[發明專利]一種預測恒溫晶振老化率的裝置及方法

有效

• 申請號: 201910585624.7
• 申請日: 2019-07-01
• 公開（公告）號: CN110309593B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 林潮興;劉朝勝;邱文才;張輝
• 申請（專利權）人: 廣東大普通信技術股份有限公司
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06N3/04;G06N3/06;G06N3/08
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明提供了一種預測恒溫晶振老化率的方法，包括：按照預設采樣間隔獲取恒溫晶振與參考源之間的相位差；若所述相位差小于或等于預設閾值，則所述恒溫晶振處于參考源鎖定狀態，按照預設獲取間隔獲取所述恒溫晶振的狀態參數至預設樣本量閾值，并根據獲取的狀態參數確定對應的老化率BP神經網絡算法，所述狀態參數包括電壓參數、溫度參數、振動頻率參數、壓力參數及磁場參數中至少三種；若所述相位差大于預設閾值，則判斷所述恒溫晶振丟失所述參考源，再獲取與老化率BP神經網絡算法包含的狀態參數種類相同的狀態參數，根據每個狀態參數及所述老化率BP神經網絡算法確定對應的老化率。本發明的預測恒溫晶振老化率的方法能夠簡化建模難度，提高精度。

技術領域

本發明實施例涉及時間同步技術領域，尤其涉及一種預測恒溫晶振老化率的裝置及方法。

背景技術

現有的時間同步系統鎖定參考源的方法為當有外部1PPS參考源接入時，恒溫晶振鎖定外部參考源，當恒溫晶振能穩定地鎖定外部1PPS參考源時，開始建立老化補償模型，老化模型只是簡單地設定為線性模型，根據鎖定的時長得到固定的老化率。但是由于石英晶振、電子元器件等都存在老化現象，促使恒溫晶振的頻率隨工作時間的增加而呈現緩慢變化的趨勢，雖然這種趨勢是非常緩慢的，而且恒溫晶振自身的變化也會影響老化率，使得采用傳統的恒溫晶振線性老化率預測模型，精度不高，頻率變化沒有規律性。

發明內容

本發明實施例的目的在于提出一種預測恒溫晶振老化率的裝置及方法，能夠簡化建模難度，且提高精度。

為達此目的，本發明實施例采用以下技術方案：

第一方面，本發明實施例提供一種預測恒溫晶振老化率的方法，包括：

按照預設采樣間隔獲取恒溫晶振與參考源之間的相位差；

若所述相位差小于或等于預設閾值，則所述恒溫晶振處于參考源鎖定狀態，按照預設獲取間隔獲取所述恒溫晶振的狀態參數至預設樣本量閾值，并根據獲取的狀態參數確定對應的老化率BP神經網絡算法，所述狀態參數包括電壓參數、溫度參數、振動頻率參數、壓力參數及磁場參數中至少三種；

若所述相位差大于預設閾值，則判斷所述恒溫晶振丟失所述參考源，再獲取與老化率BP神經網絡算法包含的狀態參數種類相同的狀態參數，根據每個狀態參數及所述老化率BP神經網絡算法確定對應的老化率。

進一步的，根據獲取的狀態參數確定對應的老化率BP神經網絡算法包括：

根據獲取的狀態參數的種類個數確定輸入層單元個數，根據所述老化率確定輸出層單元個數，并根據所述輸入層單元個數及所述輸出層單元個數確定隱含層單元個數；

確定所述隱含層及所述輸出層各自的傳遞函數；

將每個獲取的狀態參數進行歸一化處理；

根據歸一化處理的數據及所述傳遞函數確定對應的老化率BP神經網絡算法。

進一步的，并根據所述輸入層單元個數及所述輸出層單元個數確定隱含層單元個數為：

其中，H為隱含層單元個數，M為輸入層單元個數，N為輸出層單元個數。

進一步的，歸一化處理為：

其中，y_k為歸一化的輸出值，x_k為原始數據，x_max為原始數據的最大值，x_mix為原始數據的最小值，k為序列號。

進一步的，所述確定所述隱含層及所述輸出層各自的傳遞函數包括：

確定所述隱含層的傳遞函數為雙曲正切S型tan-sig傳遞函數；