，其特征在于，所述光學鏡頭垂直安裝于所述光反射鏡，掃描時所述光反射鏡進行掃描動作并將待測量物體的紅外輻射能量發射給所述光學鏡頭。