[發明專利]基于地質走向分析的變面元平面插值方法

有效

• 申請號: 201910618381.2
• 申請日: 2019-07-09
• 公開（公告）號: CN110390702B
• 公開（公告）日: 2022-11-08
• 發明（設計）人: 吳明榮;韓宏偉;彭英;曲志鵬;隋國華;陳林;孫興剛
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所(普通合伙) 37224
• 代理人: 崔曉艷

1.基于地質走向分析的變面元平面插值方法，其特征在于，該基于地質走向分析的變面元平面插值方法包括：

步驟1，輸入平面地質屬性散點數據；

步驟2，對于步驟1輸入的平面地質屬性散點數據，根據分析精度要求定義分析網格，在分析網格內通過計算不同方位最小方向導數確定為所述分析網格地質走向；

步驟3，以步驟2中得到的地質走向為長軸方向，設計橢圓形插值面元；

步驟4，以步驟3中定義的插值橢圓為分析面元，進行地質方向約束的平面地質屬性散點數據插值；

步驟5，利用步驟4中得到的插值數據，勾繪等值圖并進行地質驗證；

在步驟2中，根據精度要求定義分析網格，在分析網格內按一定步長計算0-180°方位輸入平面地質屬性散點數據的方向導數，記錄最小方向導數與最大方向導數大小、方位；地質走向的確定按照以下方法完成：

地質走向的確定按照以下方法完成：

設a＝f(x,y)在地面某點P(x,y)的某鄰 域有定義，正北方向方位角為0°；引射線l，與正北方向夾角為則P點沿射線l的方向導數定義為

方向導數表示地質屬性a從P點沿射線l方向的變化率，最小方向導數對應方位角代表地質走向；

在步驟4中，將橢圓形插值面元作為分析面元，定義橢圓分析面元的方法：

橢圓方向定義為最小方向導數對應方位角

橢圓離心率利用長軸方向與短軸方向對應的方向導數求得：

設長軸與短軸方向方向導數分別為a，b，令則橢圓離心率e＝c/a；

對于在步驟1中輸入的平面地質屬性散點數據，在分析網格內按一定步長計算0-180°方位輸入平面地質屬性散點數據的方向導數，求得最小方向導數；對于最小方向導數構成的網格數據沿地質走向進行二次求導，確定該方向上二次導數的第一個極值點Pˊ(xˊ，yˊ)，原點P(x，y)與極值點之間的距離定義為橢圓長軸長度a。

2.根據權利要求1所述的基于地質走向分析的變面元平面插值方法，其特征在于，在步驟1中，按照X、Y、A三列結構輸入平面地質屬性散點數據。

3.根據權利要求1所述的基于地質走向分析的變面元平面插值方法，其特征在于，在步驟3中，根據步驟2中計算得到的最小方向導數對應方位確定橢圓長軸方向；根據長軸方向方向導數與短軸方向方向導數大小關系，確定橢圓長軸與短軸之比；根據沿射線l方向上二次導數最近的極值點確定長軸的大小。

4.根據權利要求1所述的基于地質走向分析的變面元平面插值方法，其特征在于，在步驟4中，對于分析網格中的任意點，插值計算所使用的橢圓分析面元的方向、離心率及長軸大小是可變的。

5.根據權利要求1所述的基于地質走向分析的變面元平面插值方法，其特征在于，在步驟5中，對于步驟2中定義的分析網格上的任意點，以步驟3中得到的橢圓形分析面元作為約束，進行平面插值，利用插值結果勾繪等值線，并進行地質驗證。