[發明專利]基于地質走向分析的變面元平面插值方法

有效

• 申請號: 201910618381.2
• 申請日: 2019-07-09
• 公開（公告）號: CN110390702B
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 吳明榮;韓宏偉;彭英;曲志鵬;隋國華;陳林;孫興剛
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所(普通合伙) 37224
• 代理人: 崔曉艷

本發明提供一種基于地質走向分析的變面元平面插值方法，包括：步驟1，輸入平面散點數據；步驟2，對于步驟1輸入的平面散點數據，根據分析精度要求定義分析網格，在分析網格內通過計算不同方位最小方向導數確定為該點地質走向；步驟3，以步驟2中得到的地質走向為長軸方向，設計橢圓形插值面元；步驟4，以步驟3中定義的插值橢圓為分析面元，進行地質方向約束的平面散點數據插值；步驟5，利用步驟4中得到的插值數據，勾繪等值圖并進行地質驗證。該基于地質走向分析的變面元平面插值方法使預測結果更加符合地質規律，提高了地質研究人員利用預測結果進一步分析解決地質問題的準確性。

技術領域

本發明涉及地質與地質統計學技術領域，特別是涉及到一種基于地質走向分析的變面元平面插值方法。

背景技術

地質統計學中，利用平面上有限的已知地質屬性預測任一點地質屬性時通常會用到各種平面插值方法，現有插值方法通常通過定義插值半徑R，利用以插值點為圓心、R為半徑的圓形插值面元中的已知點為約束條件，計算插值點的地質屬性值。這種插值方法的缺陷在于很少考慮地質屬性普遍存在走向性，即在不同方向地質屬性值變化的快慢有很大差異；同時，對于插值半徑R的確定沒有任何定量的方法，往往帶有一定的隨意性，不能充分體現已知散點數據之間的地質相關性。

為此我們發明了一種新的基于地質走向分析的變面元平面插值方法，解決了以上技術問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種可以提高利用已知散點數據進行地質屬性平面插值的準確性與合理性的基于地質走向分析的變面元平面插值方法。

本發明的目的可通過如下技術措施來實現：基于地質走向分析的變面元平面插值方法，該基于地質走向分析的變面元平面插值方法包括：步驟1，輸入平面散點數據；步驟2，對于步驟1輸入的平面散點數據，根據分析精度要求定義分析網格，在分析網格內通過計算不同方位最小方向導數確定為該點地質走向；步驟3，以步驟2中得到的地質走向為長軸方向，設計橢圓形插值面元；步驟4，以步驟3中定義的插值橢圓為分析面元，進行地質方向約束的平面散點數據插值；步驟5，利用步驟4中得到的插值數據，勾繪等值圖并進行地質驗證。

本發明的目的還可通過如下技術措施來實現：

在步驟1中，按照X、Y、A三列結構輸入平面地質屬性散點數據。

在步驟2中，根據精度要求定義分析網格，在分析網格內按一定步長計算0-180°方位輸入散點數據的方向導數，記錄最小方向導數與最大方向導數大小、方位。

在步驟2中，地質走向的確定按照以下方法完成：

設a＝f(x,y)在地面某點P(x,y)的某領域有定義，正北方向方位角為0°；引射線l，與正北方向夾角為則P點沿射線l的方向導數定義為

方向導數表示地質屬性a從P點沿射線l方向的變化率，最小方向導數對應方位角代表地質走向。

在步驟3中，根據步驟2中計算得到的最小方向導數對應方位確定橢圓長軸方向；根據長軸方向方向導數與短軸方向方向導數大小關系，確定橢圓長軸與短軸之比；根據沿射線l方向上二次導數最近的極值點確定長軸的大小。

在步驟4中，將橢圓形插值面元作為分析面元，定義橢圓分析面元的方法：

橢圓方向定義為最小方向導數對應方位角

橢圓離心率利用長軸方向與短軸方向對應的方向導數求得：

設長軸與短軸方向方向導數分別為a，b，令則橢圓離心率e＝c/a；